Politechnika Koszalińska
Wydział Inżynierii Lądowej, Środowiska i Geodezji
Geodezja i Kartografia
Geodezja Inżynieryjna 2
Prowadzący: dr inż. Czesław Suchocki
Grupa 4
Sprawozdanie techniczne
Pomiar odchyleń od pionowości krawędzi budynku
Skład grupy:
Janczak Mateusz
Kubiak Wojciech
Marszałek Damian
Kurszewski Wojciech
Spis treści
Wstęp...........................................................................................................
Wybór punktów obserwowanych na krawędzi budynku.............................
Dziennik pomiaru pionowości krawędzi budynku metodą bezpośredniego rzutowania....................................................................................................
Dziennik pomiaru pionowości krawędzi budynku metodą obserwacji kierunków poziomych..................................................................................
Szkic orientacyjny.........................................................................................
Pomiar metodą obserwacji kierunków poziomych......................................
Pomiar metodą bezpośredniego rzutowania...............................................
Średnie wartości wysokości poszczególnych punktów................................
Zestawienie odchyleń krawędzi budynku od pionowości............................
Ocena dokładności......................................................................................
1. Wstęp
Na pierwszych terenowych laboratoriach z Geodezji Inżynieryjnej 2 prowadzonej przez dr inż. Czesława Suchockiego, naszym zadaniem był pomiar krawędzi budynku w celu sprawdzenia odchyleń od pionowości. Tego dnia panowały przyzwoite warunki atmosferyczne. Po wstępnym zapoznaniu się z problematyką i zasadami pomiarów oraz pobraniu sprzętu z instrumentarium, przystąpiliśmy do wyboru w terenie krawędzi budynku objętego pomiarem oraz doboru punktów obserwowanych. Pomiary były przeprowadzane z dwóch stanowisk zlokalizowanych w odległości około 30 metrów, za pomocą dwóch teodolitów Theo 020,ruletki a także łaty niwelacyjnej. W trakcie badań odchyleń w jednym z teodolitów został wykryty błąd kolimacji rzędu 5cc.
2. Wybór punktów obserwowanych na krawędzi budynku
W celu pomiaru punków, które można jednoznacznie zidentyfikować z dwóch stanowisk pomiarowych oraz jednocześnie były stosunkowo równomiernie rozłożone na całej krawędzi budynku, wybraliśmy miejsca złączeń płyt tworzących elewację ściany. Na poniższym zdjęciu zaprezentowane są wybrane poziomy i punkty pomiarowe.
6. Pomiar metodą obserwacji kierunków poziomych
Odchylenie punktu na i-tym poziomie względem poziomu zerowego.
WYi = d* tgαi = d*$\frac{\text{Δαi}}{\rho}$
d= 31,20m ρ= 63,6620
Wartości kątowe wychylenia
Δα1=-40cc
Δα2=-40cc
Δα3=-65cc
Δα4=-1c15cc
Poziom | Wx(mm) |
---|---|
p0 | 0 |
p1 | -2 |
p2 | -2 |
p3 | -3 |
p4 | -6 |
Obliczenie wysokości budynku z pierwszego stanowiska.
H= d*(tgαi+tgα0)
Nr pkt | Kąt α | H(m) | Hzred (m) |
---|---|---|---|
p0 | -0,8390g | -0,41 | 0,00 |
p1 | 3,9280g | 1,93 | 2,34 |
p2 | 8,6990g | 4,29 | 4,70 |
p3 | 13,2930g | 6,61 | 7,02 |
p4 | 17,8510g | 8,98 | 9,39 |
7. Pomiar metodą bezpośredniego rzutowania
Odchylenie punktu na i-tym poziomie względem poziomu zerowego metodą bezpośredniego rzutowania.
Wyi= Oi-O0
Poziom | Wartość liniowa wychylenia (mm) |
---|---|
p0 | 0 |
p1 | 1 |
p2 | 7 |
p3 | 10 |
p4 | 18 |
Obliczenie wysokości budynku z drugiego stanowiska.
Nr pkt | Kąt α | H (m) | Hzred (m) |
---|---|---|---|
p0 | 3,6510g | 1,94 | 0,00 |
p1 | 8,2750g | 4,33 | 2,39 |
p2 | 12,8560g | 6,94 | 5,00 |
p3 | 17,2350g | 9,41 | 7,47 |
p4 | 21,5430g | 11,93 | 9,99 |
Określenie odległości pomiędzy stanowiskiem a budynkiem metodą pośrednią.
lł = d*(tgαł+tnα0)
d=$\frac{Ll\ }{(tn\alpha l + tn\alpha o)}$
αł= 101,1100g
α0= 95,4800g
d= 33,88m
8. Średnie wartości wysokości poszczególnych punktów
Nr punktu | Stanowisko 1 (m) | Stanowisko 2 (m) | Hzred średnie (m) |
---|---|---|---|
p0 | 0,00 | 0,00 | 0,00 |
p1 | 2,34 | 2,39 | 2,36 |
p2 | 4,70 | 5,00 | 4,85 |
p3 | 7,02 | 7,47 | 7,24 |
p4 | 9,39 | 9,99 | 9,69 |
9. Zestawienie odchyleń krawędzi budynku od pionowości
Wx - metoda obserwacji kierunków poziomych
Wy - metoda bezpośredniego rzutowania
W= $\sqrt{\text{Wx}^{2} + \ \text{Wy}^{2}}$
Nr pkt. | Wx (mm) | Wy (mm) | W (mm) | Hzred (m) |
---|---|---|---|---|
p0 | - | - | - | 0,00 |
p1 | -2 | 1 | 2 | 2,36 |
p2 | -2 | 7 | 7 | 4,85 |
p3 | -3 | 10 | 10 | 7,24 |
p4 | -6 | 18 | 19 | 9,69 |
10. Ocena dokładności
Dane:
d= 31,20m
Δα= -0,0115g
md= ±0, 05m
mα= ±20cc
mO=±0, 002m
lł=3,000m
αł= 101,1100g
α0= 95,4800g
Metoda obserwacji kierunków poziomych
Wy= d* $\frac{\text{Δα}}{\rho}$
m2wy= ($\frac{\partial Wy}{\partial d}$)2*m2d +( $\frac{\partial Wy}{\partial\Delta\alpha}$)2*m2Δα
m2Wy= ($\frac{\text{Δα}}{\rho}$)2* m2d*d2 *m2Δα
m2Wy=($\frac{0,0115}{63,6620}$)2*0,052+31,202*($\frac{0,0020}{63,6620}$)2
mWy= ± 0,00098m≈±1mm
Metoda bezpośredniego rzutowania
wy= Oi-O0
m2wy= ($\frac{\partial Wy}{\partial 0i}$)2*m2Oi+( $\frac{\partial Wy}{\partial Oo}$)2*m2Oo
mWy=$\ \pm \sqrt{m_{\text{Oi}}^{2} + m_{\text{Oo}}^{2}}$
mWy=$\pm \sqrt{2m_{O}^{2}}$=$\ \pm m_{O}^{}\sqrt{2}$
mWy=±2$\sqrt{\mathbf{2}}$= ±3mm
Odległość wyznaczona metoda pośrednia
d=$\frac{ll}{tg\alpha l + tn\alpha 0}$
m2d= ($\frac{\partial d}{\partial ll}$)2*m2lł+($\frac{\partial d}{\partial\alpha l}$)2*m2αł+($\frac{\partial d}{\partial\alpha 0}$)2*m2α0
m2d= ($\frac{l}{\tan\alpha l + tan\alpha 0})$2*m2lł+($\frac{{- l}_{L}^{2}}{\cos^{4}\alpha l\left( \tan\alpha l + tan\alpha 0 \right)\hat{}4}$)* m2αł
+($\frac{{- l}_{L}^{2}}{\cos^{4}\alpha 0\left( \tan\alpha l + tan\alpha 0 \right)\hat{}4}$) *m2α0
m2d= 36
1,11
4,52
1020,100061
-0,000144514
-0,000145891