zgład – bryła, która ma jedną powierzchnię specjalnie przygotowaną do badań mikros. Szlifuje się powierzchnie papierami i proszkami ściernymi lub pastami diamentowymi i poleruje mikroproszkami o wielkości ziaren rzędu µm lub poniżej. Bada się je w świetle odbitym szlif – cienkie przeświecalne płytki lub folie o grubości kilku µm wycięte z badanego materiału, ścierane, szlifowane, polerowane służą do badań w świetle przechodzącym mikroskopami biologicznymi i transmisyjnej mikros. elektro. mikrostruktura- skala wielkości ziaren struktura – skala atomowa, skala budowy krystalitów (odległość płaszczyzn sieciowych, zdefektowania punktowego, liniowego) zdolność akomodacyjna – zdolność do zmiany ogniskowej soczewki ocznej, umożliwia obserwowanie w różnych odległościach od oka, zbliżanie powoduje zwiększenie kąta widzenia czyli następuje powiększenie elementu i zwiększenie wysiłku akomodacyjnego punkt bliży – najmniejsza odległość przedmiotu do oka, przy której jeszcze przedmiot ostro widzimy, oko doznaje największego wysiłku akomodacyjnego powiększenie lupy – P=D/f=250/f 1\f=(n-1)(1/r1+1/r2) Jeden zespół optyczny tworzy układ soczewek obiektywowych tworzących obiektyw o ogniskowej f_ob i drugi zespół tworzący okular f_ok. Znajdują się one w ściśle określonej odległości od siebie charakteryzowanej przez tubus optyczny mikroskopu Δ czyli odległość między ogniskiem obrazowym obiektywu a ogniskiem przedmiotowym okularu

całkowite powiększenie mikroskopu: G_m=250/F_m= 250/f_ok*Δ/f_ob=G_ok*β_ob tubus mechaniczny – odległość między płaszczyznami oporowymi obiektywu i okularu w tubusie, cecha charakteryzująca obiektwy przesłona aperturowa – przesłona która najbardziej ogranicza rozwartość pęku promieni wychodzących z punktu leżącego na osi optycznej.

promień apertur owy – skrajny promień wiązki wychodzący z punktu na osi optycznej kąt apertur owy (u) – kąt między osią optyczną a promieniem aperturowym

apertura numeryczna – parametr określający zdolność układu optycznego do przyjmowania strumienia świetlnego A=n*sin(u), przyjmuje wartośc od 0,1 – 1,6 decyduje o:

* jasność obrazów B_m=250²KB_oA²/G²_m , Bo – jasność przedmiotu oglądanego okiem bez przyrządów ptycznych

K – stała uwzględniająca wpływ innych czynników

*zdolność rozdzielcza – minimalna odległość dwóch punktów przedmiotu poniżej której ich obrazy nie dają się obserwować oddzielnie – ograniczona przez dyfrakcję (jasna plamka otoczona kilkoma jasnymi pierścieniami d=λ/2A, dla ciał oświetlonych L d=3 λ/4A, dla ciał świecących i oświetlonych d=λ/(2nsin(u)), zdolnośc można zwiększyć: - zmniejszając długość fali światła, -zwiększając kąt apertur owy u, -stosując ciecze immersyjne – stosując oświetlenie skośne, max do 0,25µm *głębia ostrości – odległość na jaką mogą być przesunięte elementy przedmiotu za lub przed płaszczyznę przedmiotową, przy której nie zmienia się ostrości obrazu, głębia geometryczna: T_g= n*250*ε/AG_m dyfrakcyjna: T_d=nλ/2A², fizjologiczna: T_r=43,7/G²_m, ε- kąt zdolności rozdzielczej oka 2’-4’

*powiększenie użyteczne mikroskopu ω=d/D, ω’=G_md/D, $2^{'} \leq \frac{\text{Gmλ}}{2AD}*3438 \leq 4'$, 500A ≤ G_m ≤ 1000A, Jeżeli Gm jest większe od górnej wartości to nie ujawniają się nowe szczegóły preparatu, jeżeli jest mniejsze od dolnej to nie wykorzystuje się zdolności powiększającej, zdolności rozdzielczej, jest mała głębia ostrości, zwiększona jasność Oznakowanie: -nazwa rodzaju układu optycznego (Plan – plan achromatyczny, Apo – apochromatyczny, bez opisu – achromatyczny) - powiększenie własne – apertura numeryczna – rodzaj ośrodka imersujnego (WI- woda, bez – powietrze) – długośc mechaniczna tubusa – grubośc szkiełka nakrywkowego

prędkości: stal – cl=6000m/s, ct=3200, PMM Cl=2700, ct=1100, woda-cl=1480,powietrze cl=330

rodzaje fal: podłużna – cząstki ośrodka drgają prostoliniowo zgodnie z kierunkiem rozchodzenia się fali, powstają na przemian zagęszczenia i rozrzedzenia cząstek ośr. poprzeczne – fale ścinania, powodują naprężenia styczne, nie ma zmian gęstości ośr. czastki drgają w płaszczyźnie prostopadłej do kierunku rozchodzenia się fali, TYLKO w ośrodkach stałych, powierzchniowe (Reyleigha) rozchodzą się na powierzchni swobodnej ciała stałego wnikając na głębokośc ok. jednej dł fali. , podpowierzchniowe, płytowe, Love’a zastosowanie: badanie mikrostruktury, moduł sprężystości, współczynnik tłumienie, zawartośc domieszek, gęstośc dyslokacja, średnia wielkość ziarn, mechanizm powstawania i poruszania się dyslokacji, w płynach: lepkość, ściśliwość, koncentracja zawiesin tłumienie fal – to spadek ciśnienia fali na skutek procesów pochłaniania i rozpraszania. Każda substancja posiada swoje widmo drgań własnych – stan równowagi temodyn. Pobudzenie ciała do drgań z inną częstotliwością stanowi odchylenie od st. równowagi. Tłumienie określa się jako przemianę części energii fal o danej czestot. na energię drgań o innych cz. z regołu na energię drgań cieplnych. Występuje tłumienie termosprężyste. Gdy przez materiał przechodzi fala, w miejscach w których nastepuje zagęszczenie materiału zachodzi podwyższenie temp. Na skutek przewodności rozchodzi się z obszarów ogrzanych do oziębionych.Wielkość strat zalezy d cz. fali. Charakterystyczne jest dla fal podłużnych. Tłumienie od zjawisk relaksacji strukturalnej – energia fal może być zużyta na przejście do wyższych stanów energtet.: zmiana położenia atomu międzywęzłowego lub przejście z jednej konfig makroczdo drugiej. Tłumienie może być spowodowane dyslokacjami, domieszkami i granicami ziaren. Dla wysokich cz. zaczyna występować zjawisko rozproszenia fali. Na granicy ziaren następuje częściowe odbicie fal przy czym we wszystkich kierunkach.

Zasada działania defektoskopu – generator generuje impulsy wysokiego napięcia o czasie trwania kilku µs i cz. 400Hz regulowane potencjometrem. Podawane są na przetwornik piezoelektryczny który pod wpływem impulsu zaczyna drgać z cz. drgań własnych. Drganiom tym towarzyszą drgania elektryczne w obwodzie LC a przewodząca próbka ciała badanego przez kontakt z zewnętrzną obudową przetwornika zamyka obwód. Sygnał napięciowy podawany jest na wzmacniacz a nastepnie na okładki pionowego odchylenia oscyloskopu. Przetwornik na który podawane są impulsy wysyła impulsy fal utra. Pomiędzy generowaniem impulsu przetwornik pozostaje w spoczynku. Jeśli w tym czasie dotrze do niego impuls fal odbitych to przetwornik wytworzy impuls elektr. który po wzmocnieniu i detekcji powoduje wychylenie pionowe strumienia elektronów lampy oscyloskopu

Metoda echa – jeżeli głowice pobudzimy do impulsem elektr, to płytka piezoelektr. wykona kilka drgań o cz. rezonansowej. Drgania płytki przeniosą się do badanego ośrodka, tworząc falę ultrad. Jeśli na drodze fali znajdzie się przeszkoda, to pewna cześć energii fali wróci do głowicy w postaci fali odbitej. Fala odbita pobudzi do drgań płytkę głowicy – powstanie impuls elektryczny tzn impuls echa wady. Przez pomiar czasu Δt między impulsem nadawczym a impulsem scha wady można wyznaczyć odległość wady od głowicy 2l=Δt*c Metoda przepuszczenia polega na wprowadzeniu fal ultradźwiękowych z jednej strony i odbieraniu ich po przejściu przez przedmiot po stronie przeciwnej. *Obserwuje się przy tym zmianę natężenia przechodzących ultradźwięków, gdyż każda nieciągłość na ich drodze powoduje osłabienie fali. *Metoda przepuszczania nie pozwala na lokalizację wykrytych wad. *Metoda przepuszczania wykorzystywana jest także do pomiarów czasu przejścia fali szczególnie przez materiały silnie tłumiące. W tym przypadku, ultradźwięki przebiegają przez próbkę tylko jednokrotnie i nie ulegają tak znacznemu lub nawet całkowitemu osłabieniu, które może mieć miejsce przy badaniu metodą echa, kiedy to fale przechodzą przez przedmiot dwukrotnie.