fizyka,materialo,grafika,metrologiawyklady

fizyka II

1.pochlaniaie promieniowania X
2. fala, opis równanie
3.równainie gazu doskonalego
4.liczba avogadro
5. energia calkowita ruchu harmonicznego
6.prawo wiena
2 otwarte jedno z obliczaniem czestotliwosci fali, a drugie nie pamietam

2 otwarte to bylo: jaka musi byc predkosc jakiegos tam ciala, aby nieruchomy obserwator uznal, ze jest krotsze o polowe. Cos takiego. Podobne do tego z tym pretem, z wykladu, tylko tu trzeba obliczyc, jak dobrze pamietam predkosc, jaka czesc c.


"0" 3 zjawiska opisujące fale
zjawisko dopplera



Oscylator harmoniczny X=Acos(ωot+φ
ωo-pulsacja drgań ωo=2π/t φ- wstępne położenie
Promień wodzący- promień łączący środek okręgu, po którym rusza się ciało, z tym ciałem v=dx/dt=-Aω0sin(ω0t+ φ
Ruch harmoniczny prosty F=-kx (k-współczynnik sprężystości) to ruch w którym siła działająca jest proporcjonalna do wychylenia z położenia równowagi i skierowana w stronę położenia równowagi
Fala - zaburzenie rozchodzące się w ośrodku, przy czym żadna część ośrodka nie wykonuje zbyt dużego ruchu. Rozchodzi się w przestrzeni niosąc ze sobą energię, ale niekoniecznie materię
Ruch fali - nie jest tym samym co ruch materii, w której fala się przemieszcza
Fala mechaniczna - nazywamy ją poprzeczną, gdy zaburzenie cząsteczek ośrodka jest prostopadłe do kier. rozchodzenia się fali, a podłużną gdy jest równoległe.
Równanie ogólne fali x=Acosω0(t-τ=Acosω0(t-y/v) Równanie fali y=Acosω0(t x/v) λ=v*T długość fali (m)
Powierzchnia falowa- powierzchnia utworzona z punktów ośrodka znajdujących się w tej samej fazie drgań
Fala kulista-fala której pow. falowe są kulami współśrodkowymi
Fala płaska- jej pow. falowe są zbiorem płaszczyzn równoległych
Czoło fali - pow. falowa najbardziej odległa od źródła fali
Zasada Huygensa każdy pkt. ośrodka do którego dociera czoło fali staje się źródłem nowej fali, która w ośrodku niedyspersyjnym jest falą kulistą (dyfrakcja ugięcie)
Prawo załamania sinα/sinβ=const.
Interferencja - zjawisko nakładania się fal, w wyniku którego może dojąć do wzmocnienia lub osłabienia fali. Zachodzi dla wszystkich rodzajów fal
Fala dźwiękowa Dźwięk - fala mech. podłużna, rozchodząca się w ośrodku materialnym, zakres częstotliw. 20Hz<f<20kHz (ucho ludzkie 16Hz-20kHz) Podział dźwięków interdźwięki<f<ultradźwięki
Prędkość dźwięku
c.stałe v=pi(E/φ E- moduł Younga, φ-gęstość
ciecze v=pi(K/φ K-moduł ściśliwości
gaz v=pi(γp/φ , p – ciśnienie γ=Cp/Cv
Cechy dźwięku -wysokość, barwa, natężenie
Efekt Dopplera -polega na powstawaniu różnicy częst. wysyłanej przez źródło fali oraz zarejestrowanej przez obserwatora, która porusza się względem źródła fali.



Teoria względności
-prędkość światła w próżni nie zależy od układu odniesienia(c=3*10'm/s)
-prawa fizyki są takie sam dla wszystkich obserwatorów, których układy odniesienia poruszają się względem siebie ze stałą prędkością (zasada względności) Wnioski: T. W. nie jest sprzeczna z mech. Newtona. Różnica jest znacząca tylko dla obiektów poruszających się z prędkością bliską v światła
Transformacja Lorentza - odpowiednik transf. Galileusza w szczególnej teorii względności 1. v ciała c jest taka sama w układzie spoczywającym jak i w układzie poruszającym się 2. czas nie jest pojęciem absolutnym (t’≠t) Czas t" mierzony w układzie O' nie jest równy czasowi w ukl.0
Skrócenie Lorentza
Długość obiektów poruszających się będzie mniejsza w kier. Ruchu lruchu=lspoczynku*pi(1-v2/c2)
Pęd ciała jeżeli masa m porusza się z v to: mo- masa ciała nieruchomego


p=mv E=mc2
Z prędkością światła mogą poruszać się jedynie obiekty o m=0
Termodynamika 1mol gazu - NA=6,023*1023 cząst/ mol (l. Avogadra)
Gaz doskonały – jego cząsteczki możemy traktować jako pakt materialne, które nie posiadają objętości, mają takie same masy -są w ciągłym chaotycznym ruchu, poza momentami zderzeń nie oddziaływujących ze sobą. -zderzenia cząst. są doskonałe sprężyste -po zderzeniu mają zbliżone prędkości
Gaz- masa, ciśnienie, temp, objętość
p=F/s [Pa=lN/lm2] 0k=-273oC (nie istnieje ruch)
Równanie stanu gazu doskonałego
pV=NkT , pV=nRT N-ilość cząst, k-l,38*10 "J/K n- ilość moli. R*,314J/mol*k
Ek=i/2(kT)=(i/2)*(mv2/2)
Ciało ogrzane do dostatecznie wysokiej tem wysyła prom widoczne (słońce, włókno żarówki)
Energia jest wysyłana porcjami. E=h*v=(hc)/λ v-częstotliwość, h st. Plancka (6,25*10-34 J*s)
Foton ma masę której nie można zważyć ale można wyliczyć.
Zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne polegające na emisji elektronów z powierzchni przedmiotu. (wewnętrzne: przeniesieniu nośników ładunku elektrycznego pomiędzy pasmami energetycznymi)
Uv a (400-320nm) b (320-280) c (280-220)


MATERIALOZNAWSTWO

1. Czynniki wpływające na proces krystalizacji.
2. Jak można regulować wielkość ziarna w metalach?
3. Struktura wlewka stalowego.
4. Zdefiniować pojęcia alotropii i anizotropii.
5. Scharakteryzować wiązania jonowe, atomowe i metaliczne ( na kolokwium będzie jedno)
6. Wiązania wtórne ( dwa)
7. Scharakteryzować metale, ceramikę, polimery ( na kolokwium będzie jedno)
8. Definicje :
- Gęstość
- Temperatura topnienia
- Pojemność i rozszerzalność cieplna,
- Skrawalność,
- Ścieralność
- Spawalność,
9. jakie własności można zdefiniować w próby rozciągania
10. Metody określenia twardości
11. Co to jest udarność
12. Zachowanie w niskich i wysokich temperaturach

Zadanie 2. - Prawidłowe

Sterując przechłodzeniem można regulować wielkość ziarna , przy nieznacznym przechłodzeniu liczba zarodków jest niewielka, powstaje struktura gruboziarnista, przy zwiększeniu przechłodzenia liczba zarodków jest znaczna i wzrost wolniejszy, powstaje struktura drobnoziarnista. Przy bardzo dużych szybkościach chłodzenia liczba zarodków i szybkość krystalizacji są równe zeru (0) metal ma strukturę amorficzną szkła.

jeżeli ktoś jeszcze nie ma definicji alotropii i anizotropii to tutaj wrzucam:
Alotropia- zjawisko występowania różnych odmian krystalograficznych tego samego pierwiastka chemicznego. Wiele pierwiastków przy nagrzewaniu i ochładzaniu, także poprzez zmianę ciśnienia ma zdolność do zmiany struktury krystalicznej. Pierwiastki takie noszą nazwę polimorficzne a ich odmiany o różnej budowie noszą nazwę odmian alotropowych. Odmiany alotropowe określa się greckimi literami rozpoczynając od odmian stabilnych. Dwie odmiany alotropowe mają żelazo, kobalt, cyrkon. Trzy odmiany: chrom, wapń. Cztery odmiany: mangan.
Anizotropia- to zależność własności od kierunku badania, co jest związane z prawidłowym rozmieszczeniem atomów w poszczególnych płaszczyznach i kierunkach. Anizotropia dotyczy własności fizycznych, np. magnetycznych, rozszerzalności cieplnej, przewodności cieplej i magnetycznej, własności chemicznych odporności korozyjnej, własności mechanicznych, np. wytrzymałości, twardość, wydłużenie i inne własności skalarne, czyli gęstość, pojemność cieplna, temp. Topnienia nie zależą od orientacji kryształów, tzn. są izotropowe. Własności izotropowe mają ciała amorficzne, nie mające struktury krystalicznej, charakteryzujące się chaotycznymi ułożeniem atomów.

6. zdefiniować hartowanie martenzytyczne i bainityczne
12. Rodzaje korozji ze względu na wygląd zewnętrzny
_________________

pytania:
żaroodporność
żarowytrzymałość
definicja stali
co to jest udarność
temperatura topnienia



METROLOGIA TECHNICZNA

- metoda różnicowa (definicja, opis, rysunek);
- jednostka miary;
- pomiar;
- wielkość;
- różnice między etalonem a metodą etalonową.

1.Metrologia i miernictwo – gałąź wiedzy i działalności człowieka obejmująca wszystko, co jest związane z pomiarami.
Metrologia jest jedną z niewielu dyscyplin działalności ludzkiej, która z założenia bada błędy swoich działań, przede wszystkim mierzenia, przetwarzania, odtwarzania, wzorcowania.
Panuje wśród metrologów zgoda co do tego, ze nieodłącznym składnikiem pomiaru jest ocena jego błędu, gdyż pomiary, mimo iż wciąż wzrastającej dokładności, dają i będą dawały wyniki obarczone błędami.
Istota metrologii jest więc to, że błąd (niepewność) pomiaru musi być zawsze szacowany ilościowo i podawany wraz z wynikiem pomiaru. SAM WYNIK POMIARU BEZ OSZACOWANIA BŁĘDU NIE MAŻADNEJ WARTOŚCI ANI PRAKTYCZNEJ ANI TEORETYCZNJ.
Informacja jest zdobywana w wyniku obserwacji, przekazywana, przetwarzana i przetwarzana dzięki rozmaitym urządzeniom technicznym zwielokrotniającym możliwości zmysłów i rozumu człowieka.
Obrazami przedmiotów rzeczywistych lub zjawisk są ich nazwy zwykle z określeniem lokalizacji i czasu. Obiektami pomiarów są cechy przedmiotów lub zjawisk (np. dla stołu). Obrazami tych cech (wielkości) są ich nazwy. zachowanie ścisłości i obiektywności obserwacji osiąga się przez stosowanie matematyki. Stąd obrazy zjawisk fizycznych nazywa się modelami matematycznymi.
Informacja – jest to taki kwant wielkości, który jest zdolny wywrzeć pożądany wpływ na określone zjawisko.
Zjawiskiem tym może być człowiek odbierający informacje, inny organizm żywy lub urządzenie działające wg. ustalonej zależności. Pojęcie informacji nabiera sensu gdy istnieją conajniej dwa stany wielkości, gdyż pożądany wpływ może wywrzeć jedynie zmiana stanu z jednego na drugi. Pozostawienie w jednym stanie nie może wywierać jakiegokolwiek wpływu.
Im więcej stanów może dana wielkość przyjmować, tym wywieranie wpływu jest bardziej różnorodne, tym większa jest ilość informacji. Miara informacji jest liczba stanów, które wielkość będąca źródłem lub nośnikiem informacji może przyjmować.
Zawartość informacji w zbiorze wielkości nie zależy od liczby elementów zbioru. Kryterium oceny zawartości informacji jest oderwanie od liczby elementów zbioru.
Uogólnienie obserwacji różnych zjawisk prowadzi do następujących stwierdzeń:
• W zbiorze wielkości skończonym lub nieskończonym zawartość informacji jest skończona
• Informacja ma z natury kwantowy charakter
• Do ustalenia zawartości informacji w zbiorze wielkości stosuje się kryterium racjonalne, które uwzględnia cel wykorzystania informacji.
Obserwacja – wyróżniamy obserwacje jakościowe i ilościowe.
Jakościowa: pozwalają tylko na uszeregowanie zjawisk wg. Ich cech charakterystycznych (np. kształtu). W wielu przypadkach taka informacja jest niepełna, niemogąca zadowolić obserwatora pod kątem jej wykorzystania praktycznego, np. w produkcji, czy diagnostyce. Uzupełnieniem jest:
Obserwacja ilościowa: dostarczająca danych ilościowych wyrażonych liczbami. Dane liczbowe mówią o stanie badanej wielkości, wyrażając stosunek ilości pewnej cechy obserwowanego obiektu, do innej wielkości możliwie niezmiennej o stałych własnościach, przyjmowanej jako wzorzec.
(RYSUNEK)
W pomiarze biorą udział dwa zbory wielkości: zbiór X, wielkość „x” (mierzona), zbiór W, Wielkości znane „w”, którego elementy są uporządkowane wg wartości i oznaczone wskaźnikiem „i”
Wielkość mierzona X stanowi skończony lub nieskończony zbiór ograniczony od góry i od dołu.
O zbiorze W zakłada się że jest zbiorem skończonym, to znaczy kolejne elementy różnią się miedzy sobą o wartość o 2Ei (Wi+1 – Wi = 2Ei) > 0 dla i=1 do i=n (Podstawowy postulat Metrologii!)
2Ei – próg nieczułości – wartość poniżej której przyrząd pomiarowy nie jest w stanie rozróżnić zmian wielkości wartości.
Pomiar – jest to proces poznawczy polegający na porównaniu z odpowiednia dokładności wartości wielkości mierzonej z pewna jej wartością reprezentowaną przez wzorzec przyjętą za jednostkę miary.
Wielkości- każda właściwość, cecha ciała lub zjawiska, która można określić: tylko jakościowo (wielkość niemierzalna) i jakościowo i ilościowo (wielkość mierzalna).
Przedmiotem pomiaru mogą być jedynie wartości szczegółowe w określonym miejscu, czasie i warunkach.
Etalon - narzędzie pomiarowe przeznaczone do określenia lub zrealizowania, zachowania lub odtwarzania jednostki miary określonej wielkości (albo jej wielokrotności lub podwielokrotności) w celu przekazywania jej przez porównanie innym narzędziem pomiarowym.
Metoda etalonowa - sposób odtwarzania jednostki miary, będący w stanie zastąpić etalon podstawowy przez wartości stałe pewnych wielkości ciał bądź przez stałe fizyczne.
Przykład: m. e. odtwarzania metra przez długości fal świetlnych.
2.Jednostki: podstawowe SI (7), uzupełniające SI (2) i pochodne SI wyrażone za pomocą iloczynów lub ilorazów jednostek podstawowych i uzupełniających wśród których można wyróżnić
• O nazwach specjalnych (19)
• Jednostki pochodne SI wybranych wielkości , nazwy wyrażone są za pomocą jednostek p. i u. oraz pochodnych o nazwach specjalnych.
• Jednostki nie należące do układu SI dopuszczone do stosowania na drodze rozporządzenia rady ministrów (53)
Wielokrotności jednostek miar- J.M * 10n n= od 1 do 24. Podwielokrotności J.M*10-n
Zadania metrologiczne- naukowe, urzędowo prawne, wynikające z udziału. Zadania metrologiczne – zadania których celem jest przygotowanie aparatury pomiarowej do pomiarów także zadania realizowane w procesie wytwarzania przyrządów pomiarowych i ich użytkowania są nimi wzorcowanie przyrządów pomiarowych, legalizacja pp.
Badanie własności metrologicznych pp. – sprawdzenie wskazań, badanie wyrobu, typu i specjalne.
Wzorcowanie przyrządu pomiarowego: ogół czynności mający na celu ustalenie i utrwalenie odpowiedniości między miarą wielkości a wskazaniem przyrządu pomiarowego. Miara wielkości jest odtwarzana przez wzorzec danej wielkości (etalon odpowiedniej klasy lub przyrząd wzorcowy). Wymaga się aby neidokłądność miary wzorca była o dwie klasy mniejsza od założonej klasy niedokładosci przyrządu wzorcowanego. Dowodem ze wzorcowanie przeprowadzono oraz ze sposób i czynności były prawidłowe jest protokół wzorcowania, który oprócz wyników powinien zawierać dane o przyrządzie wzorcowanym, wzorcu i stanowisku wzorcowania w warunkach i czynnościach.
Legalizacja pp. – ogół czynności urzędowych mających na celu stwierdzenie zgodności przyrządu pomiarowego z wymogami przepisów legalizacyjnych i udokumentowaniu tej zgodności. Jest to akt prawny.
Sprawdzenie przyrządów pomiarowych – co 6 lub 12 miesięcy lub częściej gdy istnieje podejrzenie że wskazania przyrządu obarczone są nadmiernymi błędami. Przez porównanie wskazań przyrządu sprawdzonego z wzorcem lub wskazaniami przyrządu wzorcowego.
3.a) Metoda pomiarowa bezpośredniego porównania: porównanie całkowitej wartości wielkości mierzonej X ze znaną wartością tej samej wielkości która w postaci wzorca wchodzi bez pośredniego pomiaru.
Cechy charakteryzujące: wzorzec W jest wzorcem wielomianowym. Jest równy lub większy od wartości mierzonej Przyrząd pomiarowy ma w swoim zakresie wartość zerową wielkości mierzonej. Jest to najprostsza metoda pomiarowa (wyjątek – maszyny pomiarowe) najczęściej stosowana i środki techniczne są najmniej skomplikowane. Wada: stosunkowo niska dokładność.
b) M pomiarowa różnicowa: odjęcie od wartości mierzonej X znanej wartości Xp i pomiarze metodą bezpośredniego porównania różnicy R=X-Xp (Xp – wartość wzorcowa)
(RYSUNEK) : D-Xp < Zakres pomiarowy czynnika. X= Xp +- Alfa.
Cechy charakterystyczne ww metody: -PP wykorzystuje *źródło integralne lub nie zależne wielkości porównawcze Xp; *Układ różnicowy wykonujący matematyczna operacje odejmowania; *miernik wychyłowy lub cyfrowy z własnym wzorcem.
- przyrządy czujnikowe są bardziej skomplikowane jednak bardziej dokładne niż we met. bez. porównania.
c) Metoda pomiarowa zerowa: gdy X-W=0 to X=W
Czynności badania różnicy i sprawdzenia jej do zera nazywane równoważnię są rozdzielone na dwa elementy funkcjonalne przyrządu: detektor zera (element lub zespół elementów który po doprowadzeniu do niej różnicy X-W zdolny jest sterować procesem równoważenia PP) i urządzenie równoważące.
Cechy charakterystyczne: budowa przyrządu, sposób wykonania pomiaru (ręczne lub automatyczne równoważenie przyrządu), dokładność metody zależy od dokładności wzorca W oraz progu nieczułości detektora Δ (X-W <= Δ (Δ – nieczułość detektora). Metoda najbardziej dokładna.


GRAFIKA INZYNIERSKA

Takie pytania były u Benka na ostatnim kole. Moze da to samo? ;]

1. Wymairy arkusza
2. Przekroje
3. Oznaczanie chropowatości
4. Linie warunkowe i ich zastosowanie


1. Podać wymiary A3x4 i co to oznacza
2. Do czego stosuje sie linie grube
3. Zwymiarowac rysunek
4. Co to jest przekrój prosty? Przykłądowy rysunek
5. Narysowac w uproszczeniu stopnia 1-szego połączenie dwoch blach z śrubą lutną, podkładka i naketka




Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
sprawozdanie3, Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fizyka - materiały
Fizyka materiały
Fizyka materiały
lab4, Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fizyka - materiały na labora
GM Fizyka Materialy dodatkowe
kolos, Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fizyka - materiały na labor
Wiązania krystaliczne, Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fizyka - ma
GM Fizyka Materialy dodatkowe
Wyklad34, Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fizyka - materiały na la
gi, Materiały, grafika inżynierska - dr inż. G. Jaworski
Fizyka materiały, Studia, Semestr 1, Fizyka
wyklad16, Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fizyka - materiały na la
WIEiK-cwiczenia(2), Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fizyka - mater
ROZDZIAŁ STRAT W MATERIAŁACH MAGNETYCZNYCH, METROL~1, Metrologia
magnetostatyka, Studia, Informatyka (PG Gdańsk), Fizyka, Materiały, Pomoce naukowe
Egz1DDD-2010, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Wykład, EGZAMINY z zeszły
Wyznaczanie mod. szczywności G, Transport UTP, semestr 1, ffiza, laborki różne, Laborki, Laborki, Fi