fizyka II
1.pochlaniaie
promieniowania X
2.
fala, opis równanie
3.równainie
gazu doskonalego
4.liczba
avogadro
5.
energia calkowita ruchu harmonicznego
6.prawo
wiena
2
otwarte jedno z obliczaniem czestotliwosci fali, a drugie nie
pamietam
2 otwarte to bylo: jaka musi byc predkosc jakiegos tam ciala, aby nieruchomy obserwator uznal, ze jest krotsze o polowe. Cos takiego. Podobne do tego z tym pretem, z wykladu, tylko tu trzeba obliczyc, jak dobrze pamietam predkosc, jaka czesc c.
"0"
3
zjawiska opisujące fale
zjawisko
dopplera
Oscylator
harmoniczny X=Acos(ωot+φ
ωo-pulsacja
drgań ωo=2π/t φ- wstępne położenie
Promień
wodzący- promień łączący środek okręgu, po którym rusza się
ciało, z tym ciałem v=dx/dt=-Aω0sin(ω0t+ φ
Ruch
harmoniczny prosty F=-kx (k-współczynnik sprężystości) to ruch w
którym siła działająca jest proporcjonalna do wychylenia z
położenia równowagi i skierowana w stronę położenia
równowagi
Fala
- zaburzenie rozchodzące się w ośrodku, przy czym żadna część
ośrodka nie wykonuje zbyt dużego ruchu. Rozchodzi się w
przestrzeni niosąc ze sobą energię, ale niekoniecznie materię
Ruch
fali - nie jest tym samym co ruch materii, w której fala się
przemieszcza
Fala
mechaniczna - nazywamy ją poprzeczną, gdy zaburzenie cząsteczek
ośrodka jest prostopadłe do kier. rozchodzenia się fali, a
podłużną gdy jest równoległe.
Równanie
ogólne fali x=Acosω0(t-τ=Acosω0(t-y/v) Równanie fali y=Acosω0(t
x/v) λ=v*T długość fali (m)
Powierzchnia
falowa- powierzchnia utworzona z punktów ośrodka znajdujących się
w tej samej fazie drgań
Fala
kulista-fala której pow. falowe są kulami współśrodkowymi
Fala
płaska- jej pow. falowe są zbiorem płaszczyzn równoległych
Czoło
fali - pow. falowa najbardziej odległa od źródła fali
Zasada
Huygensa każdy pkt. ośrodka do którego dociera czoło fali staje
się źródłem nowej fali, która w ośrodku niedyspersyjnym jest
falą kulistą (dyfrakcja ugięcie)
Prawo
załamania sinα/sinβ=const.
Interferencja
- zjawisko nakładania się fal, w wyniku którego może dojąć do
wzmocnienia lub osłabienia fali. Zachodzi dla wszystkich rodzajów
fal
Fala
dźwiękowa Dźwięk - fala mech. podłużna, rozchodząca się w
ośrodku materialnym, zakres częstotliw. 20Hz<f<20kHz (ucho
ludzkie 16Hz-20kHz) Podział dźwięków
interdźwięki<f<ultradźwięki
Prędkość
dźwięku
c.stałe
v=pi(E/φ E- moduł Younga, φ-gęstość
ciecze
v=pi(K/φ K-moduł ściśliwości
gaz
v=pi(γp/φ , p – ciśnienie γ=Cp/Cv
Cechy
dźwięku -wysokość, barwa, natężenie
Efekt
Dopplera -polega na powstawaniu różnicy częst. wysyłanej przez
źródło fali oraz zarejestrowanej przez obserwatora, która porusza
się względem źródła fali.
Teoria
względności
-prędkość
światła w próżni nie zależy od układu
odniesienia(c=3*10'm/s)
-prawa
fizyki są takie sam dla wszystkich obserwatorów, których układy
odniesienia poruszają się względem siebie ze stałą prędkością
(zasada względności) Wnioski: T. W. nie jest sprzeczna z mech.
Newtona. Różnica jest znacząca tylko dla obiektów poruszających
się z prędkością bliską v światła
Transformacja
Lorentza - odpowiednik transf. Galileusza w szczególnej teorii
względności 1. v ciała c jest taka sama w układzie spoczywającym
jak i w układzie poruszającym się 2. czas nie jest pojęciem
absolutnym (t’≠t) Czas t" mierzony w układzie O' nie jest
równy czasowi w ukl.0
Skrócenie
Lorentza
Długość
obiektów poruszających się będzie mniejsza w kier. Ruchu
lruchu=lspoczynku*pi(1-v2/c2)
Pęd
ciała jeżeli masa m porusza się z v to: mo- masa ciała
nieruchomego
p=mv
E=mc2
Z
prędkością światła mogą poruszać się jedynie obiekty o
m=0
Termodynamika
1mol gazu - NA=6,023*1023 cząst/ mol (l. Avogadra)
Gaz
doskonały – jego cząsteczki możemy traktować jako pakt
materialne, które nie posiadają objętości, mają takie same masy
-są w ciągłym chaotycznym ruchu, poza momentami zderzeń nie
oddziaływujących ze sobą. -zderzenia cząst. są doskonałe
sprężyste -po zderzeniu mają zbliżone prędkości
Gaz-
masa, ciśnienie, temp, objętość
p=F/s
[Pa=lN/lm2] 0k=-273oC (nie istnieje ruch)
Równanie
stanu gazu doskonałego
pV=NkT
, pV=nRT N-ilość cząst, k-l,38*10 "J/K n- ilość moli.
R*,314J/mol*k
Ek=i/2(kT)=(i/2)*(mv2/2)
Ciało
ogrzane do dostatecznie wysokiej tem wysyła prom widoczne (słońce,
włókno żarówki)
Energia
jest wysyłana porcjami. E=h*v=(hc)/λ v-częstotliwość, h st.
Plancka (6,25*10-34 J*s)
Foton
ma masę której nie można zważyć ale można wyliczyć.
Zjawisko
fotoelektryczne zewnętrzne polegające na emisji elektronów z
powierzchni przedmiotu. (wewnętrzne: przeniesieniu nośników
ładunku elektrycznego pomiędzy pasmami energetycznymi)
Uv
a (400-320nm) b (320-280) c (280-220)
MATERIALOZNAWSTWO
1.
Czynniki wpływające na proces krystalizacji.
2.
Jak można regulować wielkość ziarna w metalach?
3.
Struktura wlewka stalowego.
4.
Zdefiniować pojęcia alotropii i anizotropii.
5.
Scharakteryzować wiązania jonowe, atomowe i metaliczne ( na
kolokwium będzie jedno)
6.
Wiązania wtórne ( dwa)
7.
Scharakteryzować metale, ceramikę, polimery ( na kolokwium będzie
jedno)
8.
Definicje :
-
Gęstość
-
Temperatura topnienia
-
Pojemność i rozszerzalność cieplna,
-
Skrawalność,
-
Ścieralność
-
Spawalność,
9.
jakie własności można zdefiniować w próby rozciągania
10.
Metody określenia twardości
11.
Co to jest udarność
12.
Zachowanie w niskich i wysokich temperaturach
Zadanie
2. - Prawidłowe
Sterując
przechłodzeniem można regulować wielkość ziarna , przy
nieznacznym przechłodzeniu liczba zarodków jest niewielka, powstaje
struktura gruboziarnista, przy zwiększeniu przechłodzenia liczba
zarodków jest znaczna i wzrost wolniejszy, powstaje struktura
drobnoziarnista. Przy bardzo dużych szybkościach chłodzenia liczba
zarodków i szybkość krystalizacji są równe zeru (0) metal ma
strukturę amorficzną szkła.
jeżeli
ktoś jeszcze nie ma definicji alotropii i anizotropii to tutaj
wrzucam:
Alotropia-
zjawisko występowania różnych odmian krystalograficznych tego
samego pierwiastka chemicznego. Wiele pierwiastków przy nagrzewaniu
i ochładzaniu, także poprzez zmianę ciśnienia ma zdolność do
zmiany struktury krystalicznej. Pierwiastki takie noszą nazwę
polimorficzne a ich odmiany o różnej budowie noszą nazwę odmian
alotropowych. Odmiany alotropowe określa się greckimi literami
rozpoczynając od odmian stabilnych. Dwie odmiany alotropowe mają
żelazo, kobalt, cyrkon. Trzy odmiany: chrom, wapń. Cztery odmiany:
mangan.
Anizotropia-
to zależność własności od kierunku badania, co jest związane z
prawidłowym rozmieszczeniem atomów w poszczególnych płaszczyznach
i kierunkach. Anizotropia dotyczy własności fizycznych, np.
magnetycznych, rozszerzalności cieplnej, przewodności cieplej i
magnetycznej, własności chemicznych odporności korozyjnej,
własności mechanicznych, np. wytrzymałości, twardość,
wydłużenie i inne własności skalarne, czyli gęstość, pojemność
cieplna, temp. Topnienia nie zależą od orientacji kryształów,
tzn. są izotropowe. Własności izotropowe mają ciała amorficzne,
nie mające struktury krystalicznej, charakteryzujące się
chaotycznymi ułożeniem atomów.
6.
zdefiniować hartowanie martenzytyczne i bainityczne
12.
Rodzaje korozji ze względu na wygląd zewnętrzny
_________________
pytania:
żaroodporność
żarowytrzymałość
definicja
stali
co
to jest udarność
temperatura
topnienia
METROLOGIA TECHNICZNA
-
metoda różnicowa (definicja, opis, rysunek);
-
jednostka miary;
-
pomiar;
-
wielkość;
-
różnice między etalonem a metodą etalonową.
1.Metrologia
i miernictwo – gałąź wiedzy i działalności człowieka
obejmująca wszystko, co jest związane z pomiarami.
Metrologia
jest jedną z niewielu dyscyplin działalności ludzkiej, która z
założenia bada błędy swoich działań, przede wszystkim
mierzenia, przetwarzania, odtwarzania, wzorcowania.
Panuje
wśród metrologów zgoda co do tego, ze nieodłącznym składnikiem
pomiaru jest ocena jego błędu, gdyż pomiary, mimo iż wciąż
wzrastającej dokładności, dają i będą dawały wyniki obarczone
błędami.
Istota
metrologii jest więc to, że błąd (niepewność) pomiaru musi być
zawsze szacowany ilościowo i podawany wraz z wynikiem pomiaru. SAM
WYNIK POMIARU BEZ OSZACOWANIA BŁĘDU NIE MAŻADNEJ WARTOŚCI ANI
PRAKTYCZNEJ ANI TEORETYCZNJ.
Informacja
jest zdobywana w wyniku obserwacji, przekazywana, przetwarzana i
przetwarzana dzięki rozmaitym urządzeniom technicznym
zwielokrotniającym możliwości zmysłów i rozumu człowieka.
Obrazami
przedmiotów rzeczywistych lub zjawisk są ich nazwy zwykle z
określeniem lokalizacji i czasu. Obiektami pomiarów są cechy
przedmiotów lub zjawisk (np. dla stołu). Obrazami tych cech
(wielkości) są ich nazwy. zachowanie ścisłości i obiektywności
obserwacji osiąga się przez stosowanie matematyki. Stąd obrazy
zjawisk fizycznych nazywa się modelami matematycznymi.
Informacja
– jest to taki kwant wielkości, który jest zdolny wywrzeć
pożądany wpływ na określone zjawisko.
Zjawiskiem
tym może być człowiek odbierający informacje, inny organizm żywy
lub urządzenie działające wg. ustalonej zależności. Pojęcie
informacji nabiera sensu gdy istnieją conajniej dwa stany wielkości,
gdyż pożądany wpływ może wywrzeć jedynie zmiana stanu z jednego
na drugi. Pozostawienie w jednym stanie nie może wywierać
jakiegokolwiek wpływu.
Im
więcej stanów może dana wielkość przyjmować, tym wywieranie
wpływu jest bardziej różnorodne, tym większa jest ilość
informacji. Miara informacji jest liczba stanów, które wielkość
będąca źródłem lub nośnikiem informacji może
przyjmować.
Zawartość
informacji w zbiorze wielkości nie zależy od liczby elementów
zbioru. Kryterium oceny zawartości informacji jest oderwanie od
liczby elementów zbioru.
Uogólnienie
obserwacji różnych zjawisk prowadzi do następujących
stwierdzeń:
•
W zbiorze wielkości skończonym lub nieskończonym zawartość
informacji jest skończona
•
Informacja ma z natury kwantowy charakter
•
Do ustalenia zawartości informacji w zbiorze wielkości stosuje się
kryterium racjonalne, które uwzględnia cel wykorzystania
informacji.
Obserwacja
– wyróżniamy obserwacje jakościowe i ilościowe.
Jakościowa:
pozwalają tylko na uszeregowanie zjawisk wg. Ich cech
charakterystycznych (np. kształtu). W wielu przypadkach taka
informacja jest niepełna, niemogąca zadowolić obserwatora pod
kątem jej wykorzystania praktycznego, np. w produkcji, czy
diagnostyce. Uzupełnieniem jest:
Obserwacja
ilościowa: dostarczająca danych ilościowych wyrażonych liczbami.
Dane liczbowe mówią o stanie badanej wielkości, wyrażając
stosunek ilości pewnej cechy obserwowanego obiektu, do innej
wielkości możliwie niezmiennej o stałych własnościach,
przyjmowanej jako wzorzec.
(RYSUNEK)
W
pomiarze biorą udział dwa zbory wielkości: zbiór X, wielkość
„x” (mierzona), zbiór W, Wielkości znane „w”, którego
elementy są uporządkowane wg wartości i oznaczone wskaźnikiem
„i”
Wielkość
mierzona X stanowi skończony lub nieskończony zbiór ograniczony od
góry i od dołu.
O
zbiorze W zakłada się że jest zbiorem skończonym, to znaczy
kolejne elementy różnią się miedzy sobą o wartość o 2Ei (Wi+1
– Wi = 2Ei) > 0 dla i=1 do i=n (Podstawowy postulat
Metrologii!)
2Ei
– próg nieczułości – wartość poniżej której przyrząd
pomiarowy nie jest w stanie rozróżnić zmian wielkości
wartości.
Pomiar
– jest to proces poznawczy polegający na porównaniu z odpowiednia
dokładności wartości wielkości mierzonej z pewna jej wartością
reprezentowaną przez wzorzec przyjętą za jednostkę miary.
Wielkości-
każda właściwość, cecha ciała lub zjawiska, która można
określić: tylko jakościowo (wielkość niemierzalna) i jakościowo
i ilościowo (wielkość mierzalna).
Przedmiotem
pomiaru mogą być jedynie wartości szczegółowe w określonym
miejscu, czasie i warunkach.
Etalon
- narzędzie pomiarowe przeznaczone do określenia lub zrealizowania,
zachowania lub odtwarzania jednostki miary określonej wielkości
(albo jej wielokrotności lub podwielokrotności) w celu
przekazywania jej przez porównanie innym narzędziem pomiarowym.
Metoda
etalonowa - sposób odtwarzania jednostki miary, będący w stanie
zastąpić etalon podstawowy przez wartości stałe pewnych wielkości
ciał bądź przez stałe fizyczne.
Przykład:
m. e. odtwarzania metra przez długości fal świetlnych.
2.Jednostki:
podstawowe SI (7), uzupełniające SI (2) i pochodne SI wyrażone za
pomocą iloczynów lub ilorazów jednostek podstawowych i
uzupełniających wśród których można wyróżnić
•
O nazwach specjalnych (19)
•
Jednostki pochodne SI wybranych wielkości , nazwy wyrażone są za
pomocą jednostek p. i u. oraz pochodnych o nazwach specjalnych.
•
Jednostki nie należące do układu SI dopuszczone do stosowania na
drodze rozporządzenia rady ministrów (53)
Wielokrotności
jednostek miar- J.M * 10n n= od 1 do 24. Podwielokrotności
J.M*10-n
Zadania
metrologiczne- naukowe, urzędowo prawne, wynikające z udziału.
Zadania metrologiczne – zadania których celem jest przygotowanie
aparatury pomiarowej do pomiarów także zadania realizowane w
procesie wytwarzania przyrządów pomiarowych i ich użytkowania są
nimi wzorcowanie przyrządów pomiarowych, legalizacja pp.
Badanie
własności metrologicznych pp. – sprawdzenie wskazań, badanie
wyrobu, typu i specjalne.
Wzorcowanie
przyrządu pomiarowego: ogół czynności mający na celu ustalenie i
utrwalenie odpowiedniości między miarą wielkości a wskazaniem
przyrządu pomiarowego. Miara wielkości jest odtwarzana przez
wzorzec danej wielkości (etalon odpowiedniej klasy lub przyrząd
wzorcowy). Wymaga się aby neidokłądność miary wzorca była o
dwie klasy mniejsza od założonej klasy niedokładosci przyrządu
wzorcowanego. Dowodem ze wzorcowanie przeprowadzono oraz ze sposób i
czynności były prawidłowe jest protokół wzorcowania, który
oprócz wyników powinien zawierać dane o przyrządzie wzorcowanym,
wzorcu i stanowisku wzorcowania w warunkach i
czynnościach.
Legalizacja
pp. – ogół czynności urzędowych mających na celu stwierdzenie
zgodności przyrządu pomiarowego z wymogami przepisów
legalizacyjnych i udokumentowaniu tej zgodności. Jest to akt
prawny.
Sprawdzenie
przyrządów pomiarowych – co 6 lub 12 miesięcy lub częściej gdy
istnieje podejrzenie że wskazania przyrządu obarczone są
nadmiernymi błędami. Przez porównanie wskazań przyrządu
sprawdzonego z wzorcem lub wskazaniami przyrządu wzorcowego.
3.a)
Metoda pomiarowa bezpośredniego porównania: porównanie całkowitej
wartości wielkości mierzonej X ze znaną wartością tej samej
wielkości która w postaci wzorca wchodzi bez pośredniego
pomiaru.
Cechy
charakteryzujące: wzorzec W jest wzorcem wielomianowym. Jest równy
lub większy od wartości mierzonej Przyrząd pomiarowy ma w swoim
zakresie wartość zerową wielkości mierzonej. Jest to najprostsza
metoda pomiarowa (wyjątek – maszyny pomiarowe) najczęściej
stosowana i środki techniczne są najmniej skomplikowane. Wada:
stosunkowo niska dokładność.
b)
M pomiarowa różnicowa: odjęcie od wartości mierzonej X znanej
wartości Xp i pomiarze metodą bezpośredniego porównania różnicy
R=X-Xp (Xp – wartość wzorcowa)
(RYSUNEK)
: D-Xp < Zakres pomiarowy czynnika. X= Xp +- Alfa.
Cechy
charakterystyczne ww metody: -PP wykorzystuje *źródło integralne
lub nie zależne wielkości porównawcze Xp; *Układ różnicowy
wykonujący matematyczna operacje odejmowania; *miernik wychyłowy
lub cyfrowy z własnym wzorcem.
-
przyrządy czujnikowe są bardziej skomplikowane jednak bardziej
dokładne niż we met. bez. porównania.
c)
Metoda pomiarowa zerowa: gdy X-W=0 to X=W
Czynności
badania różnicy i sprawdzenia jej do zera nazywane równoważnię
są rozdzielone na dwa elementy funkcjonalne przyrządu: detektor
zera (element lub zespół elementów który po doprowadzeniu do niej
różnicy X-W zdolny jest sterować procesem równoważenia PP) i
urządzenie równoważące.
Cechy
charakterystyczne: budowa przyrządu, sposób wykonania pomiaru
(ręczne lub automatyczne równoważenie przyrządu), dokładność
metody zależy od dokładności wzorca W oraz progu nieczułości
detektora Δ (X-W <= Δ (Δ – nieczułość detektora). Metoda
najbardziej dokładna.
GRAFIKA INZYNIERSKA
Takie
pytania były u Benka na ostatnim kole. Moze da to samo? ;]
1.
Wymairy arkusza
2.
Przekroje
3.
Oznaczanie chropowatości
4.
Linie warunkowe i ich zastosowanie
1.
Podać wymiary A3x4 i co to oznacza
2.
Do czego stosuje sie linie grube
3.
Zwymiarowac rysunek
4.
Co to jest przekrój prosty? Przykłądowy rysunek
5.
Narysowac w uproszczeniu stopnia 1-szego połączenie dwoch blach z
śrubą lutną, podkładka i naketka