PROMIENIOWANIE RENTGENOWSKIE
Dyfrakcja: ugięcie fali na przeszkodzie małej w porównaniu z długością fali.
Fala wskutek dyfrakcji interferuje z falą nieugiętą i z innymi falami ugiętymi.
Podejście Lauego:
Laue traktował dyfrakcję promieni X tak jak dyfrakcję światła na siatce
dyfrakcyjnej, a kryształ jako zbiór atomów w 3D sieci krystalicznej.
Od czego zależy intensywność refleksu dyfrakcyjnego?
Rodzaj atomów
Kąt dyfrakcji
Temperatura
Rozmieszczenie atomów w komórce elementarnej (czynnik struktury).
Tekstura (istnienie wyróżnionego kierunku krystalograficznego na powierzchni materiału); W nowoczesnych materiałach znajomość teksturowanie powierzchni stosuje się celowo jako metodę wpływu na właściwości fizyczne.
W zależności od tego, czy próbka jest mono- czy polikrystaliczna,
stosuje się różne przyrządy i metody badań.
- Monokryształy: metoda Lauego i metoda obracanego kryształu.
- Polikryształy: pomiar za pomocą kamery Debye'a Scherrera lub dyfraktometru
rentgenowskiego.
METODA LAUEGO:
Rejestruje się promienie albo po przejściu przez kryształ, albo odbite od kryształu.
Każdy punkt odpowiada innej rodzinie płaszczyzn sieciowych. Intensywność refleksów dyfrakcyjnych niesie informację o rodzaju atomów, centrowaniu komórki elementarnej itd.
Metoda Lauego można wyznaczyć:
a) odległości międzypłaszczyznowe, a co za tym idzie, rozmiar komórki elemen-tarnej.
b) Orientację kryształu
c) Symetrię komórki elementarnej
d) Niektóre defekty struktury.
METODA OBRACANEGO KRYSZTAŁU:
Celem pomiaru jest zarejestrowanie intensywności możliwie dużej ilości refleksów (hkl)
Dlatego używa się tzw dyfraktometru cztero-kołowego aby można było obracać kryształ i detektor.
KAMERA DEBYE'A SCHERRERA:
Próbka jest nieruchoma, a klisza lub nowoczesny detektor w postaci folii czułej na promieniowanie X, umieszczony jest dookoła próbki (rejestruje się promieniowanie ugięte pod wszystkimi kątami jednocześnie).
DYFRAKTOMETR:
Detektor obejmuje mały zakres kątów. W czasie pomiaru następuje obrót detektora i lampy lub detektora i próbki.