Metrologia Spraw-3, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, Metrologia--sprawozdania


LABORATORIUM METROLOGII I ROBOTYKI POMIAROWEJ

Ćw. nr 3

„Pomiary zbieżności i kątów”

Wykonał : Krzysztof Kłosowski, gr. R37, zespół : 2

Dokonano pomiarów zbieżności i kątów różnych elementów różnymi metodami pomiarowymi.

  1. Pomiar kąta pochylenia klina przy pomocy liniału sinusowego.

    1. rysunek mierzonego elementu :

    1. schematyczne przedstawienie metody pomiarowej :

    1. wyniki pomiarów :

Stos płytek wzorcowych : 7+1,20+1,11=9,31 mm

L1=60 mm - długość na jakiej dokonywano odczytów O1 i O2

L=100 mm - długość liniału sinusowego

H=9,31 mm - wysokość stosu płytek wzorcowych

Odczyty : O1 [μm] O2 [μm]

-6 -4

-7 -4

-6 -3

Wartości średnie :O1=-6,333 μm O2=-3,667 μm

    1. Obliczenie poprawki :

0x01 graphic

0x01 graphic

    1. Obliczenie wartości kąta pochylenia klina :

0x01 graphic

0x01 graphic

Ostatecznie wynik : α=5°20'31,1”

  1. Pomiar kąta pochylenia klina optyczną poziomnicą kątową:

    1. Wyznaczenie poprawki zera : -0°26'30”

    2. Wyniki pomiarów : 4°54'00”

4°54'30”

4°53'30”

    1. Wynik średni : 4°54'00”

    2. Wynik poprawiony : 4°54'00”- 0°26'30”= 4°27'30”

    3. Błąd graniczny pomiaru wykonanego poziomnicą optyczną : 2'

    4. Ostateczny wynik : 4°28'±2'

  1. Pomiar zbieżności i kąta wierzchołkowego z użyciem wałeczków, płytek wzorcowych i mikrometrów.

    1. Rysunek mierzonego elementu:

    1. Schematyczne przedstawienie metody pomiarowej

    1. Wyniki pomiarów :

H=50 mm - wysokość płytki wzorcowej

Wielkości : M1[mm] M2[mm]

38,645 50,162

38,645 50,166

38,648 50,166

    1. Wartości średnie pomiarów M1=38,646 mm M2=50,165 mm

    2. Zbieżność stożka :

0x01 graphic

0x01 graphic

    1. Kąt wierzchołkowy stożka :

0x01 graphic

0x01 graphic

    1. Błąd graniczny pomiaru.

eM1=6,1 μm

eM2=6,4 μm

eH=0,4 μm

0x01 graphic
0x01 graphic

0x01 graphic

Graniczny błąd pomiaru : eα=0,63“

    1. Ostateczny wynik pomiaru : 13°08'30,77”±0,63”

  1. Pomiar zbieżności i kąta wierzchołkowego stożka zewnętrznego z użyciem mikroskopu.

    1. Wyniki pomiarów :

L=50 mm

Średnice : D1[mm] D2[mm]

28,180 38,689

28,177 38,691

28,177 38,687

Wartości średnie : D1=28,178 mm ; D2=38,689 mm

    1. Zbieżność stożka.

0x01 graphic

0x01 graphic

    1. Kąt wierzchołkowy stożka.

0x01 graphic

0x01 graphic

    1. Błąd graniczny pomiaru

eD1=5,4 μm

eD2=5,6 μm

eL=0,4 μm

0x01 graphic
0x01 graphic

0x01 graphic

Graniczny błąd pomiaru : eα=0,55“

    1. Ostateczny wynik pomiaru : 12°00'10,5”±0,6”

  1. Pomiar zbieżności i kąta nachylenia stożka wewnętrznego.

    1. Rysunek mierzonego elementu.

    1. Schematyczny rysunek przedstawiający metodę pomiarową

    1. Otrzymane wyniki pomiarów.

d1=15,029 mm

d2=20,59 mm

Głębokości : h1[mm] h2[mm]

23,574 16,045

23,581 16,041

23,584 16,043

Średnie wyniki pomiarów : h1=23,580 mm; h2=16,043 mm

    1. Obliczenie wielkości kąta nachylenia i zbieżności stożka

Korzystam z zależności :

0x01 graphic

e) Ostateczny wynik : α=35°46'21”

6. Graficzne zestawienie wyników pomiarów.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Metrologia Spraw-1, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, Metrolog
Metrologia Spraw-3.1, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, Metrol
P II, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronika i El
MEO teoria, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, metrola, sciaga+
4 kolos-ściąga, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, metrola
PIII - teoria, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektro
elektra P4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
elektra M4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
Egz mech 2(1), Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Mechanika Ogólna II, Mechanika 2, Mechanika
jasiek pytania, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
M2, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronika i Elek
Wnioski do stanu jałowego trafo, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II
polimery, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, sciagi
Elektra M-2spr, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
elektra M5, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
Transformator, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektro
W7-dynamika bryly sztywnej, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Mechanika Ogólna II, Mechanika 2, 3 k
Pomiary-protokół, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elek
druk Materiały niemetalowe i pow łoki ochronne(polimery), Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Powłoki

więcej podobnych podstron