AiR gr 5 sekcja 4 Gliwice 2003-05-10
Laboratorium podstaw elektroniki
(Bramki Logiczne)
Grupa 5 Sekcja 4:
Kamil Sokołowski
Paweł Puchałka
Krzysztof Brauner
Tomasz Ziaja
Wstęp
Przeprowadziliśmy badania Bramki logicznej NAND, zdjęliśmy charakterystyki wejściowe, przejściowe i wyjściowe dla stanu niskiego i wysokiego. Przeprowadziliśmy następujące pomiary.
Pomiary
Charakterystyki Wejściową I1 = f(U1), Przejściową U0 = f(UI) oraz Poboru prądu ICC = f(UI) bramki NAND badaliśmy według schematu pomiarowego:
Charakterystyka Wyjściowa UOL = f(IOL) w stanie niskim:
Charakterystyka Wyjściowa UOH = f(IOH) w stanie wysokim:
Wykresy
(w załączniku)
Wnioski
Charakterystyka Wejściowa, Przejściowa oraz Poboru Prądu
W chwili zmiany stanu bramki zwiększa się pobór prądu. Pomiary umieściliśmy na wykresie zbiorczym oraz osobno. By dokładniej uwidocznić charakterystyki odrzuciliśmy niektóre pomiary (krańcowe). Mieliśmy nieznaczne kłopoty z odczytaniem wartości prądu ICC
Charakterystyki Wyjściowe
Nie różnią się zbytnio od umieszczonych w skrypcie charakterystyk „teoretycznych” zmianę obciążenia wyjścia bramki wymuszaliśmy niejako zmianą prądu wyjściowego.