Laboratorium z metrologii
Data: 29 III 2000 r.	Imię i nazwisko:	Ocena:
Wydział, rok, grupa: IMiR, II A, grupa 3	Temat: Pomiary chropowatości powierzchni. (ćw. 5)	Uwagi:

1. Tabela wyników pomiarów chropowatości metodą stykową powierzchni obrabianej poprzez struganie profilometrem Hommeltester T1000E.

Kąt płaszczyzny przekroju	Ra m]	Rq m]	RzDin m]	RzISO m]	RzJap m]	RmDin m]	RmJap m]	Rt m]	Pc m]	Rp m]	Rpm m]	R3z m]	Pt m]	Sm m]
0^o	4,70	5,68	25,10	26,11	36,17	27,37	39,81	29,87	75	16,68	13,96	17,86	39,81	133,30
22^o30'	4,91	5,92
45^o	4,90	6,12
67^o30'	4,23	5,16
90	1,91	2,54

2. Pomiar chropowatości metodą stykową profilografometrem Kalibr.

gdzie :

1. mierzony przedmiot

2. głowica pomiarowa

3. mechanizm posuwu

4. wzmacniacz

5. filtr

6. rejestrator

7. moduł opracowujący sygnał pomiarowy

8. wskaźnik

Prędkość posuwu papieru: 80 mm/min

Prędkość przesuwu czujnika profilografometru po badanym materiale: 0,2 mm/min

1 mm na wydruku na osi x to 0,0025 mm

Długość odcinka pomiarowego 0,45 mm

10 mm na wydruku na osi y to 0,5 m

	Pomiar w milimetrach					Pomiar w m 1 mm=0,05 m
Ymin	-40	-36	-23	-10	-44	-2	-1,8	-1,15	-0,5	-2,2
Ymax	2	14	14	22	24	0,1	0,7	0,7	1,1	1,2

3. Pomiar chropowatości metodą optyczną:

	Pomiar w działkach					Pomiar w m 1dz=0,476 m
Ymin	33	30	32	31	32	15,7	14,3		15,2	14,8	15,2
Ymax	73	84	89	74	95	34,7	39,9		42,4	35,1	45,2
Mi	40	54	57	43	63	19	25,6	27,2		20,3	30

M_max= 30,0 m

, m

Średnica pola widzenia 1,08 mm

Wymagany odcinek pomiarowy 2,0 mm

Wnioski:

Na dokładność pomiarów metodą stykową mają wpływ następujące czynniki: średnica zaokrąglenia ostrza wzorującego oraz jego nacisk na badaną powierzchnie. Jednakże ta metoda ma wiele zalet w stosunku do metody optycznej: duży zakres pomiarowy przyrządów , co wynika z dużego zakresu powiększeń; możliwość utrwalenia wyniku pomiaru w postaci profilogramu; krótki czas pomiaru lub sporządzania profilogramu. W metodzie optycznej odczyt jest niedokładny dlatego że obraz jest niejednokrotnie zamazany a wymogiem wobec badanej płytki jest konieczność dobijania światła od jej powierzchni.

---