Politechnika Œl¹ska
Wydzia³ AEiI
Kierunek AiR
Æwiczenia laboratoryjne z fizyki :
Dyfrakcja œwiat³a: wyznaczanie sta³ej siatki dyfrakcyjnej, pomiar d³ugoœci œwiat³a laserowego, wyznaczanie szerokoœci szczeliny
Grupa I, sekcja 5
Les³aw Kaczor
Jaros³aw Olczyk
Gliwice 13.04.19941.Opis teoretyczny.
Dyfrakcja jest to zjawisko polegaj¹ce na uginaniu siê promieni œwietlnych przechodz¹cych w pobli¿u przeszkody, takiej jak np. brzeg szczeliny. Zwykle efekty dyfrakcyjne s¹ ma³e i trzeba ich uwa¿nie szukaæ. Poza tym wiêkszoœæ ¿róde³ œwiat³a to przedmioty rozci¹g³e, wobec czego obraz dyfrakcyjny wytworzony przez jeden punkt Ÿród³a nak³ada siê na obrazy wytworzone przez inne punkty. Wreszcie, zwyk³e ¿ród³a œwiat³a nie s¹ monochromatyczne. Obrazy dla ró¿nych d³ugoœci fali nak³adaj¹ siê na siebie i znów zjawisko jest mniej widoczne. Zjawisko dyfrakcji mo¿na zaobserwowaæ przy przejœciu œwiat³a przez w¹skie szczeliny lub przeszkody, których szerokoœæ jest rzêdu setnych czêœci milimetra. Na ekranie ustawionym za t¹ szczelin¹ obserwujemy smugê œwietln¹ otoczon¹ symetrycznie szeregiem jasnych i ciemnych pr¹¿ków, stanowi¹c¹ obraz dyfrakcyjny szczeliny. Powstanie obrazu dyfrakcyjnego, niezgodne z zasad¹ prostoliniowego rozchodzenia siê promieni, mo¿na wyjaœniæ na podstawie falowej natury œwiat³a. Zgodnie z zasad¹ Huygensa ka¿dy punkt, do którego dochodz¹ fale, staje siê Ÿród³em elementarnych fal kulistych rozchodz¹cych siê wokó³ tego punktu. Fale te interferuj¹c ze sob¹ staj¹ siê przyczyn¹ powstawania jasnych i ciemnych pr¹¿ków. Praktycznie zazwyczaj nie u¿ywa siê pojedynczej szczeliny lecz siatki dyfrakcyjnej. Jest to najczêœciej p³aska p³ytka szklana pokryta równoleg³ymi rowkami, naciêtymi w bardzo ma³ych odleg³oœciach. Rysy p³ytki odgrywaj¹ rolê przes³on, natomiast przerwy miêdzy nimi rolê szczelin przepuszczaj¹cych œwiat³o.
2.Opis æwiczenia.
W æwiczeniu obserwowaliœmy dyfrakcjê na siatce dyfrakcyjnej oraz na pojedynczej szczelinie.
1.W pierwszej czêœci æwiczenia obserwowaliœmy obraz dyfrakcyjny uzyskany przy pomocy siatki dyfrakcyjnej. Siatka by³a umieszczona w spektrometrze i oœwietlona œwiat³em o znanej d³ugoœci. Nale¿a³o zmierzyæ k¹ty ugiêcia dla trzech rzêdów w prawo i w lewo aby na podstawie tych danych i wzoru:
gdzie n -rz¹d pr¹¿ka dyfrakcyjnego
wyznaczyæ sta³¹ siatki. Pomiar trzeciego rzêdu w prawo by³ utrudniony ze wzglêdu na odblaski powsta³e na siatce, wobec czego nie zosta³ przeprowadzony aby nie wprowadzaæ b³êdów do pomiarów. Zamiast k¹ta trzeciego rzêdu zosta³ zmierzony czwarty i osobno ujêty w obliczeniach.
2.Druga czêœæ æwiczenia polega³a na pomiarze d³ugoœci œwiat³a laserowego, która to wartoœæ jest potrzebna do trzeciej czêœci æwiczenia. W celu pomiaru d³ugoœci œwiat³a laserowego nale¿a³o umieœciæ siatkê dyfrakcyjn¹ o sta³ej wyznaczonej w æwiczeniu pierwszym nastêpnie zosta³a zmierzona odleg³oœæ siatki od ekranu oraz po³o¿enia kolejnych pr¹¿ków dyfrakcyjnych na prawo i lewo. Nastêpnie zosta³a wyliczona d³ugoœæ œwiat³a laserowego ze wzoru:
3. Trzecia czêœæ æwiczenia polega³a na wyznaczeniu szerokoœci szczeliny na której ulega³o ugiêciu œwiat³o laserowe o d³ugoœci wyliczonej w drugim æwiczeniu. Pomiar obrazu dyfrakcyjnego by³ przeprowadzony metod¹ fotoelektryczn¹, pomiary by³y dokonywane co 0.083 mm co zapewnia dok³adne odczytanie pozycji kolejnych minimum obrazu dyfrakcyjnego. Nastêpnie zosta³a obliczona szerokoœæ szczeliny ze wzoru warunku minimum :
wiêc :
czyli:
3.Tabela pomiarowa.
Tabela pomiarowa nr. 1
Pomiary kątów ugięcia na siatce dyfrakcyjnej
0 = 179°40'
B³¹d pomiaru = 10'
Lp. |
n=1 |
n=2 |
n=3 |
n=4 |
||||||
|
1l' |
1p |
2l |
2p |
3l |
4p |
||||
1 |
186°20' |
173°40' |
193°00' |
167°50' |
200°20' |
152°30' |
||||
2 |
186°20' |
173°40' |
193°00' |
167°50' |
200°00' |
152°40' |
||||
3 |
186°00' |
173°10' |
193°00' |
167°40' |
200°00' |
152°20' |
||||
4 |
186°00' |
173°40' |
193°00' |
166°40' |
200°00' |
152°10' |
||||
5 |
186°00' |
173°30' |
193°00' |
167°00' |
200°00' |
152°00' |
Tabela pomiarowa nr. 2
Pomiary odchyleń światła laserowego na siatce dyfrakcyjnej.
Odleg³oœæ od ekranu l = 125 cm
Ze wzglêdu na rozmycie plamki na ekranie oraz rêczny pomiar odchyleñ dok³adnoœæ pomiaru nie jest wiêksza ni¿ 5 mm.
n |
x [cm] (lewo) |
x [cm] (prawo) |
1 |
15.5 |
15.5 |
2 |
32.5 |
32.7 |
3 |
- |
49.5 |
4.Opracowanie wyników pomiarów.
1. Wyznaczanie sta³ej siatki dyfrakcyjnej.
Obliczanie œrednich k¹tów ugiêcia. Najpierw zosta³y obliczone œrednie wartoœci k¹tów ugiêcia w prawo i w lewo na podstawie danych z tabeli nr. 1. B³êdy zosta³y wyznaczone przy pomocy rozstêpu z próby.
n=1 |
n=2 |
n=3 |
n=4 |
||||||||||||||
1lœr' |
1pœr |
2lœr |
2pœr |
3lœr |
4pœr |
||||||||||||
186°12' |
173°32' |
193°00' |
167°24' |
200°4' |
152°20' |
||||||||||||
Da |
12' |
22' |
0' |
44' |
16' |
20' |
Nastêpnie zosta³y policzone k¹ty ugiêcia dla poszczególnych rzêdów. Dla 1 i 2 rzêdu ze wzoru:
Dla rzêdów 3 i 4 ze wzglêdu pomiaru odchylenia tylko w jedn¹ stronê zastosowany zosta³ wzór:
B³êdy zosta³y obliczone metod¹ ró¿niczki zupe³nej. Otrzymano nastêpuj¹ce wyniki :
1 = 6°18' ± 17'
2 = 12°48' ± 22'
a3 = 20°24' ± 10'
4 = 27°20' ± 20'
Obliczenie sta³ej siatki dyfrakcyjnej:
Sta³e siatki dyfrakcyjnej dla poszczególnych rzêdów zosta³y wyliczone ze wzoru:
gdzie = 589.3 nm - œrednia d³ugoœæ fali ¿ó³tego dubletu sodu
B³êdy zosta³y policzone z ró¿niczki zupe³nej:
gdzie n - b³¹d pomiaru k¹tów przeliczony na miarê ³ukow¹.
n=1
n=2
n=3
n=4
Nastêpnie przy pomocy œredniej wa¿onej zosta³a obliczona œrednia wartoœæ sta³ej siatki oraz jej b³¹d :
d=5.107*10-6 ± 3.167*10-8
Pomiar d³ugoœci œwiat³a laserowego.
Na podstawie danych z tabeli nr. 2 oraz uprzednio wyliczonej sta³ej siatki wyliczamy d³ugoœæ œwiat³a œwiat³a laserowego ze wzoru:
gdzie : d -sta³a siatki dyfrakcyjnej
l - odleg³oœæ siatki od ekranu
xn -odleg³oœci kolejnych pr¹¿ków od pr¹¿ka zerowego na ekranie
n - rz¹d pr¹¿ka
B³êdy zosta³y obliczone za pomoc¹ ró¿niczki zupe³nej:
gdzie d -b³¹d wzglêdny sta³ej siatki
x = 5mm- b³¹d odczytu x
1 l,p) x=15.5 cm
2 l) x=32.5 cm
2 p) x=32.7 cm
3) x=49.5 cm
Nastêpnie za pomoc¹ œredniej wa¿onej zosta³a wyliczona œrednia d³ugoœæ œwiat³a oraz jej b³¹d :
œr = 634.623 ± 6.16nm
Wyznaczenie szerokoœci szczeliny :
Z wyników pomiaru metod¹ fotoelektryczn¹ zosta³y odczytane nastêpuj¹ce po³o¿enia minimum (wzglêdem pocz¹tku podzia³ki):
Rz¹d |
x [mm] (lewo) |
x [mm] (prawo) |
0 |
6.8 |
15.684 |
1 |
2.684 |
20.350 |
Oraz po³o¿enie najwiêkszego maksimum :
xmax = 10.850 mm
Z tych danych zosta³y obliczone odleg³oœci kolejnych minimów od osi uk³adu :
1 l |
0 l |
0 p |
1 p |
8.167 mm |
4.05 mm |
4.834 mm |
9.5 mm |
Które zosta³y wstawione do wzoru jako x :
B³êdy zosta³y policzone z ró¿niczki zupe³nej :
gdzie: Dl - b³¹d pomiaru l
Dx = 0.048 mm niepewnoϾ pomiarowa x
1 l) x = 4.05 mm
1 p) x = 4.834 mm
2 l) x = 8.167 mm
2 p) x = 9.5 mm
Za pomoc¹ œredniej wa¿onej obliczono œredni¹ szerokoœæ szczeliny oraz jej b³¹d :
dœr = 4.576*10-5 ± 3.489*10-7 m
Ze wzglêdu na du¿y rozstêp kolejnych obliczeñ w stosunku do œredniej (du¿o wiêkszy ni¿ wyliczony b³¹d), bardziej odpowiedni¹ metod¹ obliczenia b³êdu dœr wydaje siê metoda rozstêpu z próby:
dœr = 0.046 ± 00013 mm
5.Podsumowanie.
Du¿y b³¹d w wyniku najprawdopodobniej jest spowodowany niezbyt precyzyjnym odczytaniem po³o¿enia maksimum w metodzie fotoelektrycznej spowodowane "postrzêpieniem" miejscu odczytu.