Sprawozdanie - Badania materialow przy uzyciu mikroskopii elektronowej i swietlnej, I Semestr - Materialoznawstwo - sprawozdania
Fragment dokumentu:
Dariusz Gąsiorek 5.5.2000r.
SPRAWOZDANIE Z ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH
Badania materiałów przy użyciu mikroskopii elektronowej i świetlnej
Rozróżniamy dwa rodzaje mikroskopów:
- optyczne (wykorzystujące fale świetlne)
Cechy charakteryzujące mikroskop optyczny
Zdolność rozdzielcza jest to najmniejsza odległość między dwoma punktami leżącymi w
płaszczyźnie przedmiotowej obiektywu (na preparacie), których obrazy w mikroskopie
są jeszcze rozdzielone i nie zlewają się w jedną plamę .
Wg. Abbego zdolność rozdzielcza mikroskopu optycznego (jak się później okazało także elektronowego) określa następujący wzór:
,gdzie:
δ-zdolność rozdzielcza, n- współczynnik załamania światła,
α- kąt apertury, λ- długość fali światła.
Powiększenie użyteczne jest ono uwarunkowane zdolnością rozdzielczą mikroskopu i zdolnością rozdzielczą oka ludzkiego (ok.0.1 mm). W praktyce powiększenie użyteczne
Jest zależne od apertury obiektywu i wynosi (500- 1000) A, czyli sięga powiększeń 1000x.
Powiększenia większe będą powiększeniami pustymi, tj. nie wnoszącymi do obserwowanego obrazu nowych mniejszych szczegółów. Uwarunkowane jest to długością fali światła gdyż maksymalna zdolność rozdzielcza mikroskopu optycznego wynosi 0.3μm.
II Mikroskopy nieoptyczne.
Są to przyrządy pozwalające uzyskiwać powiększone obrazy małych przedmiotów, nie wykorzystujące w tym celu fal świetlnych. Zgodnie z teorią mikroskopu ( E. Abbe ) obraz w mikroskopie (mikroskop optyczny) powstaje na skutek nałożenia się zjawisk dyfrakcyjnych, stąd istnieje fizyczne ograniczenie zdolności rozdzielczej każdego mikroskopu, pozwalające dostrzec szczegóły powierzchni nie mniejsze od poł. użytej do obserwacji długości fali.
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
Sprawozdanie - Badania materialow przy uzyciu mikroskopii elektronowej i swietlnej1, I Semestr - MatPomiar pośredni promienia łuku przy użyciu mikroskopu pomiarowego, SprawozdaniaBadanie zjawiska dyfrakcji i polaryzacji światła, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, FMikroskopy, Elektrotechnika, dc pobierane, pnom wimir, PNOM, I Semestr - Materialoznawstwo - sprawozsprawozdanie badanie mikroskopowe, Elektrotechnika, dc pobierane, pnom wimir, PNOM, bad mikrosSprawozdanie35 RG, MIBM WIP PW, fizyka 2, laborki fiza(2), 35-Badanie pętli histerezy magnetycznej fPod. prac. o mat. ćw. 1, Studia, Pnom, 1. Badania materiałów inżynierskich metodami mikroskopii świe1 Badania materiałów inżynierskich metodami mikroskopii świetlnej preparatyka2 Badania materiałów inżynierskich metodami mikroskopii świetlnej budowa mikroskopućw.10.Badanie właściwości łuku prądu stałego, Elektrotechnika - notatki, sprawozdania, Urządzenia elFIZYKA ćw.56 badanie wpływu temp. na opór elektryczny, Sprawozdania ATHPomiar częstotliwości drgań generatora przy użyciu oscyloskopu katodowego, Sprawozdania - FizykaBadanie wytrzymałości powietrza napięciem przemiennymP Hz przy różnych układach elektrod v3sedno, Politechnika śląska - Mechatronika semestr 1 i 2, Podstawy Nauki o materiałach, laborki, ćw 1Badanie materiałów magnetycznie twardych, Elektrotechnika, Rok 2, TWN, Laborkinotatka, Politechnika śląska - Mechatronika semestr 1 i 2, Podstawy Nauki o materiałach, laborki, ćwBadanie wytrzymałości powietrza napięciem przemiennymP Hz przy różnych układach elektrod protokółćw 3 - Badanie materiałów stosowanych do budowy warystorów 2011, Politechnika Poznańska, Elektrotechwięcej podobnych podstron