krysto 2

54

FMAP spowoduje obliczenie mapy Fouriera: 2 - mapy różnicowej; 3 - mapy gęstości elektronowej; PLAN - oznacza liczbę najwyższych pików na odpowiedniej mapie Fouriera, które mają być uwzględnione i zanalizowane;    ^;

MERG - określa sposób uśredniania refleksów symetrycznie równoważnych; cyfra 0 i nie uśredniać; 2 - nie uśredniać tylko par Friedela w kryształach bez środka symetrii.

W konkretnych sytuaqach, w zależności od potrzeb, można uwzględnić jeszcze wiele innych komend, np.:    ’ V

EXTI - udokładniana jest ekstynkcja;

WGHT - waga stosowana w udokładnianiu.

Za jedną z miar poprawności rozwiązanej struktury uważa się w krystalografii tzw. wskaźnik rozbieżności. W czasie obliczeń przy użyciu programu SHELXL na ekranie monitora po każdym cyklu udokiadnienia wyświetlany jest wskaźnik rozbieżności w R2, definiowa ij następująco:

wR2={SfwfF^-Fc^Mwffo)²]}¹*.

Po ostatnim cyklu udokładnień wyświetlany jest również konwencjonalny wskźnik rozbieżności Rl, definiowany następująco:

R1=2||F₀HF_C||/2|F₀|.

Początkowe udokładnianie z izotropowymi czynnikami temperaturowymi nożna zastąpić udowadnianiem anizotropowym. W tym celu wykorzystać można instrukqę ANIS, podając liczbę atomów, które udokładniane mają być anizotropowo. W dalszej pracy pokusić się można o lokalizację położeń atomów H. Zdarza się, i to niezbyt rzadko, że przynajmniej niektóre z atomów H mogą być zlokalizowane na podstawie rozważań geometrycznych. Wykorzystuje się w tym celu instrukcje AFIX. Przykładowo dwa atomy H z grupy metylenowej (- CH21 można włączyć w następujący sposób:

AFK23

HI 2 0 00 11-1.2 H2 2 0 0 0 11-1.2 AFK0

Instrukcja AFK 23 powinna nastąpić bezpośrednio po atomie węgla, z którym związane są rozważane atomy wodoru.