12

Karty kontrolne przy ocenie liczbowej

Górna granica kontrolna

UCL=X + A₃§

Punkt

- IX X = ^— n

CL = X =

I*

k

Dolna granica kontrolna

lcl=x-a₃S

Górna granica kontrolna

UCL = B₄5

Punkt

cl = s = ^£ k

i=1

i(x,-xy

1

f

n-1

Dolna granica kontrolna

lcl=b₃§

Rys. 5.19. Wzory na karcie kontrolnej X -S

Objaśnienia do wzorów:

X    - wartość średnia,

n    - liczność próbki,

X

k

Aj, #j, Bą S

Ś

-    wartość średnia z wartości średnich,

-    liczba próbek,

-    współczynniki statystyczne (dobierane z tablicy IV),

-    odchylenie standardowe,

-    wartość średnia z odchyleń standardowych

w poszczególnych próbkach.

Karta X -S jest dokładniejsza od karty X-R. Wynika to z tego, że jako miara zmienności użyte jest odchylenie standardowe zamiast rozstępu. Dzięki temu można lepiej określić zachowanie się procesu, czy inaczej mówiąc, określić rozkład badanej zmiennej na podstawie wyników pomiarów pobranych do kontroli wyrobów.

Karta ta powinna być stosowana, gdy pobierane próbki mają dużą Jiczność. Dużą - to znaczy co najmniej około 10 wyrobów^Dla tak licznych próbek odchylenie standardowe jest lepszą miarą rozproszenia niż rozstęp. Poza tym większa dokładność kart Y-S wynika z zastosowania większych próbek. W statystyce - im wyniki oparte są na większej liczbie danych, tym są bardziej wiarygodne. Ta prosta zasada obowiązuje oczywiście także przy stosowaniu kart kontrolnych.