Karty kontrolne przy ocenie liczbowej
Do wykreślenia tego wykresu potrzebne są cztery wzory, pozwalające wyznaczyć wartości poszczególnych punktów, granice kontrolne oraz linię centralną (CL - Center Linę). We wzorach tych wykorzystuje się pewne współczynniki statystyczne (A2, D3, D4), których wartości odczytuje się w zależności od wielkości próbki z tablicy IV (na końcu książki). Linia centrala oznaczana przez X z dwoma kreskami jest po prostu wartością średnią z wartości średnich poszczególnych próbek.
Na wykresie tym przedstawiony jest rozrzut wyników w kolejnych próbkach. Rozrzut ten wyrażony jest przez rozstęp. Linia centralna obliczana jest jako wartość średnia z rozstępów ze wszystkich analizowanych próbek. Przy mało licznych próbkach (n < 7) na karcie tej nie ma dolnej granicy kontrolnej, a właściwie jest ona równa zeru.
Kartę X - R wykorzystuje się w przypadkach, gdy dysponujemy liczbowymi wartościami z pomiarów wytwarzanych wyrobów (długość, ciężar itp.) oraz gdy możemy pozwolić sobie na badanie kilkuelementowych próbek (kiedy jest to możliwe z technicznego i ekonomicznego punktu widzenia). Wielkość próbki powinna wynosić od dwóch do dziewięciu elementów (zaleca się jednak liczności od trzech do sześciu). Przy większych próbkach zalecane jest stosowanie jako miary zmienności odchylenia standardowego, zamiast rozstępu.
Przy stosowaniu karty X - R musimy spełnić kilka podstawowych warunków:
® dane muszą mieć rozkład normalny,
• za pomocą jednej karty może być nadzorowany tylko jeden
parametr, chcąc mierzyć i monitorować kilka właściwości wyrobu, należy prowadzić kilka kart kontrolnych,
• należy zmierzyć co najmniej 20-25 próbek, zanim obliczy się
i wykreśli granice kontrolne i linię środkową,
• próbki muszą mieć stałą liczność (można wprawdzie
prowadzić kartę przy różnej liczności, ale wymaga to wielu dodatkowych obliczeń - STATISTICA na szczęście udostępnia stosowne do tego opcje).
Na rys. 5.2 przedstawiono przykładowy arkusz do prowadzenia karty.