4 6

b)    inkrcmentainy wzorzec długości z ułożonych naprzemiennie namagnesowanych i nie- -namagnesowanych cienkich blaszek o Jednakowej grubości;

c)    powszechnie stosowana nazwa czujnika indukcyjnego dławikowego;.

d)    elektroniczny układ przekształcający -sygnały sinusoidalne na prostokątne; ejmagneto elektr przetwornik przemieszczeń

Który' 2 poniższych szkiców pokazuje okfad Enii odniesienia głowicy goniometryczncj roikroskopu warsztatowego'’ '

d.)

15. Rysunek obok przejawia wiJok w okularze mikroskopu odczytowcuo zaor>«rzonei:o v nonńisz Abb±'eó. Noniusz ten wskazuje:

») 32.438; b)32J>84; -c) 38.432; d) 3SJ24; CH3SJJ2

f) nie można dokonać odczytu, ponieważ głowica obrotowa noniusza jest źle ustawiona;

Pokazany poniżej wykres przedstawia rozkłady wymiaru rzcczywistcco t wymiaru odebranego. Zakładamy ±e jest oa znormalizowany względem wymiaru rzeczywistego, co oznacza, że pole pod krzywą rozkładu wymiaru rzeczywistego jest równe jednoścL Na wykresie znajdująsiij cztery różnie oznaczone pola: P.,pfc- p_c« V[

Które z pól. 'względnie kh sura. Jest równe prawdopodobieństwo! zdarzenia, te. pracownik kontrofi uzna sprawdzany -wymiar za praw idłowy (przepuśti detal>- i jednocześnie nic popełni pomyłki? • b) pd. •

17. Graniczna dopuszczalna wartość odchyłki długości płytki wzorcowej dlucości Johaassona zalezy:

j.) od klasy dokUonośa wykonania, wymiaru nominalnego i rodzą u kompletu, do którego pryika jest przeznaczona;

o) tyiko od k!as> dokładności wykonania i rodzaju kompletu; ć)tvlko od klasy dokładności wykonania i wymiaru nominalnego: d) wyłącznic od klasy dokładności wykonania płytki; c) wyłącznie od wymiaru nominalnego płytki. O tylko od rodzaju kompletu, do którego prytka jesr przeznaczona:

I S W przetwornikach optoelektronicznych role wzorca długości pełni:

a) zespól bardzo precyzyjnie rozmieszczonych mi^rofbtodenicmów oświetlany bardzo wąską (punktowa) wiązką światła laserowego:

błlinial szklany r regularna siatka naorzemian po sobie następujących przezroczystych ^AA i nieprzezroczystych nosków o jednakowej szerokości:

c)    liniał szklany z podzialką kreskową o wartości działki elementarnej I mm:

d)    długość tali świetlnej przerworzona dziwki zjawisku interferencji na układ prążków interferencyjnych zliczanych za pomocą zespołu fotodementów:

c)    rura szklana z ciasno upakowanymi wewnątrz niej stalowymi (nieprzezroczystymi) kulkami o jednakowej średnicy:

19 W zamieszczonym niżej wykazie funkgi pełnionych przez komplety uzupełniające płytek wzorcowy ch jedna, z" pozycji umieszczono pomyłkowo. Którą?

a)    zwiększenie trwałości płytek kompletów podstawowych;

b)    umożliwienie drobniejszego stopniowania długości budowanych stosów; ćlWickszenie dokładności odtwarzanych przez stosy wartości długości;

d)    rozszerzenie zakresów pomiarowych kompletów podstawowych w stron? wartości małych;

c)    rozszerzenie zakresów pomiarowych kompletów podstawowych tv stron? wartości 'dużych:

l

20. Projektując kontrole tecluiiczną okrećionego wymiaru należy tak dobrać metod? i narzędzia pomiarowe, aby graniczna

wartość błędu pomiaru była zbliżona do;

a) dolnej oJchy Iki granicznej kontrolowanego wymiaru;

h)    dolnej wzności granicznej kontrolowanego wymiaru;

c)    comcj odchyłki granicznej kontrolowanego wymiaru; ó) tolerancji kontrolowanego wymiaru: e) wartości nominalnej kontrolowanego wymiaru;

0/Jednei dziesiątej tolerancji kontrolowanego wymiaru;

/ 1 Który r powyższych wykresów najlepiej ilustruje wpływ dokładności pomiarów na koszty kontroli technicznej? (Ac -graniczna wartość błędu pomiaru; gdy ag T to dokładność -1) e)

I 22 ksorc z wymienionych poniżej komplcłów podstawowych płytek wzo«xm\-cb produkcji » krajowej pozwalają budować stosy o długości stopniowanej co 0.001 mm ‘

i)    wszystkie;

^AAbrvlko:dużv rozszerzony: ^A c) tylko iduży i duży rozszerzony; b) tylko średni, duży ł duży rozszerzony.

O duży i Juży rozszerzony, pod warunkiem, że będą wykonane w klasie 00 lub 0. e) wszystkie komplety podstawowe, ile pod v.-zrunkicn^0/ó że będą wykonane w klisic 00;

73. Regulację położenia styków nastawnych w czujniku cicktrostyfcowym przeprowadza się w celu:

a)    uzy skania właściwego wzmocnienii sygnału pomiarowego;

b)    wyzerowania wskazania czujnika; *

cldostosowania czujnika do tolerancji kontrolowanego wymiaru;

d)    uzyskania odpowiedniej wartości działki elementarnej:

c)    dostosow ania, zakresu pomiarowego czujnika do wanośa nominalnej kontrolowanego' wymiaru:

!) zmiany kierunku wskazań;