CCF20090421004

276 Laboratorium materialozn<l\rWII

Spośród czynników wpływających na jakość radiogramu najważniejszy |itjd dobór czasu naświetlania i długości fal promieniowania, zależnej od nnpli>t)( między elektrodami lampy. Do ustalenia optymalnego napięcia i czasu w il> ności od grubości prześwietlanego materiału służy specjalna tabela (tab. IH I Tabele tego rodzaju są dołączone do aparatów rentgenowskich lub mo/im znaleźć w podręcznikach. Tabela 10.1 podaje czasy naświetlania przy zaltł/ot stałej ogniskowej, czyli odległości od ogniska lampy do kliszy, stałego iial*.z nia prądu płynącego przez lampę i rodzaju, tzw. folii wzmacniających li któryś z tych czynników ulega zmianie, należy wprowadzić poprawki. Xwlł£ szenie ogniskowej wymaga przedłużenia czasu naświetlania; większe nali;/i prądu skraca czas naświetlania, jednak jest ono ograniczone wytrzymało u I termiczną lampy; użycie folii wzmacniających skraca czas naświetlania 100 i* 200 razy. Folie są to kawałki płótna pokryte substancją, która pod wpływy promieni rentgenowskich świeci światłem widzialnym. Emulsja fotografa »l jest znacznie silniej uczulona na światło widzialne niż promienie Xczy y \v| umieszczenie kliszy pomiędzy dwiema takimi foliami skraca czas naświetlam i

Tabeli) l •!

Dane do ustalenia optymalnego napięcia i czasu naświetlania (w min) w zależności od grubości prześwietlanej stali

r~

Grubość próbki d [mm]

K V	4	6	8	10	12	15	20	25	30	35	40	45	50	55	60	0 1
80	7,0
100		0,6	4,0
120				0,4	1,2	6,0
140							0,7	4,0
160								0,35	1,0	3,0	7,0
180										0,5	1,4	3,5	7,0
200											0,5	1,2	3,0	6,0	10,0

Ml

Współczynniki m do obliczenia czasów naświetleń dla różnych metali W) noszą:

Materiał

Fe

1

Cu

1.5

Zn

1.4

Pb

12.5

Al

0,25

dural

0,37

Mg

0,7

Zakres zastosowania radioskopii

I Im bóść przedmiotów, które mogą być badane metodą radioskopową, zaleci ud i11ugości fal promieniowania, czyli od maksymalnego napięcia, jakie urn im otrzymać w danym aparacie. Zależność tę podano w tabeli 10.2.

Tabela 10.2

Maksymalne grubości ścianek prześwietlanych elementów

Napięcie [kV]	Grubość ścianki w [mm]
	stopy lekkie	stal i żeliwo	miedź
50	30	3	1,5
100	125	12	8
150	170	37	23
200	220	65	50
250		80
1000-1 [MY]		125
promienie X z betatronu		500

(irnnica wykrywalności wad w zależności od grubości prześwietlanego mali tiulu wynosi orientacyjnie:

1,5 % dla przedmiotów o grubości do 50 mm,

2.0    % dla przedmiotów o grubości 50 — 100 mm,

1.0    % dla przedmiotów o grubości 100 - 150 mm.

I )o ścisłego określenia granicy wykrywalności wad w każdym konkretnym |n /ypadku służą tzw. wzorce kontrolne pręcikowe lub płytkowe. Są to najczęś-i li | druciki o określonych średnicach od 0,1 — 4,5 mm, w osłonie gumowej lub |ilii ilykowej. Wzorzec taki kładzie się na prześwietlany przedmiot (rys. 10.4). I llijcicńszy drucik, który jest jeszcze widoczny na radiogramie, określa granicę wykrywalności wad.

1’ojedynczy radiogram pozwala na określenie rodzaju wady wewnętrznej mii/ jej położenie w płaszczyźnie równoległej do kliszy. Nie da się jednak na i' | podstawie ustalić głębokości położenia wady. Jeśli jest to konieczne, trzeba wykonać co najmniej 2 zdjęcia przy różnym położeniu lampy. Metoda ta sto-iiwana jest rzadko.