201404020652

201404020652




i


u mi p#j pi iip i m11

od ij Hi Moim wyróżnić |

BBi

mniiiip

grapy powttM u dulek [fa w irthnne toy N f |£ «iofco«4 Md P* M pttde wujitkio różno

K pg f» idto * wpimch Mik, pociągają a HmoW rdatt i RdoididL Pnjoym łych (linie


W


i


%

X


Hi,


(Ul)


lewi


mhd Irtnieucrcb itorn lit aoiaa wydimi-HpM piliły osiflcd będą obirczooe błędem lytttaiiya-/ ' 5 pilili wyników pozbawionych tych blpió» aikźy ba-d*' (jyiil v mlwanid&ch wzorcowych fu, których ikfad cknueay (fy LjnHtuii ji) igodoie i fazą outczaną,

|!E J*, ąijdów kryje iię w przyfototuuii preparatów do tudii JLii stopień rozdiobnienia materiału. NiedotUteczM rozdrob-anwkijc błędy spowodowane zjawiskiem ekstynkcji, jak również i feeblc krystalitów dających refleksy. Mm materiały Kj iiyjijlity o wielkoici raaksynialitoj 10 pin, i więc przeebo-ęiistilOOO® owk/cm1 Tylko w tym przypadku uzyskuje się || pomiarów ci# refleksy o jednorodnym natężenia Aby witj-i Udoimy HM ^ krystalitów biorących odział«dyfrakcji, *L iilciy obracać M7ględcm normalnej do jego plaszczy/ny,

' jjjjjj. yytgf powinno iię zwracać m możliwość (teksturowania prepara* £ jego wykoeywifiia. Steksturowaniu szczególnie łatwo ulegają u* o intikie hhnkontym iglastym lub włóknistym Wystąpienie ^«y onic (powodować poważny błąd w analizie, związany b zmianą ,m mierzonej linii dyfrakcyjnej. Slckslurowanio próbki proszkowej utpjiiiykle przy wyrównywaniu jej powierzchni poprzez nacisk i wy* i warstwach powcrzchniowjth. Praż usuwanie lej warstwy min i pozbyć efektu stebluroim W przypadku preparatów silnie tebujących, od których refleksy otrzymuje się tylko z powierzchni, i więc uyłjs tekstury może być większy, zaleca się rozcieńczenie preparatu subslan* i uh absorbującą Istnieją przypadki, i których nie możni uniknąć atsmotuh preparatu (próbki litej Zjawisko to należy wtedy uwzględnić, płajjc odpowiednie poprawki    :

f metodzie wzoru wewnętrznego bardzo istotne jest dokładne ujtdno* stauwiknucjo materiału z wzorcem. Wykonuje się to w specjalnych


■flf


loda grupa błędów wysika z pracy aparatury i ma istotny wpływ * War węzcnia linii dyfrakcyjnych. W dyfraktometrach jednym z glos-ffii blfdół jesi nieslahilnoić prądu zasilającego lampę rentgenowską ®1“ty faąct Liczni jest rejestratorem punktowym, a więc rejestr# 283



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
201404020652 i ■ u mi p#j pi iip i m11 od ij Hi Moim wyróżnić
img023 (17) (VI w/Vtfv -•A ^jjp Pod stfi.w KMw ij d-O Hi©™- n9/ błąd    b 11*^4 nySu
Skanowanie 10 04 10 17 (40) mi ,samego przedmiotu, ani od przeżycia, które ten przedmiot W nas budz
scandjvutmp18d01 135 nie z własnej przybyłem tu ochoty, gdyż kraj mój nie jest gorszym od waszego.
Skanowanie 10 04 10 17 (40) mi ,samego przedmiotu, ani od przeżycia, które ten przedmiot W nas budz
P040311 26 CIAŁO STAI : — oznacza się stabilnością kształtu Pi (w żale; >śct od stopnia uporządk
Scan 090220 0024 242 obywatelskiego wydaje mi się nieodłączny dziś od posiadania praw politycznych i
618 1 #77 Ml r93ses«ss81 W-sd- I I Ml IIII II1 M II Ul II M II MIM 1 M II Ij HI
Monika Nowak U(m2-mi>- niepewność standardowa pochodząca od pomiaru mikrometrem średnic zewnętrzn
104)99 parodii filmowiparodii jtl./wóik jwd ■ Mi cki ato ♦ od rmiizin, # = fktt, c4, tm, tfndr o u
r-sni n ri« c-riz 7a^vp .MH0?RNnn ?rr- -.mi V =R HUr 4i 4: PO V?STVACH r«» > ,.i hi.
Zdjęcie0505 N«« #«łn« ł"<*łfk»<#llla kl*«iMMa*
DSC05144 dbrli.nt)fcj 6MO
DSC00346 Sr M •>- ^■Ł *v mi «■ pi Kil P^BS »^dp H wjt UPWHki
tmm13 jpeg ijcud cjwwa-haczwy WArt/fiki $rafhofj& f j>£lmon£ M od ij-f i kacie   &n
P1010440 śpię, w każdym razie nie próbował przedostać się do mnie, i przyjrzawszy mi się uważnie, od

więcej podobnych podstron