7 (201)

szczeliny obserwuje się przez okular mikroskopu ustawiony pod katem 90' w stosunku do mikroskopu projektującego wiązkę. Otrzymujemy więc dwa obrazy profilu z których jeden osiąga większą ostrość (rys. 12.9e). Ponieważ przekrój został wykonany pod kątem 45°. obraz jest powiększony w kierunku wysokości nierówności v2 razy. Mikroskopy podwójne umożliw iają obserwację powierzchni w powiększeniu wynikającym z zastosowanego okularu • obiektywu . Rzeczywistą wysokość nierówności można określić ze wzoru:

(12.1)

gdzie:

R - rzeczywista wysokość nierówności,

V- pow iększenie mikroskopu,

R wy sokość nierówności obserwowana w okularze.

!!'_r - wartość działki elementarnej urządzenia odczy towego wg wzoru 3.2.

Za pomocą mikroskopu podwójnego można określać parametry Rz i Rc. Zakres pomiarowy metody wynosi od Ri=0.8 do Rz=63 ,um. w zależności od zastosowanych obiektywów.

Przed przystąpieniem do pomiaru konieczny jest dobór odpowiedniej pary obiektywów, oświetlającego i pomiarowego, oparty na wstępnej wizualnej ocenie wysokości chropowatości przez porównanie z wzorcami (lab. i 2.3). Wy posażenie mikroskopu zawiera cztery pary obiektywów o różnych powiększeniach; 60. 30, 14. i 7 razy oraz okular z mikroskopem odczytowym umożliwiającym odczyt wartości współrzędnych profilu bezpośrednio w polu widzenia (ry s. )2.9c). Wy nik pomiaru otrzymuje się w liczbie działek elementarnych przy rządu. Wartość działki zależy od pow iększenia mikroskopu. W celu określenia jej wartości wy korzy stuje się szklany kreskowy wzorzec długości o wartości działki 0.01 mm i n=100 działkach (rys. 12.10). Dokonuje sic pomiaru długości w liczbie działek elementarnych mikroskopu a następnie wykonuje się obliczenia wg wzoru:

gdzie:

W_r-wartość działki elementarnej urządzenia odczytowego, n - liczba działek elementarnych wzorca kreskowego miedzy dwoma położeniami pionowej linii przerywanej określonymi wskazaniami l\ - i

a)

b)

<ł)

Rys. 12.9. Pomiar chropowatości metodą przekroju świetlnego: a) zasada pomiaru, b) przekrój wiązką światła, c) obraz w okularze mikroskopu Scbmakza, d) schemat podwójnego mikroskopu Schmait/n; 1- mierzona powierzchnia. 2- źródło światła. 3- zwierciadło. -1- podwójny obiektyw. 5-pryzmai. 6- urządzenie odczytowe. 7- aparat fotograficzny

Po umieszczeniu na stoliku pomiarowym badanej powierzchni, ustawia się ostrość. Pomiar największej wysokości nierówności polega na ustawieniu przerywanej linii poziomej krzyża pomiarowego stycznie do najwyższego wzniesienia a następnie najniższego wgłębienia profilu oraz odczytaniu wskazań. Wartość mierzonej największej wysokości profilu Rz otrzymujemy mnożąc różnicę w skazań przez w artość działki elementarnej urządzenia odcz> lewego.

14