7 (201)

szczeliny obserwuje się przez okular mikroskopu ustawiony poci kątem 90' w stosunku do mikroskopu projektującego wiązkę. Otrzymujemy więc dwa obrazv profilu z. których jeden osiąga większą ostrość (rys. 12.9c). Ponieważ przekrój został wykonany pod kątem 45°. obraz jest powiększony w kierunku wysokości

nierówności v2 razy. Mikroskopy podwójne umożliwiają obserwację powierzchni w powiększeniu wynikającym z zastosowanego okularu i obiekty wu . Rzeczywistą wysokość nierówności można określić ze wzoru:

* = -7r ™ -Nr*'    (12.1)

v2

gdzie:

R - rzeczywista wy sokość nierówności,

V- pow iększenie mikroskopu,

R wy sokość nierówności obserwow ana w okularze.

b'V- wartość działki elementarnej urządzenia odczytowego wg wzoru 3.2.

Za pomocą mikroskopu podwójnego można określać parametr)' Rz i Rc. Zakres pomiarowy metody wynosi od 0,8 do Rz=63 pm, w zależności od zastosowany ch obiektywów.

Przed przystąpieniem do pomiaru konieczny jest dobór odpowiedniej pary obiektywów, ośw ietlającego i pomiarowego, oparty na wstępnej wizualnej ocenie wysokości chropowatości przez porów nanie z wzorcami (lab. i 2.3). Wy posażenie mikroskopu zawiera cztery pary obiekty wów o różnych powiększeniach; 60, 30, 14, i 7 razy oraz. okular z mikroskopem odczytowym umożliwiającym odczyt wartości współrzędnych profilu bezpośrednio w polu widzenia (rys. )2.9c). Wynik pomiaru otrzymuje się w liczbie działek elementarnych przy rządu. Wartość działki zależy od powiększenia mikroskopu. W celu określenia jej wartości wykorzystuje się szklany kreskowy wzorzec długości o wartości działki 0.01 mm i n=100 działkach (rys. 12.10). Dokonuje się pomiaru długości w liczbie działek elementarnych mikroskopu a następnie wykonuje się obliczenia wg wzoru:

lO/i

;-)[H

(12.2)

gdzie:

\V_r — wartość działki elementarnej urządzenia odczytowego, n - liczba działek elementarnych wzorca kreskowego między dwoma położeniami pionowej linii przery wanej określonymi wskazaniami /(>, i II],

K.vs- *—9. domiar chropowatości metodą przekroju świetlnego: a) zasada pomiaru, b) przekrój wiązką światła, c) obraz w okularze mikroskopu Schmaltza, d) schemat podwójnego mikroskopu Schmaliza; 1- mierzona powierzchnia. 2- źródło światła. 3- zwierciadło, -ł- podwójny obiektyw, 5-pryzmat, 6- urządzenie odczytowe. 7- aparat fotograficzny

ł’o umieszczeniu na stoliku pomiarowym badanej powierzchni, ustawia się ostrosć. Pomiar największej wysokości nierówności polega na ustawieniu przerywanej linii poziomej krzyża pomiarowego stycznie do najwyższego wzniesienia a następnie najniższego wgłębienia profitu ora/, odczytaniu wskazań. W artość mierzonej największej wysokości profilu R: otrzymujemy mnożąc różnicę wskazań przez wartość działki elementarnej urządzenia odczytowego.

11