1) . Zapoznać się z budową i schematem systemu pomiarowego oraz jego oprogramowaniem.
2) . Przy pomocy wskazanych kondensatorów wysokiej klasy (przynajmniej trzech!) skalibrować układ pomiarowy.
3) . Zbadać pojemności wskazanych różnorodnych diod i złącz tranzystorowych w zakresie bezpiecznych napięć rewersyjnych; dla um <0 jest to nie więcej niż -5 V!
4) . Przedstawić wykresy C badanych elementów oraz wyznaczyć wartości
charakterystycznych współczynników y/0, B i m występujących w równaniach empirycznych (2.10 i 2.11). Na podstawie ich wartości wskazać charakter rozkładu domieszek w złączach. Określić dokładność metody wyznaczania wartości pojemności i parametrów równań.
5) .Średnica anody w krajowych diodach stabilizacyjnych BZPxVx-683 i przełączających
BAYP61 wynosi 230-270 pm, w diodach BAYP94...95 - 210-250 jum, zaś w diodach
stabilizacyjnych BZP630...630P dokładnie 170 pm. Grubość struktur krzemowych wynosi 190±10 pm. Dla jednej diody z powyższych typów o rozpoznanym złączu progowym wykreślić zależność (2.9a) przyjmując średnią wartość powierzchni A z podanych zakresów średnicy elektrody. Z przebiegu i nachylenia prostej wyznaczyć efektywną koncentrację domieszek N i potencjał kontaktowy złącza y/a, przyjmując, że £v=12,3. Jaką grubość ma złącze?
6) . Przedyskutować wyniki pomiarów i skonfrontować je z danymi katalogowymi diod pojemnościowych oraz sklasyfikować badane elementy do poszczególnych grup użytkowych.