037

37

2y wyniki pomiarów (pozbawione błędów systematycznych i grubych) pogrupować do odpowiednich przedziałów, które obejmuję cały zakres zmienności tak, aby ilość wyników pomiarów w poszczególnym przedziale była _co najmniej 5.' Dla każdego przedziału należy obliczyć prawdopodobieństwo P^, że dany wynik pochodzi z przedziału o wskaźniku i

37

^Pi

t¹-¹ - x

/ 29/

X¹, X*"¹ - granice przedziałów. Następnie należy obliczyć sumę

W.

2

(m_i - n P.)'

/30/

gdzie;

L - liczba wszystkich przedziałów (1>5), n - ilość pomiarów w serii,

- liczba wyników mieszczących się w i-tym -przedziale.

2 2 Obliczoną wartość sumy X porównujemy z wartością krytyczną    (ta

bela 3) przy ustalonym prawdopodobieństwie P i liczbie stopni swobody

2

k = 1 - 3. Jeśli wartość sumy jest większa od _kr» t° z prawdopodobieństwem P można stwierdzić, że rozkład błędów przypadkowych w rozpatrywanej serii różni się od rozkładu normalnego. W przeciwnym wypadku brak jest podstaw do takiego stwierdzenia.

2. WYPOSAŻENIE STANOWISKA POMIAROWEGO

-    Mikrometr zewnętrzny MMZc 0-25/0,01

-    Podstawa mikrometru MMZn

-    Czujnik indukcyjny I 00/L pm ze wskaźnikiem odczytowo-sygnaliza-cyjnym MOMf

-    Podstawa pomiarowa pionowa - MDZg

-    Komplet płytek wzorcowych