'
Parametry prostej b i a Y = b x + a
są błędem przypadkowym, który można wyznaczyć z rozrzutu sygnałów dla wzorców wokół prostej regresji.
2_
S0 —
m - 2
s02 - wariancja rozrzutu | ||
y, - średnia wartość sygnału | ||
y - wartość sygnału odczytana | ||
z prostej | ||
m - liczba wzorców |
lal |
Zakład Chemii Analitycznej UJ
s0 I xl
So
rnIxl2-(Zxi)2
Sb"
Z(x;-x)2
x, - stężenie i-tego wzorca x ■ średnie stężenie wzorców
Im mniejsza wartość parametru, tym mniejszy błąd przypadkowy,
współczynnik kierunkowy prostej kaiibracyjnej należy wyznaczać stosując wzorce o szerokim zakresie zmienności stężenia wzorca.
- Dr Stanisław Walas
Dr Stanisław Walas
Zakład Chemii Analitycznej UJ
f > y-y | ||
V £» x |
11 |
k ) |
b |
n m f |
IX
■> < i
Ponieważ empiryczny wykres kalibracyjny obarczony jest błędami przypadkowymi, wyznaczone z niego stężenia analitu też obarczone jest błędem przypadkowym. Błąd ten (odchylenie standardowe) można obliczyć na zasadzie propagacji błędu.
y - średni sygnał dla analitu n - liczba powtórzeń pomiaru
błąd wyznaczenia wielkości x {stężenie lub zawartość) jest tym mniejszy, im większy jest kąt nachylenia prostej kaiibracyjnej tzn. im większa jest czułość oznaczenia,
błąd ten jest tym mniejszy, im mniejszy rozrzut sygnałów wokół prostej,
błąd jest tym mniejszy, im więcej wzorców w zastosowano do
sporządzenia wykresu kaiibracyjnego.
błąd maleje ze wzrostem liczby powtórzeń pomiaru n.
btąd wyznaczenia wielkości x z wykresu kaiibracyjnego. zalezy
od rozmieszczenia wartości x, dla wzorców względem średniego
ogólnej wzorców x.
błędy te są różne w różnych fragmentach wykresu kaiibracyjnego, przy równych przyrostach x we wzorcach, minimum błędu jest w środkowej części wykresu kaiibracyjnego, btąd wyznaczenia wielkości oznaczanej zależy również od precyzji pomiaru sygnału dla próbki.
Dr Stanisław Walas
Zakład Chemii Analitycznej UJ
Stanisław Walas
Zakład Chemii Analitycznej UJ
Dokładność sporządzenia wzorców Dokładność odwzorowania matrycy,
Zachowanie ustalonych warunków pomiaru, takich samych dla wzorców i dla próbek,
Optymalne dopasowanie zależności funkcyjnej do
sygnałów analitu we wzorcach
Odrzucenie wyników obarczonych błędem grubym
J
Metoda ta stosowana jest do kalibracji oznaczeń w przypadku złożonej, trudnej do odtworzenia matrycy, która może wpływać na wynik oznaczenia, stosowana jest w prostoliniowym zakresie zależności sygnału od stężenia (zawartości), przy założeniu, że efekt matrycy jest proporcjonalny do zawartości analitu, tzn., że zmienia on tylko kąt nachylenia prostej kaiibracyjnej.
Metoda dodatków wzorca nie umożliwia eliminacji interferencji addytywnych
Dr Stanisław Walas
Zakład Chemii Analitycznej UJ
Dr Stanisław Walas
Zakład Chemii Analitycznej UJ
2