kscan
57

dmie badanej próbki znajdują się charakterystyczne linie poszukiwanego pierwiastka.

Ad b). W tym przypadku, w celu ustalenia, jakie pierwiastki znajdują się w badanej próbce, należy po wykonaniu spektrogramu zidentyfikować długości fali linii w nim występujących, a następnie odczytać z odpowiednich atlasów lub tablic, jakim pierwiastkom odpowiadają znalezione linie. Atlasy linii widmowych stanowią konieczny element wyposażenia laboratoriów spektralnych. Zawierają fotografię widma żelaza wraz ze skalą długości fali i zaznaczonym położeniem innych pierwiastków. Na rysunku 8.16 przedstawiono fragment z atlasu linii widmowych.

Analiza ilościowa

W spektrograficznej analizie ilościowej wykorzystujemy zależność między stężeniem pierwiastka w źródle wzbudzenia a natężeniem emitowanego promieniowania. Pomiędzy natężeniem / promieniowania a stężeniem c składnika w próbce istnieje następująca zależność empiryczna:

I=ac^b    (8.18)

w której a i b są to parametry charakteryzujące warunki wzbudzenia.

Funkcją natężenia promieniowania I jest zaczernienie płyty S. Można zatem metodą krzywej wzorcowej w układzie log c-S lub metodą wzorca wewnętrznego w układzie log c-AS (różnica zaczernień linii próbki i linii wzorca wewnętrznego) oznaczyć stężenie analizowanego pierwiastka. Analiza ilościowa metodą spektrograficzną jest procesem skomplikowanym i obarczona jest dużym błędem. Po wprowadzeniu metod AAS i ICP-AES bardzo rzadko wykorzystuje się klasyczną spektrografię w oznaczeniach ilościowych.

8.3.3. Plazmowa emisyjna spektrometria atomowa

Wprowadzenie(ęlazmowych źródeł wzbudzenia do AES stanowi przełom w rozwoju tej metody. Powstały bardzo czułe i selektywne techniki analityczne w analizie pierwiastkowej ^oztworów-^Nalezy wyróżnić trzy techniki wzbudzenia plazmowego:

a)    metodę z indukcyjnie sprzężoną plazmą (ICP),

b)    metodę z plazmą indukowaną mikrofalami (ang. microwave induced plasma — MIP)

c)    metodę z plazmą prądu stałego (ang. direct current plasma — DCP).

Powstały w ten sposób trzy metody atomowej spektrometrii emisyjnej:

ClCP-AES

MIP-AES

DCP-AES

164