spektroskopia035

spektroskopia035



70


Długość fali tjum ] 28    26    24    22    20    18



Rys. 36. Widma współczynnika absorpcji sieciowej w różnych temperaturach dla krzemu (a), [18] i GaAs (b) [19]


dla procesów różnicowych

E = E1—E1, n = n2 — n1.    (7.15)

Łatwo zauważyć, że funkcja rozkładu n maleje znacznie szybciej przy obniżaniu temperatury dla procesów różnicowych, niż sumacyj-nych fononów. Widać też, że większa wartość energii fononu powoduje silniejszą zależność funkcji rozkładu od temperatury.

Procesy wielofononowe odgrywają dużą rolę w materiałach o wiązaniu kowalencyjnym, ponieważ nie występuje w nich absorpcja jedno-fononowa. Wynika to z braku momentu dipolowego drgań w takich materiałach. Dwufononowa absorpcja polega natomiast na tym, że jeden typ drgań (pierwszy fonon) indukuje ładunek na atomach, a drugi typ (drugi fonon) wpływa na powstanie momentu elektrycznego umożliwiającego oddziaływanie z zewnętrznym polem elektromagnetycznym (foton). Rysunki 36a,b przedstawiają absorpcję sieciową w GaAs i Si dla kilku temperatur. Jak już mówiliśmy, w krzemie nie występują procesy jednofononowe. Natomiast w GaAs, oprócz bardzo silnych procesów jednofononowych obserwowanych w widmie odbicia (rys. 35), w zakresie energii 35—70 meV jest widoczne bogate widmo przejść dwufononowych, a w zakresie 70—100 meV — widmo przejść z udziałem trzech fononów.

W przypadku, kiedy w krysztale znajdują się defekty, możemy zaobserwować procesy absorpcyjne nie mogące zachodzić w idealnym krysztale ze względu na niespełnienie zasady zachowania wektora falowego. Zaburzenie periodyczności spowodowane obecnością defektu umożliwia oddziaływanie fotonu z pojedynczym fononem. Efekt ten jest najsilniejszy dla defektu — domieszki o dużej masie, której drgania własne występują w zakresie drgań własnych sieci krystalicznej. Obecność defektów umożliwia generację fononów z całej strefy Brillouina.

Dla lekkich atomów domieszkowych możemy zaobserwować ostre linie drgań lokalnych defektu.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Tabela 1. Podział spektroskopu w zależności od zakresu długości fali o częstotliwości drgań
skanuj0296 296 Cyfrowe oświetlenie i rendering pozwalać na kalkulację pełnego, ciągłego spektrum dłu
Miernictwo światłowodowe części na milion. Mierniki długości fali pracują porównując spektrum
Spektroskopia IR i spektroskopia Ramana jako metody komplementarne Promieniowanie o długości fali 2-
park kopia Krzywa spektralna (park) .&1     iP * Średnia długość fali (pim) o.^
trawnik kopia Krzywa spektralna (trawnik) .&1     iP * Średnia długość fali (pim)
Czas koherencji: gdzie a. jest centralną długość fali źródła i Aa. jest szerokość spektralną
Pomiarów na spektrokolorymetrze dokonywaliśmy przy długości fali ^ = 551 nm.Hanna StarzyńskaUdział
CAM00455 (3) długość fali przy której należy przeprowadzić miareczk. Spektrofot oraz narysować
CCF20110129053 Tablica 7.1. Zuktóccnia spektralne (nakładanie się linii) Pierwiastek analizowany
łąka kopia Krzywa spektralna (łąka) .&1     iP * Średnia długość fali (
pomocą spektrofotometru dokonano pomiaru dokonano pomiaru ekstynkcji próbki badanej przy długości fa
DSCF0498 (2) W zależności od zakresu długości fali RODZAJ SPEKTROSKOPII Spektroskopia kosmiczna Spek
DSC32 (7) Fale elektromagnetyczne. Spektrum Przenika atmosferę ziemską? ■ TVP promie nlowanla Długo

więcej podobnych podstron