214
M.Pok>wczyk. E.Klugmann - PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE
Obszarem roboczym tranzystora bipolarnego jest obszar półprzewodnikowy o strukturze n-p-n lub p-n-p, w którym występują dwa złącza p-n oraz n-p, rozmieszczone bardzo blisko siebie. Przez tę bliskość tranzystor nie może być traktowany jako proste szeregowe połączenie diod p-n. Oba złącza są bowiem silnie sprzężone ze sobą, co objawia się wpływem stanu, w jakim znajduje się jedno złącze, na właściwości drugiego.
Część środkowa tranzystora - tzw. baza - ma odmienny typ przewodnictwa od pozostałych obszarów tranzystora, które noszą nazwy: emiter i kolektor. Odpowiednio do nazw obszarów skrajnych złącza p-n tranzystora nazywa się "emiterowym" i "kolektorowym".
Zasady działania tranzystorów n-p-n i p-n-p są takie same. Różnice występują tylko w polaryzacji napięć i prądów. Dlatego omawianie tranzystorów bipolarnych ograniczymy do tranzystorów n-p-n.
Najbardziej rozpowszechnioną obecnie technologią wykonania tranzystorów bipolarnych jest technologia epitaksjalno-pianama.
Na rys.6.1 a,b przedstawiono przykładowe struktury tranzystorów dyskretnych n-p-n, wykonanych na podłożu n4 o grubości ok. 150pm. Na tym podłożu wytworzono warstwę epitaksjalną typu n o grubości ok. 7pm. Dolna część tej warstwy stanowi obszar kolektora. W górnej jej części jest wykonany obszar typu p, stanowiący bazę tranzystora, a najwyżej jest wytworzony kolejny obszar typu n (n4), spełniający funkcję emitera. Emiter jest oddzielony od kolektora obszarem bazy o grubości ok. 1 ftm w środkowej części struktury.
Na rys. 6.1 c przedstawiono przykładową strukturę tranzystorów wchodzących w skład układu scalonego, wykonanego na podłożu typu p. Mamy tu dwie charakterystyczne struktury: tranzystor pionowy (ang. vertical) n-p-n oraz tranzystor boczny (ang. lateral) p-n-p. Oba tranzystory są wykonane na wyspach uformowanych w warstwie epitaksjalnej typu n. Pod obszarem kolektora (C) w tranzystorze pionowym i pod obszarem bazy (B) w tranzystorze bocznym są tzw. warstwy zagrzebane n+ w celu zmniejszenia rezystancji szeregowej kolektora tranzystora pionowego i rezystancji rozproszonej bazy tranzystora bocznego.
Niezależnie od rodzaju tranzystora, każdy z jego obszarów (E, B i C) ma na części swojej powierzchni złącze metal-półprzewodnik, za pośrednictwem którego łączy się te obszary z wyprowadzeniami zewnętrznymi w tranzystorach dyskretnych lub w przypadku uładów scalonych - z innymi fragmentami układu scalonego, zgodnie ze schematem tego układu.
W układach scalonych obok wymienionych już konstrukcji tranzystorów bipolarnych spotyka się tranzystory wieloemiterowe i wielokolcktorowc (rys.6.2). Można je traktować jako odpowiednie połączenie pewnej liczby tranzystorów pojedynczych. Przykładowo, tranzystor czterocmiterowy może być traktowany jako element złożony z czterech tranzy-
C B E |
b) B £ 41 . | ||
[nJL_|_ |
1 VD \j£.J 1 [n_ | ||
| j ń* |
20pm |
n* |
;a |
!/ podłoże |
0 ('r | ||
' .......... | |||
warstwa epitaksjalna |
podłoże -1- |
J_5 | |
1 C | |||
C |
E |
E B C | |
-111 |
i r 1 | ||
W * |
UU i |
n„o tli i | |
I |
-ifed-SB-=SM | ||
n+ |
n | ||
I < Tranzystor |
•j L Tranzystor | ||
pionowy |
p boczny | ||
podłoże |
Rys. 6.1. Struktury epitaksjalne tranzystorów bipolarnych:
>) tranzystor dyskretny malej mocy, b) tranzystor mocy, c) tranzystory monolitycznych układów scalonych
storów pojedynczych w taki sposób, że wszystkie bazy są połączone ze sobą bezpośrednio i podobnie wszystkie kolektory, natomiast emitery pozostają odrębne.
W technologii epitaksjalno-planamej wytwarza się jednocześnie taką liczbę struktur tranzystorowych, jaką można zmieścić na płytce podłożowej. Po operacjach niezbędnych dla wytworzenia obszarów baz, emiterów, warstw ochronnych i metalizacji płytka jest dzielona na pojedyncze struktury, które są następnie montowane w obudowach. W tranzystorach mocy z obudową metalową struktury te są łączone bezpośrednio z podstawą obudowy, natomiast w pozostałych tranzystorach mogą one być montowane na specjalnym wsporniku lub ażurze. Na ażuize montuje się również struktury półprzewodnikowe monolitycznych układów scalonych (obudowywanych). Cała konstrukcja tranzystora jest zwarta i odporna na narażenia mechaniczne w postaci drgali i udarów, których chwilowe przyśpieszenia mogą przekraczać tysiąckrotnie przyśpieszenie grawitacyjne, co odpowiada warunkom startu rakiety z prędkością kosmiczną.