badanie 0
je zrównoważony dzielnik RC. Układ jego pokazano na rys. 7-10. Impuls zniekształcony otrzymujemy przy spełnieniu warunku:
^2 _ C i
Ri + R> C, + Cj
Rys. 7-9. Schemat ideowy równole- Rys. 7-10. Schemat ideowy dzielni-glego włączenia stałego i impulso- ka RC do pomiaru napięcia impulsowego napięcia na siatkę sterującą wego na elektrodach badanej lampy
7.4. ODTWARZANIE CHARAKTERYSTYK STATYCZNYCH LAMP GENERACYJNYCH PRZY PR,\DZIE ZMIENNYM
Przy odtwarzaniu charakterystyk statycznych generacyjnych lamp elektronowych najskuteczniejszą z podanych wyżej metod okazuje się metoda impulsowa. Jednak i ta metoda ma poważną wadę, a mianowicie moc wydzielona na elektrodach lampy przy odtwarzaniu charakterystyki jest znacznie mniejsza niż moc wydzielana w normalnych (dynamicznych) warunkach pracy lampy.
Zbliżone wartości mocy otrzymujemy natomiast przy odtwarzaniu charakterystyk statycznych przy prądzie zmiennym.
Również emisyjne właściwości katody przy odtwarzaniu charakterystyk przy prądzie zmiennym są bliższe emisyjnym właściwościom, posiadanym przez katodę w warunkach pracy dynamicznej, niż to ma miejsce przy odtwarzaniu charakterystyk metodą impulsową. Ciekawa jest metoda odtwarzania charakterystyk statycznych przy doprowadzaniu do elektrod lampy przemiennego napięcia o częstotliwości 50 Hz.
90
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
skanuj0132 (10) 244 B. Cieślar krój pokazano na rys. 6.10.2. Naprężenie w dowolnym punkcie przekroju3.1.2. Układ pomiaru ciśnienia Na Rys. 10 przedstawiono rozkład punktów pi pomiaru ciśnienia (otworyŁukasz Skibniewski, Janusz Furtak 3.3.Topologia security Topologia security jest pokazana na rys. 10scan 3 (8) Przyjmujemy spoinę o grubości a — 5 mm. Przekrój oblicze-rowy spoiny, pokazany na rys. 3.39540 Zdjęcie1582 żonego w napęd ręczny boczny, pokazano na rys. 10.3. Charakterystyka statyczna sił11. O tym, że chcemy zrobić przerwę w jedzeniu, informuje nas układ sztućców pokazany na rysunku A.13. O tym, że skończyliśmy jedzenie i można posprzątać, informuje nas układ sztućców pokazany naDSCN1624 1. Podstawy procesów odlewniczych F,=F (1.9) gdzie wysokości H i h pokazano na rys. 1.16. kmech2 173 345 Odp. 544 Zadanie 9 Układ, pokazany na rys. 257, znajdował 6ię w chwili początkowej w smech2 173 345 Odp. 544 Zadanie 9 Układ, pokazany na rys. 257, znajdował 6ię w chwili początkowej w sbadanie9 pokazana na rys. 13-9. Na rysunku tym uwidoczniony jest czas x, przyjmowany umownie za cza4.2.3.2. Przebieg pomiarów Zestawić układ pomiarowy pokazany na schemacie w pkt.Image393 jednego taktu. Jeśli zastosować układ taki jak na rys. 4.460, zbudowany z multiplekserów, tskanuj0098 (24) 176 B. Cieślar 4.20. Stalowa belka o przekroju w postaci I NP 180 jest obciążona w swięcej podobnych podstron