CAM00451 (2)

■holuję emisje promieniowania o

■    jiugości fali odpowiadającej

■    promieniom rentgenowskim i Icktrom I, kaiod) mogą oddziaływać na anodę

■    _t/g H/bud/emem „atomu - proces jest

■    związany z wybiciem elektronu z

■    wewnętrzmch warstw al pierwiastka. /

■    którego zbudowana jest anoda Na

■    powstałą lukę pr/cchod/i elektron / I wyZ-Szego poziomu energetycznego

■    wypromicnmwując pr/\ t\m energię w

■    postaci prom rentg Energia

■    pr/yspics/on>ch elektronów u.«,t du/a

■    wybiciu ulegają elektrony / powłok

■    położonych najbliżej jadra Wybiciu

■    moZc, więc ulec elektron powl >ki K a

■    jego miejsce /ajmie elektron / powłoki 9 L Energia elektronów powłok 9 wcwnetr/.nvch me /.ale/y od tego w 9 jakim /wia/ku występuję al ponieważ

H nic biorą one udziału w tworzeniu

■    wiązań Część liniowego widma rentg

■    odpowiadająca wybiciu elektronów I wewnętrznych nazywa się widmem

■    cłiaraktcrystyc/nym2 be/ w/bud/cnia

■    atomu - nie wszystkie elektrony I

■    zderzające się z anodą powodują!

■    wybicie z niej elektronów Niektóre! I elektrony są gwałtownie hamowanej I wskutek zderzenia Część widma, która! I odpowiada wyhamowaniu elektronów 1 I nazywa się prom hamowania Prom to i I jest mocno ograniczone od strony fal 3 I krótkich Granica widma hamowania* I od strony fal krótkich zależy od^

napięcia przyłożonego do katody w| lampie rentg. Nagła zmiana prędkości elektronu powoduje zmianę energii kinetycznej i emisję fotonu o energii hv. Częstotliwość emitowanego fotonu jest tym większa im silniej hamowany jest elektron Przy dużej liczbie elektronów padających na anodę prędkości ich hamowania są różne, co sprawia, że energia emitowanych fotonów jest różna Wynikiem tego jest] ciągłe    widmo    hamowania

Krótkofalowa granica widma zależy od energii elektronów, a nie zależy od materiału katody Zwiększenie energii elektronów, powoduje przesunięcie granicy widma w kierunku ^,a* krótszych METODY    \n.vli/A

PROMIENIOM ANIA REN U-t ^N analt/a na podstawie pierwotnego widma emisyjnego stosowana " spektrografii rentg. analiza zastosowaniem ubsorpeji prom rentg. anuli/u za pomocą dyfrakcji prom rentg. unnli/a na podstawie wtórnego widmu    emisyjnego    (metoda

tluorcsccncji rentg). ruiali/a z zastosowaniem mikrounulizatora renig (sondy elektronowej).    analiza z

WTÓRNEGO EM1S\ JNEGO

WIDMA

(METOD

zastosowaniem prom rentg w>wołanego cząstkami naładowanymi (protonami, cząstkami u) \N U IZA

FLUORESCENCJI    RENTGEN)

wykorzystuje się prom wtórne wywołane    uprzednim

napromieniowaniem próbki za pomocą prom rentg bądź prom gamma y (0 03-30 pm) Prom wzbudzające nazy wa się prom pierwotnym W wyniku absorpcji