CCF20110129056

Co,’, Co!

6«.<>    75.0 #7.1

»•/

ScJ

iii 107 <*1.8

yC

#**i

Analiza ilościowa

Cr_Ifl

75.1

'Cr!»

03.3 05.3 / /

Mo

35.i n 35.“

⁵l ^A

La_p

50.2

Mo

sas

80.7

Th

41.1

Mow

98.z

Pb! Fe!„

72.7    81.2

Mn

69.5! 70.0,_R W

Zr!

01.Z

NL,

97.7

Rb?

57.1

Pdl Ni!,

09.5    19.**

Nbfl

I9.s

107

Pb!

39.8

Pdm

34.7

Ti,

53.5

Zr?

74.7

Pbi

83.9

Ti;

_ 6    _ 9

Zr i    Fe is

97.5    19.9

Pb!

39.9

Ti!    Ti!

294 4U    52.9

/ \1

Ni,

75.6    83.5

\

Ni!

07.1

Hfn Ńb¹* Y;

41*3    50.8    64.6

y ;

10.3

Re

25.8

Be!

13.4

W spektrografie/,nej anali/ie ilościowej wykorzystujemy zależność między stężeniem |ili i wiastka w źródle wzbudzenia a natężeniem emitowanego promieniowania. Pomiędzy iMlęźeniem / promieniowania a stężeniem c składnika w próbce istnieje następująca nirżność empiryczna:

I=ac^b    (7.18)

w której a i Z? są to parametry charakteryzujące warunki wzbudzenia.

()d natężenia promieniowania I zależy zaczernienie płyty S. Można zatem metodą 11 żywej wzorcowej w układzie log c(S) lub metodą wzorca wewnętrznego w układzie logc(AS) (różnica zaczernień linii próbki i linii wzorca wewnętrznego) ozna-i z,yć stężenie analizowanego pierwiastka. Analiza ilościowa metodą spektrograficzną ('il skomplikowana i obarczona dość dużym błędem. Po wprowadzeniu metod AAS i l( P-AES bardzo rzadko wykorzystuje się klasyczną spektrografię w oznaczeniach ilo-'M iowych.

Bi!

96.1

-    5

Ca i

24.1 30.7

Ca,

44.<*

Rh,

510

Rh!⁷v!_R

92.¹*    03.8

04.7

Tli

75.7

Sn?

01.0

1! IR ! 181 11! i

II 1

I I

III!

1

ni im mu mu

CN

■ l*^!

1} I

II!

| i | 1 | i I i | ¹ | i I ¹ 1 M ' I ' I ' I ' I ¹ I ¹ I ' I ' I ' I ' I ' I ' ¹ ' ¹ ' I ' I ' ¹ ' ¹

3600    3650    3700    3750    3800

Rys. 7.16. Fragment widma żelaza z naniesionymi liniami innych pierwiastków

spektralnych. Zawierają fotografię widma żelaza wraz ze skalą długości fali i zaznaczonym położeniem linii innych pierwiastków. Na rysunku 7.16 przedstawiono fragmenl z atlasu linii widmowych.

13.3. Plazmowa emisyjna spektrometria atomowa

Wprowadzenie plazmowych źródeł wzbudzenia do AES stanowi przełom w rozwoju tej metody. Powstały bardzo czułe i selektywne techniki analityczne w analizie pierwiastkowej roztworów. Należy wyróżnić trzy techniki wzbudzenia plazmowego:

•    metodę z indukcyjnie sprzężoną plazmą (ICP),

•    metodę z plazmą indukowaną mikrofalami (ang. microwave induced plasmci — MIP)

•    metodę z plazmą prądu stałego (ang. direct current plasmci — DCP).

Powstały w ten sposób trzy metody atomowej spektrometrii emisyjnej: ICP-AES, Ml P-AES oraz DCP-AES.

Źródło wzbudzenia ma w tych układach znaczenie dominujące i w zasadzie określa sposób oznaczania (mówi się po prostu „oznaczono metodą ICP”). Z trzech wymienionych plazmowych źródeł wzbudzenia szerokie praktyczne zastosowanie znalazła technika ICP i dlatego tylko ten sposób wzbudzenia zostanie przedstawiony.

7.3.3.1. Wzbudzenie indukcyjnie sprzężoną plazmą (ICP)

W metodzie ICP źródłem wzbudzenia jest plazma argonowa, wytworzona w specjalnie skonstruowanym palniku plazmowym. Schemat palnika przedstawiono na rys. 7.17. Mechanizm powstawania plazmy jest następujący:

a)    Gazowy argon (bardzo czysty 99,995%) przepływa przez rurę kwarcową, która jest otoczona w swej górnej części przez cewkę indukcyjną połączoną z generatorem częstości radiowej (4-50 MHz). Najczęściej stosowane częstości to 27 lub 41 MHz.

b)    Po włączeniu generatora nic się nie dzieje, bowiem czysty argon nie jest przewodnikiem. Do utworzenia plazmy są konieczne w obszarze cewki generatora „elektrony zaszczepiające”, które wytwarza się przez krótkotrwałe wyładowania.