MG!59

MG!59



który przyjęto zapisywać w postaci

gdzie


(3.4)


AR . -R

ep


(3.5)

Wielkość A: nazywa się współczynnikiem czułości tensometru lub krótko _ stałą tensometru.

Zależność rezystancji właściwej drutu od odkształcenia nie jest dokładnie znana. P. W. Bridgman [11] podaje dla drutów rozciąganych zależność

P


A£ = (1 -2v)Ce,

gdzie:


C — współczynnik zależny od rodzaju materiału i sposobu jego obróbki. Po wstawieniu powyższej zależności do (3.5) otrzymuje się k = (1 -2v)C 11 +2v,

z czego wynika, że współczynnik czułości tensometru w zakresie odkształceń sprężystych jest wartością stałą, a w związku z tym istnieje liniowa zależność między AR/R i e.

Wartość współczynnika k jest podawana przez producenta, który przeznacza z każdej wyprodukowanej serii kilka tensometrów do wyznaczania tej stałej. Zawiera się ona w granicach od 1,6 do 2,4 dla tensometrów drutowych i osiąga wartość 300 dla tensometrów półprzewodnikowych. Należy zaznaczyć, że wyznaczona empirycznie wartość stałej k uwzględnia dodatkowo wpływy: efektu brzegowego, kształtu siatki oporowej, podkładki izolacyjną itp.

Rezystancja tensometru w istotny sposób zależy od temperatury i powodują to dwa czynniki:

a)    odkształcenie drutu oporowego na skutek różnicy cieplnych współczynników rozszerzalności liniowej: siatki oporowej aT i badanego przedmiotu ap,

b)    termiczna zmiana rezystancji scharakteryzowana współczynnikiem temperaturowej rezystywności ap.

Względny przyrost rezystancji spowodowany wzrostem temperatury o AT wyniesie więc [11]


(3.6)

Stosując odpowiednie układy pomiarowe można jednak wyeliminować wpjyw temperatury na wyniki pomiarów odkształceń.

3.2.2. Układy pomiarowe


f Mierzone odkształcenia są z reguły bardzo małe, co pociąga za sobą rów-


oież niewielkie zmiany rezystancji. W związku z tym, tensometryczne układy pomiarowe muszą być wyposażone w bardzo czułe przyrządy wskaźnikowe lub w liniowo działające wzraac-


niacze sygnału. Schemat blokowy takiego układu przedstawiono na rys. 3.6.


O


Układ pomiarowy składa się z mostka pomiarowego (/), zasila-


-f-

>

-F-


cza prądu stałego lub zmiennego (3), wzmacniacza sygnału (2) oraz przyrządu wskaźnikowego (4) lub

rejestratora (5) w postaci oscyloskopu, oscylografu albo pisaka. W skład mostka pomiarowego wchodzą najczęściej dwa tensometry i dwa rezystory wzorl cowe lub cztery tensometry. Z reguły rezystory wzorcowe mostka, zasilacz! wzmacniacz i przyrząd pomiarowy tworzą jedną obudowaną całość i urządzę-; nie takie jest nazywane potocznie mostkiem tensometrycznym.

Rezystancyjny mostek pomiarowy

Najczęściej stosuje się mostek pomiarowy Wheatstone’a. Schemat układu pokazano na rys. 3.7. Mostek składa się z czterech gałęzi utworzonych przez rezystancje /?,, ttl% i RĄ oraz źródła zasilania Z i przyrządu pomiarowego G. Jedna, dwie lub cztery rezystancje mogą być w postaci tensometrów. Mostek jest w równowadze, jeśli między punktami A i B nie ma różnicy poten-


A

oraz

stąd

Ry*. 3.7


cjałów. Oznaczając przez ix i i2 prądy płynące odpowiednio w górnej i dolnej gałęzi otrzymuje się warunek równowagi mostka




Jeżeli nie jest spełniony powyższy warunek, to między punktami A i B (rys. 3.7) istnieje różni-


79


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Równanie postaci W(x)=0 gdzie W(x) jest wielomianem stopnia n nazywamy równaniem wielomianowym
Gdzie G jest współczynnikiem proporcjonalności i nazywa się go przewodnością, a mierzy się go w sime
Gdzie G jest współczynnikiem proporcjonalności i nazywa się go przewodnością, a mierzy się go w sime
MG59 ci^?u CrfM 0 a lCuph&QCf< V    duy*^j 2*+vb*M
MG 59 Mariusz Rawski jKod U2 ^U2    ^^n-1
IMG357 przyjęcia perspektywy postaci, a równocześnie kłopoty z Jej zachowaniem widoczne są także w p
109 110 Napisz program, który czyta liczbę w postaci dwójkowej i wypisuje znak o takim właśnie kodzi
IMG278 (3) Klasyfikacja skał spągowych AGH Podobnie jak dla skał stropowych przyjęto klasyfikację sp
skanuj0114 (Kopiowanie) Czas działania tej samej dawki (40 mg) dezoksykortykosteronu wstr kniętego d
JAN PAWEŁ II PIELGRZYMKI DO POLSKI 08 z Rzymu, który przyjechał do Polski i dzisiaj jest na Jasnej
m pluta mikroskopia optyczna007 gdzie Ar oznacza określoną poprzednio krotność redukcji natężenia
Powyższe zdanie zapisujemy w postaci P ^. gdzie: p = „aksjomat (A9) KRZ ma postać (~A-B) -[(~A-~B)
GDZIE JESTEŚ EMILKO (05) —    Doczekasz się... — zabrzmiał tuż obok głos a wtedy
C trzebny nam będzie jakikolwiek klej nitrocelulozowy, który zastosujemy wszędzie tam, gdzie po

więcej podobnych podstron