1300740459

Cele: Praktyczne zapoznanie studentów z aparaturą pomiarowa oraz z zagadnieniami dotyczącymi współczesnych metod badań materiałów.

Forma zaliczenia:    Zaliczenie

Wymagana wiedza: dyfrakcja promieni rentgenowskich, krystalografia, podstawowe zagadnienia dotyczące rentgenowskiej analizy strukruralnej

Zalecana wiedza:    student powinien wykazywać zainteresowanie nowoczesnymi metodami

badań, posiadać umiejętności pracy z aparaturą oraz wyciągania wniosków z przeprowadzonych eksperymentów Zapisy na zajęcia:

Literatura:

Y.    Waseda - The structure of non-crystalline materials, Mc Graw-Hill, New York 1979 R.A. Young - The Rietveld method, Oxford’s University Press, Oxford 1993

Z.    Bojarski, E. Łągiewka - Rentgenowska analiza strukturalna, Skrypty Uniwersytetu Śląskiego nr 50, Katowice 1995

SJ. Skrzypek - Nowe możliwości pomiaru makronaprężeń własnych materiałów przy zastosowaniu dyfrakcji promieniowania X w geometrii stałego kąta padania, Uczelniane wydawnictwa Naukowo-Dydaktyczne AGH, Kraków 2002.

User of X’Pert Software - Panalytical User of WinGixa Programme Artykuły z czasopism naukowych

Nazwa przedmiotu: Forma zajęć:

Liczba godzin: Status przedmiotu:

Metody mikroskopowe - pracownia

pracownia, semestr 1 15

Opis przedmiotu

Ćwiczenia laboratoryjne mające na celu praktyczne zapoznanie się z budową i zasadą działania transmisyjnego mikroskopu elektronowego oraz analizą obrazów mikroskopowych i dyfrakcyjnych. Obejmują 5 ćwiczeń:

1.    Budowa i zasada działania mikroskopu - omówienie fizycznych podstaw działania, powstawanie obrazów mikroskopowego (w jasnym i ciemnym polu), dyfrakcyjnego, pokaz poszczególnych obrazów w mikroskopie.

2.    Preparatyka w transmisyjnej mikroskopii elektronowej - rodzaje preparatów w mikroskopii elektronowej, omówienie fizycznych i chemicznych podstaw chemicznego, elektrochemicznego i jonowego trawienia próbek, wykonanie próbek, obserwacje mikroskopowe otrzymanych preparatów.

3.    Wskaźnikowanie elektrono gramów i identyfikacja struktur

4.    Wyznaczanie grubości folii i gęstości dyslokacji

Forma zaliczenia: Wymagana wiedza: Zalecana wiedza: Zapisy na zajęcia:

zaliczenie

znajomość podstaw klasycznej transmisyjnej mikroskopii elektronowej krystalografia, nauka o materiałach w terminie przewidzianym przez regulamin studiów.

Literatura:

7