Criteria). Omówione zostaną zagadnienia związane z certyfikacją bezpieczeństwa. Przedstawione będą również specyficzne zagadnienia związane z oceną i testowaniem bezpieczeństwa systemów biometrycznych. Wykład wzbogacony będzie praktycznymi zajęciami laboratoryjnymi dotyczącymi wykrywania włamań.
2.3.2 Zakres tematyczny wykładów
TOB-W1: Testowanie bezpieczeństwa (9 godz.) Do zakresu tematycznego wykładu należą następujące zagadnienia:
• podstawowe definicje i określenia,
• obszary badania bezpieczeństwa systemów informatycznych,
• metody testowania bezpieczeństwa systemów informatycznych,
• techniki badania szczelności i efektywności zabezpieczeń systemów informatycznych,
• ocena właściwości zabezpieczeń systemów informatycznych według Wspólnych Kryteriów (Common Criteria),
• testowanie zabezpieczeń przy wykorzystaniu narzędzi informatycznych,
• praktyczne aspekty testowania i oceny bezpieczeństwa systemów bezpieczeństwa.
P-TO-W2: Certyfikacja bezpieczeństwa (12 godz.) Do zakresu tematycznego wykładu należą następujące zagadnienia:
• certyfikacja a System Zarządzania Bezpieczeństwem Informacji,
• problem certyfikacji systemów informatycznych,
• metody certyfikacji systemów informatycznych,
• akredytacja systemu TI przetwarzającego informacje niejawne,
• certyfikacja ABW i SKW urządzeń i narzędzi kryptograficznych przeznaczonych do ochrony informacji niejawnych,
• certyfikat bezpieczeństwa systemu informatycznego w praktyce.
P-TO-W3: Testowanie bezpieczeństwa systemów biometrycznych (6 godz.) Do zakresu tematycznego wykładu należą następujące zagadnienia:
• podstawowe definicje i określenia,
• metody testowania bezpieczeństwa systemów biometrycznych,
• ocena podatności systemów biometrycznych,
• badanie skuteczności systemów biometrycznych a wskaźniki fałszywych odrzuceń (FRR) i fałszywych akceptacji (FAR),
• testowanie algorytmów biometrycznych,
• certyfikacja urządzeń biometrycznych.
Bezpieczeństwo systemów informacyjnych wraz z technikami biometrycznymi | Folder informacyjny studiów podyplomowych | www.BezpieczenstwoBiometria.org.pl | © IAilS PW 2011-2013