3725451510

3725451510



i spektroskopii poszerzenia dopplerowskiego. Wykorzystano również wiązkę powolnych pozytonów i koincydencyjną spektroskopię poszerzenia dopplerowskiego. Pozwoliło to przeprowadzić badania warstwy wierzchniej w całym zakresie głębokości, która w przypadku czystego aluminium poddanego tarciu może sięgać nawet kilkuset mikrometrów, jak również zbadać warstwę przypowierzchniową do głębokości kilku mikrometrów. Starano się znaleźć związek miedzy obrazem warstwy wierzchniej otrzymanym za pomocą spektroskopii anihilacji pozytonów a innymi jej własnościami oraz zużyciem.

Szczegółowe cele pracy:

^ Sprawdzenie, czy zmiany charakterystyk anihilacyjnych w aluminium i stopach tego metalu mogą służyć do określenia rodzaju i/lub zmian koncentracji defektów w warstwie wierzchniej powstałych w procesie tarcia lub w wyniku innych modyfikacji powierzchni próbek.

>    Przeprowadzenie pomiarów anihilacji pozytonów w warstwie wierzchniej nie tylko dla układu modelowego, jakim jest pozbawione defektów, wygrzane aluminium wysokiej czystości, lecz przede wszystkim dla technicznych stopów tego metalu, które mają zastosowania praktyczne, a ich skomplikowana mikrostruktura związana zarówno ze składem chemicznym jak i procesem utwardzania wydzieleniowego może być przeszkodą w interpretacji otrzymanych wyników

i* Porównanie zależności odzwierciedlających profile defektów otrzymanych w warstwie wierzchniej dla próbek poddanych tarciu, ściskaniu, piaskowaniu lub wciskaniu kulistego wgłębnika.

>    Powiązanie otrzymanych zależności czasów życia pozytonów lub wartości parametru S z innymi wielkościami charakteryzującymi warstwę wierzchnią standardowo stosowanymi w tego typu badaniach, takimi jak mikrotwardość, wartość odkształcenia przy ścinaniu poniżej powierzchni lub wielkość krystalitów otrzymana z pomiarów za pomocą dyfrakcji promieniowania X, porównanie z obrazami przekrojów poprzecznych warstwy wierzchniej otrzymanymi za pomocą skaningowej mikroskopii elektronowej SEM lub wartościami naprężeń otrzymanymi w wyniku obliczeń teoretycznych.

^ Zastosowanie bardziej zaawansowanych technik pomiarowych takich jak koincydencyjna spektroskopia poszerzenia dopplerowskiego do badań próbek stopów i kompozytów na osnowie stopów aluminium poddanych tarciu i sprawdzenie, czy

9



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
- poszerzenie linii widmowych - = poszerzenie dopplerowskie Avd=2 Vq
Do badań odporności na wstrząsy cieplne materiałów magnezjowo-spinelowych wykorzystano również
scan0 Micro TWISTart jest tak bardzo cienki, że może być wykorzystywany również do zrobienia o
Ztrapez Pytanie 4 Wzór Bayesa możemy wykorzystać również do... a)    Schematu
(11) 2. Przebieg eksperymentu W doświadczeniu wykorzystujemy równię pochylą wykonaną z kątownik, ti
Spektroskopia masowa- metoda wykorzystywana zjawisko jonizacji analizowanego związku Jony molekularn
Zastosowanie analitycznego procesu hierarchicznego (AHP)... 1633 W projekcie wykorzystano również in
Atomowa spektrofotometria absorpcyjna (ASA), zwana również absorpcją atomową, polega na pomiarze
Grażyna Łaska W opracowaniu danych analogowych wykorzystano również arkusze map geomorfologicznych i
Untitled 6 (5) 18.    Zapro
31567 skanuj0228 (3) Rozdział 8. ♦ Cookies i sesje 241Śledzenie użytkownika Sesje można wykorzystać
Kino i film wykorzystywano również do szerzenia propagandy. Pierwszym tego rodzaju filmem był r
9 Wykorzystano również, chociaż na pewno znacznie mniej kompletnie, materiał ikonograficzny. Wydatne
66 Małgorzata Gorczyńska w latach 1875-1899.14 Tablice te zostały wykorzystane również na następnej

więcej podobnych podstron