background image

WYKORZYSTANIE PARAMETRYCZNYCH TESTÓW 

ISTOTNOSCI DO MONITOROWANIA PROCESÓW 

PRODUKCYJNYCH

PROCEDURY KONTROLNE 

(KARTY KONTROLNE)

SHEWHARTA

(18 III 1891 – 11 III 1967) doktor fizyki, obywatel Stanów Zjednoczonych

background image

Walter Shewhart urodził się 18 marca 1891 roku w New Canton w stanie Illinois. Studiował 
fizykę  na  uniwersytecie  stanowym,  a  następnie  na  Uniwersytecie  California    w  1917  roku 
uzyskał  stopień  doktora  nauk.  Od  1918  związany  z  przedsiębiorstwem  Western  Electric 
Company  wytwarzającej  sprzęt  telefoniczny  dla  Bell  Telephone.  Od  1925  roku  rozpoczął 
pracę w Bell Telephone Laboratories i był z nim związany aż do 1956 roku. Swoje pomysły 
i  przemyślenia  na  temat  możliwości  stosowania  narzędzi  statystycznych  w  zarządzaniu 
przedsiębiorstwem publikował w serii gazetek „Bell System Technical Journal”. Dla potrzeb 
monitorowania  zmienności  procesów  W.  Shewhart  w  1924  roku  stworzył  specjalne 
procedury  kontrolne  nazywane  kartami  kontrolnymi,  kartami  sterowania  jakości  lub  po 
prostu kartami Shewharta. Podstawowym założeniem kart kontrolnych jest, że uregulowany 
proces  powinien  utrzymywać  się  w  granicach  tolerancji.  Granice  te  nazywane  są  tutaj 
liniami  kontrolnymi.  W  ujęciu  graficznym  karta  jest  wykresem  (zbiorem  wykresów),  na 
którym  zaznacza  się  punkty  będące  wartościami  charakterystyk  procesów  obliczanych  na 
podstawie  okresowo  pobieranych  próbek.  W  okresie  II  wojny  światowej  koncepcje 
Shewharta  wykorzystywano  w  przemyśle  zbrojeniowym.  Karty  kontrolne  stały  się  część 
składową  norm  Z1.1,  Z1.2  (1941)  oraz  Z1.3  (1942).  Shewhart  był  również  wykładowcą 
uniwersytetów  Illinois,  Kalifornia,  Harvard,  Princeton,  gdzie  wykładał  min.  sterowanie 
jakością i statystykę. Był również redaktorem naczelnym publikacji „Mathematical Statistics 
Series”.  Do  najważniejszych  jego  dzieł  należy  zaliczyć:  książkę  „Economic  Control  of 
Quality Of Manufactured Produkt” (1931) oraz „Statistical Metod of Quality Control”(1939). 
Za  swoje  osiągnięcia  został  uhonorowany  wieloma  oznaczeniami  i  tytułami  min.  otrzymał 
honorowe członkostwo Amerykańskiego Towarzystwa Jakości, które również od 1948 roku 
ustanowiło  medal  Shewharta  nadany  takim znakomitościom  jak: W. Deming,  K.  Ishikawa, 
czy G. Taguchi. W. Shewart zmarł 11 marca 1967 roku w Troy Hills w stanie New Jersey. 

background image

AGREGAT

PRODUKCYJNY

BLOK
POMIAROWY

BLOK
ANALIZUJĄCY

Sygnał o rozregulowaniu
procesu

OPERATOR
AGREGATU
PRODUKCYJNEGO

Strumień produktu

odbiorca

regulacja

Surowce
Energia
informacje

Schemat systemu bieżącej kontroli jakości

background image

Sygnał

wejściowy

Sygnał

wyjściowy

Cykl Shewharta

3

Dokonaj

korekty

procesu

2

Dokonaj 

identyfikacji 

przyczyn 

wykrytego 
zakłócenia

Sprawdź

skuteczność

dokonanej korekty i 

wykorzystaj ją

1

Wykryj

systematyczne

(nielosowe) zakłócenie 

procesu

background image

Z: D ma rozkład normalny 
o wartości oczekiwanej E(D) = Q

0

Zależność pomiędzy postacią hipotezy zerowej i alternatywnej 
a postacią graficzną diagramu przeglądowego Shewharta

    f(D)   

 

 

 

 
 
     

 

 

 

 

 
 
     

 

   

 

     

 

 

d

D

    

                  

g

D

 

                                                    E(D) 

 

2

α

2

α

α

1

H

o

: Q = Qo

H

1

: Q ≠ Qo

D

Linia centralna

Dolna linia 
kontrolna

Górna linia 
kontrolna

t

D

1       2       3        4        5        6

obszar

tolerancji

obszar krytyczny

obszar krytyczny

background image

Zależność pomiędzy postacią hipotezy zerowej i alternatywnej 
a postacią graficzną diagramu przeglądowego Shewharta

Z: D ma rozkład normalny 
o wartości oczekiwanej E(D) = Q

0

H

o

: Q ≤ Qo

H

1

: Q > Qo

D

Linia centralna

Górna linia 
kontrolna

t

D

1       2       3        4        5        6

obszar

tolerancji

obszar krytyczny

    f(D)   

 

 

 

 
 
     

 

 

 

 

 
                                                   1 – α          
     

 

                          

 

 

α 

 

     

 

 

 

                  

g

D

 

                                                    E(D) 

 

background image

Zależność pomiędzy postacią hipotezy zerowej i alternatywnej 
a postacią graficzną diagramu przeglądowego Shewharta

Z: D ma rozkład normalny 
o wartości oczekiwanej E(D) = Q

0

H

o

: Q ≥ Qo

H

1

: Q < Qo

D

Linia centralna

Dolna linia 
kontrolna

t

D

1       2       3        4        5        6

obszar

tolerancji

obszar krytyczny

α

α

1

D

    f(D)   

 

 

 

 
 
     

 

 

 

 

 
 
     

 

   

 

     

 

 

          

d

D

    

                   

                                                    E(D) 

 

background image

Typ zmiennej 

typ ograniczenia 
przedziału 
tolerancji 

linie służące do 
rejestracji 
rozregulowania 

linie służące do 
rejestracji postępu 
technologicznego 

nominata jakości  obustronne 

H

o

: Q = Q

H

1

: Q 

≠ Q

 

GLK; DLK 

LC 

destymulanta 
jakości 

prawostronne 
H

o

: Q 

≤ Q

H

1

: Q > Q

 

GLK 

DLK 

symulanta 
jakości 

lewostronne 
H

o

: Q 

≥ Q

H

1

: Q < Q

 

DLK 

GLK 

 
DLK – dolna linia kontrolna 
GLK – górna linia kontrolna 
LC – linia centralna 
 

 

background image

Wybrane karty kontrolne 

Shewharta

background image

Karta kontrolna         

x

Założenia:
X ma rozkład normalny lub zbliżony do normalnego, o stałym i znanym 
odchyleniu standardowym.
Hipotezy:

Charakterystyka z próby: 

Linie kontrolne:

H

o

µ = µ

o

H

1

µ ≠ µ

o      

H

o

µ ≤ µ

o

H

1

µ > µ

o

H

o

µ ≥ µ

o

H

1

µ < µ

o     

t

n

i

t

i

t

n

x

x

t

=

=

1

o

o

d

o

g

LC

n

u

x

n

u

x

µ

σ

µ

σ

µ

ε

α

=

=

+

=

o

o

d

o

g

LC

n

u

x

n

u

x

µ

σ

µ

σ

µ

α

α

=

=

+

=

2

2

o

o

d

o

g

LC

n

u

x

n

u

x

µ

σ

µ

σ

µ

α

ε

=

=

+

=

NORMATYWNA METODA INSTALOWANIA KARTY KONTROLNEJ

background image

Stabilizacyjna  metoda  instalowania  karty  kontrolnej  (metoda 
bez znanych wartości normatywnych) 
 Szacowanie  średniego  poziomu  procesu  oraz  odchylenia 
standardowego 

k

x

x

k

t

t

=

=

1

,

(

)

k

x

x

s

k

t

t

x

=

=

1

2

,  gdzie  k  –  liczba  pobranych  próbek  o  stałej 

liczności n 
Linie  kontrolne  (dla  dwustronnego  ograniczenia  przedziału 
tolerancji): 

x

d

x

g

s

u

x

x

s

u

x

x

2

/

2

/

α

α

=

+

=

 

Jeżeli  nie  da  się  zagwarantować  stałej  liczności  próby  podczas 
badań wstępnych to wówczas: 

=

=

=

k

t

t

k

t

t

t

n

x

n

x

1

1

, oraz 

(

)

1

1

2

=

=



x

x

s



i

i

, linie kontrolne

n

s

u

x

x

n

s

u

x

x

d

g

2

/

2

/

α

α

=

+

=

 

background image

Karty kontrolne średnich ruchomych 

1

1

1

1

1

1

)

(

...

...

+

+

+

+

+

+

+

+

+

=

r

t

t

t

r

t

r

t

t

t

t

t

t

r

d

d

d

d

d

d

η

η

η

η

 

r

r

t

t

t

t

r

1

1

)

(

...

+

+

+

+

=

η

η

η

η

 

 

r

x

x

x

x

r

t

t

t

t

r

1

1

)

(

...

+

+

+

+

=

 

 

rn

u

x

x

rn

u

x

x

g

r

d

r

/

,

/

2

/

0

)

(

2

/

0

)

(

σ

σ

α

α

+

=

=

 

 

Wykładniczo ważona średnia ruchoma (λ∈[0,2; 0,5])   

*

1

*

)

1

(

+

=

t

t

t

x

x

x

λ

λ

 

n

u

x

x

n

u

x

x

g

d

)

2

/(

,

)

2

/(

2

/

0

*

2

/

0

*

λ

λ

λ

λ

α

α

+

=

=

 

 

 

background image

Załóżmy,  ze  przedział  tolerancji  zmiennej  diagnostycznej  X  ma 
postać  
 

X = [13.0; 14.0]                      

 

 

 

 

 

 
a  wartość  nominalna  x

o

 = 13.5.  Załóżmy  również,  że  zmienna 

diagnostyczna  X  jest  zmienną  losową  o  normalnym  rozkładzie 
prawdopodobieństwa 

stałym 

znanym 

odchyleniu 

standardowym  σ  =  0.20.  Przyjmijmy,  że    istnieje  możliwość 
oddziaływania  na  wartość  oczekiwaną  zmiennej  X  i  ustalenia  jej 
na  dowolnym  poziomie  µ ∈ X

o

.  W  celu  zminimalizowania 

wadliwości  (p)  należy  przyjąć  µ  =  x

o

    =  13.5.  Mamy  więc 

X~N(13.5;  0.20).W  odniesieniu  do  największej  dopuszczalnej 
wadliwości przyjmijmy, że p'  = 0.03 (3%). 
Na  podstawie  przyjętych  założeń  można  ocenić  wydolność 
procesu.  

background image

p = P(X < 13.0) + P(X > 14.0) =  
 

  = Φ[(13.0 - 13.5)/0.20] + Φ[(14.0 - 13.5)/0.20] =                     

 

  = Φ(-2.50) + 1 - Φ(2.50) =  

 

  = 2 * 0.00621 = 0.01242 (1.242%) 

 
Ponieważ  p  =  0.01242  <  p'

o

  =  0.03,  przeto  proces  jest 

wystarczająco  wydolny,  by  sprostać  wymaganiom  odbiorcy 
produktu.  Dla  potrzeb  sterowania  procesem  należy  przyjąć,  że 
p

o

 = 0.01242  (1.242%),  albowiem  pozwoli  to  wykorzystać 

wszystkie  możliwości  jakimi  dysponuje  proces.  Otwiera  to  też 
pewne możliwości  negocjacji cenowych  w  przyszłości, albowiem 
pozwala  oczekiwać  wyższej  jakości  niż  ta  na,  którą  zgodził  się 
odbiorca.  Wadliwość  1.242%  uzyskuje  się  wówczas  gdy 
µ

t

 = x

o

 = 13.5.  

background image

Hipotezy: 
 

H

o

: µ

t

 = 13.5 

 

 

 

 

 

 

 

 

H

1

: µ

t

 ≠ 13.5 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
Prawdopodobieństwo  zbędnej  regulacji  (α)  ustalimy  na  poziomie  0.01. 
Ponieważ  rozregulowanie  procesu  może  się  nastąpić,  albo  przez 
przesunięcie  µ

t

  ku  wartościom  niższym  od  13.5  albo  ku  wartościom 

wyższym  od  13.5,  przeto  mamy  do  czynienia  z  dwustronnym  schematem 
kontrolnym. Przy wyznaczaniu równań linii kontrolnych należy więc wziąć 
pod uwagę wartość u

α/2

 = u

0.005

 . Wartość tego kwantyla zmiennej losowej 

U odczytujemy z następującego zestawienia: 
 

α  0.005  0.010  0.025  0.050  0.100 

u

α

 

2.576  2.326  1.960  1.645  1.282 

 
W  każdym  kroku  postępowania  kontrolnego  pobierana  jest  do  badania 
pięcioelementowa 

próbka 

(n = 5). 

Równania 

linii 

kontrolnych 

przedstawiają się następująco: 
 

73

.

13

5

20

.

0

576

.

2

5

.

13

x

g

=

+

=

 

 

27

.

13

5

20

.

0

576

.

2

5

.

13

x

g

=

=

 

Wyniki badania kolejnych próbek przedstawiono w poniższej tablicy 

 

background image

 

 

x

t.i

 

 

t

x  

13.5 

13.4 

13.5 

13.0 

13.4 

13.36 

13.0 

13.4 

13.0 

13.5 

13.5 

13.28 

13.5 

13.9 

13.5 

13.5 

13.6 

13.60 

13.6 

13.8 

13.8 

13.5 

13.7 

13.68 

13.7 

13.8 

13.9 

14.0 

13.9 

13.86 

13.9 

13.8 

14.0 

13.9 

14.0 

13.92 

13.8 

13.6 

13.5 

13.5 

13.8 

13.70 

13.5 

13.6 

13.5 

13.4 

13.3 

13.46 

13.6 

13.5 

13.5 

13.4 

13.4 

13.48 

10 

13.4 

13.0 

13.4 

13.2 

13.4 

13.28 

 

background image

13,2

13,3

13,4

13,5

13,6

13,7

13,8

13,9

14

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

t

x

śr

e

d

n

ie

 

GLK

LC

DLK

KARTA X - średnie

background image

 

t

x

 

średnia z 3 

połączonych próbek  

13,36 

 *  

13,28 

 *  

13,6 

  13,41     

13,68 

  13,52     

13,86 

  13,71     

13,92 

  13,82     

13,7 

  13,81     

13,46 

  13,68     

13,48 

  13,53     

10 

13,28 

  13,41     

 

background image

KARTA X – średnie 

i karta średnich ruchomych

12,9

13

13,1

13,2

13,3

13,4

13,5

13,6

13,7

13,8

13,9

14

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

Serie1

Serie2

GLK

DLK

GLK **

DLK**

LC

background image

Jak  łatwo  zauważyć  w  rezultacie  badania  próbki  o  numerze  t = 5  uzyskano  średnią 
arytmetyczną  przekraczającą  górną  granicę  regulacji.  Mamy 

mianowicie 

73

.

13

87

.

13

5

=

>

=

g

x

x

.  Podjęte  czynności  regulacyjne  nie  przyniosły  spodziewanego 

rezultatu i w kolejnej próbce (t = 6) uzyskano 

73

.

13

86

.

13

6

=

>

=

g

x

x

. Podjęte działania 

usunęły  przyczynę  rozregulowania.  Na  uwagę  zasługuje  to,  że  w  próbkach,  które 
doprowadziły  do  emisji  sygnałów  o  rozregulowaniu  procesu  wszystkie  wartości  x

t,i

mieściły  się  w  przedziale  tolerancji.  Zdolność  do  reagowania  na  małe  zmiany  w 
obserwowanym procesie jest bardzo cenną właściwością karty kontrolnej 

x

 i innych 

kart  stosowanych  w  przypadku  liczbowej  oceny  właściwości.  Liczbowa  ocena 
właściwości  pozwala  na  znacznie  lepsze  wykorzystanie  informacji  o  produkcie  i 
procesie,  zawartych  w  rezultatach  badania  próbki,  niż  alternatywna  ocena 
właściwości. 

 

Wnioski:

background image

Karty kontrolne                             (karty dwutorowe)

r

x

S

x

 

i

  

Założenia:
X ma rozkład normalny lub zbliżony do normalnego, o zmiennym i nieznanym 
odchyleniu standardowym.
Hipotezy: Obok hipotez dotyczących wartości oczekiwanej 

µ konstruuje się

hipotezy dotyczące odchylenia standardowego σ, które najczęściej przedstawiają
się następująco:

H

o

: σ ≤ σ

o

H

1

: σ > σ

o

Do weryfikacji powyższych hipotez, wykorzystuje się 
albo odchylenie standardowe z próbki  
(przy karcie 

s

x −

 

 

1

1

2

)

(

=

=

n

t

ti

n

i

t

x

x

s

                         

albo rozstęp z próbki 
(przy karcie 

r

x −

 

r

t

  = x

t.max

 – x

t.min

                       

 

 

background image

Linie kontrolne dla toru kontrolnego S:
Jeżeli (n ≥ 30)

+

=

+

=

n

u

u

s

n

g

2

1

0

2

0

0

α

α

σ

σ

σ

=

=

n

u

u

s

n

d

2

1

0

2

0

0

ε

ε

σ

σ

σ

Jeżeli (n < 30)

(

)

1

2

;

1

0

=

n

n

g

s

χ

σ

α

(

)

1

2

1

;

1

0

=

n

n

d

s

χ

σ

ε

gdzie 

χ

α

2

;

1

n

χ

ε

2

1

;

1 −

n

są takimi wartościami zmiennej losowej chi-kwadrat o (n-1) stopniach swobody, że:

(

)

α

χ

α

χ

=

>

2

;

1

2

1

n

n

P

(

)

ε

χ

ε

χ

=

>

1

2

1

;

1

2

1

n

n

P

background image

Linie kontrolne dla toru kontrolnego R: 

Linia centralna 

n

n

d

r

0

0

.

σ

=

 

 
 

)

(

0

0

0

.

n

n

n

n

g

n

f

u

d

f

u

d

r

α

α

σ

σ

σ

+

=

+

=

 

 

)

(

0

0

0

.

n

n

n

n

d

n

f

u

d

f

u

d

r

ε

ε

σ

σ

σ

=

=

 

 
Wartości współczynników d

n

 i f

n

 są stablicowane. 

 

background image

Przykład 
Przedział tolerancji zmiennej diagnostycznej X ma postać: 
X

+

=[13,0; 15,0], a wartość nominalna (docelowa) została 

ustalona na poziomie x

0

 = 14,0. Zmienna X ma rozkład 

zbliżony do normalnego. Posiadane urządzenia 
technologiczne pozwalają na takie zorganizowanie procesu 
produkcji, by wartość oczekiwana (µ) zmiennej X pokrywała 
się z wartością nominalną (x

0

 = µ = 14). Odchylenie 

standardowe σ zmiennej losowej X pozostaje nieznane. Na 
jakim najwyższym poziomie σ

0

 może kształtować się to 

odchylenie standardowe, jeżeli żądamy, by poprodukcyjna 
wadliwość produktu (p) nie przekroczyła p

0

 = 0,03? 

Ustalanie wartości maksymalnego dopuszczalnego 
odchylenia standardowego 

σ

0

background image

Przedział tolerancji zmiennej diagnostycznej X ma postać: 
X

+

=[13,0; 15,0], a wartość nominalna (docelowa) została 

ustalona na poziomie x

0

 = 13,7. Wartość ta nie pokrywa się 

ze środkiem przedziału x

 = 14

. Odchylenie standardowe σ 

zmiennej losowej X pozostaje nieznane. Na jakim 
najwyższym poziomie σ

0

 może kształtować się to 

odchylenie standardowe, jeżeli żądamy, by poprodukcyjna 
wadliwość produktu (p) nie przekroczyła p

0

 = 0,03? 

background image

W procesie bieżącej kontroli jakości monitorowano czas przejazdu pociągów pomiędzy dwoma 
miejscowościami. Załóżmy, że uważa się, że podróż odbywa się bez zakłóceń, jeżeli przeciętny czas 
potrzebny na pokonanie badanego odcinka wynosi µ = 35 min., przy odchyleniu standardowym σ = 
3,5 min. Przystąpiono do monitorowania czasu przejazdu. Wyniki uzyskana w początkowych 10 
okresach badania przedstawia poniższa tablica. 

 

w kolumnie 7 zestawiono średnie arytmetyczne obliczone z czasów przejazdów 5 losowo 
wybranych pociągów, w kolumnie 8 odchylenia standardowe, a w kolumnie 9 rozstęp z próby. 
Podczas wyznaczania linii kontrolnych założono prawdopodobieństwo zbędnej regulacji procesu na 
poziomie α = 0,05. Na takim samym poziomie ustalono prawdopodobieństwo fałszywej emisji 
sygnału o korzystnych zmianach w badanym procesie.  

x

t

.

i

 

t

x

 

s

t

 

r

t

 

30 

33 

31 

45 

38 

35,4 

6,19 

15 

32 

30 

39 

31 

31 

32,6 

3,65 

34 

38 

31 

38 

37 

35,6 

3,05 

42 

30 

44 

37 

33 

37,2 

5,89 

14 

33 

32 

41 

36 

44 

37,2 

5,17 

12 

33 

39 

37 

41 

33 

36,6 

3,58 

30 

33 

37 

35 

43 

35,6 

4,88 

13 

36 

32 

35 

38 

30 

34,2 

3,19 

36 

33 

40 

43 

31 

36,6 

4,93 

12 

10 

31 

34 

33 

43 

41 

36,4 

5,27 

12 

background image

 Granice tolerancji na torze kontrolnym  x , wyznaczono korzystając z równań: 

35

31,93211

5

5

,

3

96

,

1

35

38,06789

5

5

,

3

96

,

1

35

2

2

=

=

=

=

=

=

+

=

+

=

o

o

d

o

g

LC

n

u

x

n

u

x

µ

σ

µ

σ

µ

α

α

 

Wszystkie uzyskane średnie czasy mieszczą się w obszarze tolerancji. Nie ma więc podstaw do 
odrzucenia hipotezy zerowej H

0

µ = µ

= 35, na korzyść hipotezy alternatywnej H

1

µ ≠ µ

= 35. Nie 

ma podstaw do emisji sygnału o rozregulowaniu procesu ze względu na jego przeciętny poziom. 
Przeprowadźmy zatem analizę procesu po względem jego zmienności. Poddajmy weryfikacji 
następującą hipotezę zerową:  
H

0

σ ≤ σ

0

 = 3,5 min wobec hipotezy alternatywnej H

1

σ > σ

0

 = 3,5. Górna linia kontrolna na torze 

kontrolnym 

S będzie leżeć na poziomie  

(

)

5,390455

4

/

488

,

9

5

,

3

1

2

;

1

0

=

=

=

n

n

g

s

χ

σ

α

, natomist dolana w oparciu o którą śledzić 

będziemy sygnały o korzystnych zmianach w porcesie znajdzie się na poziomie

    

(

)

1,475614

0,711/4

35

1

2

1

;

1

0

=

=

=

n

n

d

s

χ

σ

ε

Porównując kolejne wartości odchyleń standardowych z wyznaczonymi granicami kontrolnymi, 
można dojść do wniosku, że w punktach dla t = 1 oraz t = 4 wartości obserwowanych odchyleń 
standardowych przekroczyły górną linię kontrolną i należy wygenerować sygnał o rozregulowaniu 
badanego procesu i przyjąć jako prawdziwą hipotezę H

1

 z prawdopodobieństwem błędu niewiększym 

niż α = 0,05. Brak jest natomiast powodów do emisji sygnału o korzystnych zmianach w procesie, 
gdyż żadna z wartości s

t

 nie leży poniżej dolnej linii kontrolnej s

d

 
 

background image

Hipotezy dotyczące wariancji można również zweryfikować wykorzystując 
tor kontrolny R. 
Linie kontrolne :

13,023115

0,848)

1,645

2,32593

(

5

,

3

)

(

0

0

0

.

=

+

=

+

=

+

=

n

n

n

n

g

n

f

u

d

f

u

d

r

α

α

σ

σ

σ

,

3,258395

0,848)

1,645

-

2,32593

(

5

,

3

)

(

0

0

0

.

=

=

=

=

n

n

n

n

d

n

f

u

d

f

u

d

r

ε

ε

σ

σ

σ

.

Podobnie jak w przypadku toru kontrolnego S należy się spodziewać
wygenerowania sygnału o rozregulowaniu procesu w punktach 
dla r

1

i r

6

, gdyż te wartości znajdą się powyżej górnej linii kontrolnej r

g

.

Wykresy analizowanych torów kontrolnych przedstawiają poniższe rysunki

background image

Tor x - średnie

25

26

27

28

29

30

31

32

33

34

35

36

37

38

39

40

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

t

x

re

d

n

ie

GLK

DLK

LC

background image

Tor kontrolny S

-

 

1,00 

2,00 

3,00 

4,00 

5,00 

6,00 

7,00 

0

2

4

6

8

10

12

t

o

c

h

y

le

n

ie

 s

ta

n

d

a

rd

o

w

e

GLK

DLK

LC

background image

Tor kontrolny R

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

0

2

4

6

8

10

12

t

ro

z

st

ę

p

GLK

DLK

LC

background image

Karta kontrolna

z”

Założenia:
X jest zero-jedynkową zmienną losową postaci: X=

dla każdego t n

t

= n

Hipotezy:

Charakterystyka z próby: 

Linie kontrolne:

H

o

: p ≤ p

o

H

1

: p > p

o

=

=

n

i

i

t

x

z

1

o

o

o

o

d

o

o

o

g

np

LC

p

np

u

np

z

p

np

u

np

z

=

=

+

=

)

1

(

)

1

(

ε

α

0,

gdy jednostka produktu 

spełnia wymagania jakościowe,

1, gdy jednostka produktu

nie spełnia wymagań jakościowych

{

background image

Charakterystyka z próby: 

 

n

x

n

z

w

n

i

i

t

t

t

=

=

=

1

.

                      

 

 
Położenie linii centralnej określa wzór 

 

0

0

0

0

p

n

np

n

z

w

=

=

=

                          

Równanie górnej linii kontrolnej ma postać 

 

n

/

)

p

1

(

p

u

  

  

p

w

0

0

0

g

+

=

α

            

Położenie dolnej linii  kontrolnej  (nie  będącej  granica  regulacji) 
wyznacza równanie 

 

n

/

)

p

1

(

p

u

  

  

p

w

0

0

0

d

=

ε

        

 

 

KARTA KONTRLNA „w”

background image

Załóżmy, że w procesie bieżącej kontroli jakości monitorowana jest zmienna diagnostyczna X opisująca jakość śrub 
wykorzystywanych do montażu elementów trakcji kolejowej. Zmienna ta przyjmuje dwie wartości „0” i „1”, „0” jeżeli 
śruba ma poprawnie wykonany gwint, na który z łatwością daje się nakręcić nakrętkę, oraz przyjmuje „1”, gdy gwint 
jest źle wykonany i nakręcenie na śrubę nakrętki jest niemożliwe. Załóżmy, że proces produkcji śrub jest uregulowany, 
jeżeli frakcja śrub wadliwych p ≤ 0, 1 (10%), natomiast proces produkcji zostanie uznany za rozregulowany, jeżeli p > 
0,1 (10%). Należy ocenić przebieg procesu produkcji śrub, jeżeli w rezultacie przeprowadzonych badań uzyskano 
następujące wyniki: 

 

10 

10 

11 

12 

13 

14 

15 

16 

17 

18 

19 

20 

 
 
 
 
 
 
 
 

x

suma 

z

t

 

 Podczas weryfikacji założyć, że α = β =0,05 
 

background image

Rozwiązanie: 
n = 20, α = ε = 0,05, 
H

0

: p ≤ p

0

 = 0,1 

H

1

: p > p

0

 = 0,1 

 

2

0,280618

9

,

0

2

645

,

1

2

)

1

(

3,719382

9

,

0

2

645

,

1

2

)

1

(

=

=

=

=

=

=

+

=

+

=

o

o

o

o

d

o

o

o

g

np

LC

p

np

u

np

z

p

np

u

np

z

ε

α

 

Porównując otrzymane wartości z

t

 z liniami kontrolnymi, należy 

stwierdzić, że sygnał o rozregulowaniu zostanie wygenerowany (będą 
podstawy do przyjęcia H

1

) w momentach t =1, 4,7 i 9, gdyż wówczas 

wartości obserwowanej statystyki z

t

 będą większe od wartości z

g

. Sygnały o 

postępie technologicznym pojawią się natomiast dla t = 6, gdyż (z

6

 < z

d

). 

background image

Karta z (np)

0

1

2

3

4

5

6

7

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

t

z

t

z

g

z

d

LC

background image

Zadanie 1 
Pewien proces produkcyjny kontrolowano za pomocą karty x-średnie, 
przy  czym  σ

σ

σ

σ  =  1,  µ

µµ

µ

οοοο

  =  10,  n  =  4  i  α

α

α

α =ε= 0,05,  a  przedział  tolerancji 

ograniczony jest prawostronnie. Uzyskano następujące wyniki: 

t

x

 

9.8 

10.2 

10.3 

9.9. 

10.9 

10.1 

9.7 

11.1 

8.9 

Skonstruować diagram przeglądowy. Wskazać punkty rozregulowania 
procesu, oraz punkty świadczące o postępie technologicznym. 
 
Zadanie 2 
W  kolejnych  chwilach  t  obserwowano  liczbę  sztuk  wadliwych  z

t

  w 

próbkach o stałej liczności n = 40. Otrzymano następujące wyniki: 
 

1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14  15 

z

t

  3  0  0  6  3  4  3  3  4  0  0  1  2  0  1 

 
Skonstruować 

odpowiednią 

kartę 

kontrolną 

przyjmując 

prawdopodobieństwo  zbędnej  regulacji  α

α

α

α = 0.05  oraz  najwyższą 

dopuszczalną  wadliwość  p

= 0.1  (10%).  Czy  w  powyższym  ciągu 

obserwacji  występują  sygnały  o  rozregulowaniu  procesu,  albo  objawy 
postępu technologicznego? 
 
 

background image

Liczba niezgodności (wad) w jednostce produktu jest zmienną losową (Y) 
o przeliczalnym zbiorze wartości 
 

Y

o

  = {0, 1, 2,...}                 

Przyjmuje się zwykle, że na zbiorze tym rozpięty jest rozkład Poissona, 
którego szczegółowa postać określana jest przez parametr λ. Przy 
rozwiązywaniu praktycznych problemów wartość tego parametru, czyli 
przeciętnej liczby wad (niezgodności), musi być odniesiona do ustalonej 
jednostki produktu. Może to być jednostka elementarna lub agregatowa, 
przy czym każda z nich może być jednostką rzeczywistą lub umowną. 
Obserwowana charakterystyka z próby ma postać 

=

=

n

i

ti

t

n

y

c

1

).

(

 

 

Hipotezy: 

H

o

: λ

(n).t

 ≤ λ

(n).0

  

                      

 

 

 

H

1

: λ

(n).t

 > λ

(n).0

            

               

Linie kontrolne: 

 

0

).

(

0

).

(

).

(

n

n

g

n

u

c

λ

λ

α

+

=

                    

 

 

 

0

).

(

0

).

(

).

(

n

n

d

n

u

c

λ

λ

ε

=

 

 

LC = λ

(n).0

 

 

KARTA KONTROLNA „C”

background image

Monitorowano proces świadczenia usług bankowych. W tym celu zliczano
liczbę błędów popełnianych przy obsłudze klientów, zakładając, że błędem
jest każde odstępstwo od ustalonej procedury. W rezultacie obserwacji 
poczynionych w dziesięciu dniach badania otrzymano następujące wyniki:

...

0

3

1

1

0

7

5

0

3

2

c

t

...

10

9

8

7

6

5

4

3

2

1

t

Kierownictwo banku ustaliło, że proces obsługi klientów przebiega poprawnie,
jeśli przeciętna liczba błędów w ciągu dnia nie przekracza 

λ

o

= 5. Skonstruować

odpowiednią kartę kontrolną do analizy tych danych i wykryć punkty rozregulowania 
procesu obsługi, a także objawy mogące przemawiać za skutecznością przeporwa-
-dzanych szkoleń. Prawdopodobieństwo zbędnej regulacji procesu, a także prawdo-
-podobieństwo fałszywego sygnału o poprawie istniejącej sytuacji, ustalono na
poziomie 

α = ε = 0,05.

Karta kontrolna c

background image

Rozwiązanie: 
 

H

o

: λ

(n).t

 ≤ λ

(n).0

 = 5                       

 

H

1

: λ

(n).t

 > λ

(n).0

 = 5                      

 

Linie kontrolne: 

 

8,678332

5

645

,

1

5

0

).

(

0

).

(

).

(

=

+

=

+

=

n

n

g

n

u

c

λ

λ

α

                    

1,321668

5

645

,

1

5

0

).

(

0

).

(

).

(

=

=

=

n

n

d

n

u

c

λ

λ

ε

 

LC = λ

(n).0

 = 5 

Nie ma powodów do odrzucenia H

0

 i wygenerowania sygnału o 

rozregulowaniu procesu obsługi klienta. W momentach t = 3, 6, 7, 8, 10 
mamy powody sądzić, że przeprowadzone szkolenia przyniosły zamierzony 
efekt.  

 
 

background image

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

0

2

4

6

8

10

12

t

c

t

c

g

c

d

LC

KARTA „C”

background image

KARTA KONTROLNA „u” 

Karta u jest szczególnie użytecznym narzędziem sterowania procesem wówczas,  
gdy  nie  można  zapewnić  stałej  liczności  próbek  produktu,  które  podlegają  badaniu 
polegającemu  na  zliczaniu  niezgodności  lub  wad.  W  takiej  sytuacji  charakterystyka  z 
próby przybiera postać 

 

 

t

t

n

t

n

c

u

).

(

=

            gdzie 

=

=

t

n

i

ti

t

n

y

c

1

).

(

                        

Hipotezy:  H

0

: λ

(1).t

 ≤ λ

(1).0

                           

 

H

1

: λ

(1).t

 > λ

(1).0

                           

przy czym   λ

(1).0

 = λ

(n).0

/n,    λ

(1).t

 = λ

(n).t

/ n            

 
Charakterystyka z próby: u

t

  = c

(n).t

/n                        

Linie kontrolne:

n

u

n

c

u

g

n

g

/

/

0

).

1

(

0

).

1

(

).

(

λ

λ

α

+

=

=

        

n

/

u

n

/

c

u

0

).

1

(

0

).

1

(

d

).

n

(

d

λ

λ

=

=

ε

 

background image

Jakość produktu oceniano na podstawie przeciętnej liczby 
niezgodności. Największą przeciętną liczbę niezgodności w 
elementarnej jednostce produktu ustalono na poziomie 

λ

(1).0

 

= 1,00. Zastosowana technika pobierania próby nie pozwala 
na utrzymanie jej liczności na stałym poziomie. W dziesięciu 
początkowych okresach badania t pobierano próby o różnej 
liczności i zliczano liczbę niezgodności. Rezultaty badania 
prezentuje poniższa tablica: 

10 

liczebność 
próby n

11  10  8 

13  9 

14  12  10  11  9 

liczba 
niezgodności 
c

15  13  12  20  7 

31  9 

18  8 

Skonstruować odpowiednią kartę do analizy tych danych, 
oraz wskazać momenty czasu t w których zostaną 
wygenerowane sygnały świadczące o rozregulowaniu oraz 
sygnały świadczące o postępie technologicznym. Podczas 
analizy założyć, że prawdopodobieństwo zbędnej regulacji 
procesu 

α = 0,01, natomiast prawdopodobieństwo 

fałszywego sygnału o postępie technologicznym 

ε = 0,05.  

background image

H

0

: λ

(1).t 

≤ λ

(1).0

 = 1 

 
H

1

: λ

(1).t 

> λ

(1).0

 = 1 

 
 

10 

n

t

 

11 

10 

13 

14 

12 

10 

11 

c

t

 

15 

13 

12 

20 

31 

18 

u

t

 

1,36 

1,30 

1,50 

1,54 

0,78 

2,21 

0,75 

0,80 

1,64 

0,89 

u

gt

 

1,70 

1,74 

1,82 

1,65 

1,78 

1,62 

1,67 

1,74 

1,70 

1,78 

u

dt

 

0,50 

0,48 

0,42 

0,54 

0,45 

0,56 

0,53 

0,48 

0,50 

0,45 

 

t

t

d

t

t

g

n

u

n

u

1

645

,

1

00

,

1

1

326

,

2

00

,

1

.

.

=

+

=

 

 

background image

Parametry rozkładu rozstępu

0,8525

0,8884

0,8798

0,8641

0,8480

0,8332

0,8198

0,8078

0,7971

0,7873

0,7785

1,12838

1,69257

2,05875

2,32593

2,53441

2,70436

2,84720

2,97003

3,07751

3,17287

3,25846

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

f

n

d

n

n

background image

Wartości 

ϕ

(u) dystrybuanty rozkładu normalnego (0,l) 

 
 
 

 

 

 

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 
 

Kwantyle u(p) rzędu p rozkładu normalnego (0,l) 


 

0,90 
 

0,95 
 

0,975 
 

0,99 
 

0,995 
 

u(p) 

1,28 

1,64 

1,96 

2,33 

2,58 


 

0,00 

0,01 

0,02 

0,03 

0,04 

0,05 

0,06 

0,07 

0,08 

0,09 

0,0 
 

0,5000 
 

0,5040 
 

0,5080 
 

0,5120 
 

0,5160 
 

0,5199 
 

0,5239 
 

0,5279 
 

0,5319 
 

0,5359 
 

0,1 
 

,5398 
 

,5438 
 

,5478 
 

,5517 
 

,5557 
 

,5596 
 

,5636 
 

,5675 
 

,5714 
 

,5753 
 

0,2 
 

,5793 
 

,5832 
 

,5871 
 

.5910 
 

,5948 
 

,5987 
 

,6026 
 

,6064 
 

,6103 
 

,6141 
 

0,3 
 

,6179 
 

,6217 
 

,6255 
 

,6293 
 

,6331 
 

,6368 
 

,6406 
 

,6443 
 

,6480 
 

,6517 
 

0,4 
 

,6554 
 

,6591 
 

,6628 
 

,6664 
 

,6700 
 

,6736 
 

,6772 
 

,6808 
 

,6844 
 

,6879 
 

0,5 
 

,6915 
 

,6950 
 

,6985 
 

,7019 
 

,7054 
 

,7088 
 

,7123 
 

,7157 
 

,7190 
 

,7224 
 

0,6 
 

,7257 
 

,7290 
 

,7324 
 

,7357 
 

,7389 
 

,7422 
 

,7454 
 

,7486 
 

,7517 
 

,7549 
 

0,7 
 

,7580 
 

,7611 
 

,7642 
 

,7673 
 

,7704 
 

,7734 
 

,7764 
 

,7794 
 

,7823 
 

,7852 
 

0,8 
 

,7881 
 

,7910 
 

,7939 
 

,7967 
 

,7995 
 

,8023 
 

,8051 
 

,8078 
 

,8106 
 

,8133 
 

0.9 
 

,8159 
 

,8186 
 

,8212 
 

,8238 
 

,8264 
 

,8289 
 

,8340 
 

,8340 
 

,8365 
 

.8389 
 

1,0 
 

0,8413 
 

0,8438 
 

0,8461 
 

0,8485 
 

0,8508 
 

0,8531 
 

0,8554 
 

0,8577 
 

0,8599 
 

0,8621 
 

1

,

 

,8643 
 

,8665 
 

,8686 
 

,8708 
 

,8729 
 

,8749 
 

,8770 
 

,8790 
 

,8810 
 

,8830 
 

1,2 
 

,8849 
 

,8869 
 

,8888 
 

,8907 
 

,8925 
 

,8944 
 

,8962 
 

,8980 
 

,8997 
 

,9015 
 

1,3 
 

,9032 
 

,9049 
 

,9066 
 

,9082 
 

,9099 
 

,9115 
 

,9131 
 

,9147 
 

,9162 
 

,9177 
 

1,4 
 

,9192 
 

,9207 
 

,9222 
 

,9236 
 

,9251 
 

,9265 
 

,9279 
 

,9292 
 

,9306 
 

,9319 
 

1,5 
 

,9332 
 

,9345 
 

,9357 
 

,9370 
 

,9382 
 

,9394 
 

,9406 
 

,9418 
 

,9429 
 

,9441 
 

1,6 
 

,9452 
 

,9463 
 

,9474 
 

,9484 
 

,9495 
 

,9505 
 

,9515 
 

,9525 
 

,9535 
 

,9545 
 

1,7 
 

,9554 
 

,9564 
 

,9573 
 

,9582 
 

,9591 
 

,9599 
 

,9608 
 

,9616 
 

,9625 
 

,9633 
 

1,8 
 

,9641 
 

,9649 
 

,9656 
 

,9664 
 

,9671 
 

,9678 
 

,9686 
 

,9693 
 

,9699 
 

,9706 
 

1,9 
 

,9713 
 

,9719 
 

,9726 
 

,9732 
 

,9738 
 

,9744 
 

,9750 
 

,9756 
 

,9761 
 

,9767 
 

2,0 
 

0,9772 
 

0,9779 
 

0,9783 
 

0,9788 
 

0,9793 
 

0,9798 
 

0,9803 
 

0,9808 
 

0,9812 
 

0,9817 
 

2,1 
 

,9821 
 

,9826 
 

,9830 
 

,9834 
 

,9838 
 

,9842 
 

,9846 
 

,9850 
 

.9854 
 

,9857 
 

2,2 
 

,9861 
 

,9864 
 

,9868 
 

,9871 
 

,9875 
 

,9878 
 

,9881 
 

,9884 
 

,9887 
 

,9890 
 

2,3 
 

,9893 
 

,9896 
 

,9898 
 

,9901 
 

,9904 
 

,9906 
 

,9909 
 

,9911 
 

,9913 
 

,9916 
 

2,4 
 

,9918 
 

,9920 
 

,9922 
 

,9925 
 

,9927 
 

,9929 
 

,

9931 

 

,9932 
 

,9934 
 

,9936 
 

2,5 
 

,9938 
 

,9940 
 

,9941 
 

,9943 
 

,9945 
 

,9946 
 

,9948 
 

,9949 
 

,9951 
 

,9952 
 

2,6 
 

,9953 
 

,9955 
 

,9956 
 

,9957 
 

,9959 
 

,9960 
 

,9961 
 

,9962 
 

,9963 
 

,9964  
 

2,7 
 

,9965 
 

,9966 
 

,9967 
 

,9968 
 

,9969 
 

,9970 
 

,9971 
 

,9972 
 

,9973 
 

,9974 
 

2,8 
 

,9974 
 

,9975 
 

,9976 
 

,9977 
 

,9977 
 

,9978 
 

,9979 
 

,9779 
 

,9980 
 

,9981 
 

2,9 
 

,9981 
 

,9982 
 

,9982 
 

,9983 
 

,9984 
 

,9984 
 

,9985 
 

,9985 
 

,9986 
 

,9986  
 

background image

 
 

 
 

 
 

 
 

 
 

 

 
 

 
 

 
 

 
 

 

0,005 

 

0,01 

 

0,025 

 

0,05 

 

0,95 

 

0,975 

 

0,99 

 

0.995 

 

 

 

 

0,001 

 

0,004 

 

3,841 

 

5,024 

 

6,635 

 

7,879 

 

 

0,010 

 

0,020 

 

0,051 

 

0,103 

 

5,991 

 

7,378 

 

9,210 

 

10,597 

 

 

0,072 

 

0,115 

 

0,216 

 

0,352 

 

7,815 

 

9,348 

 

11,345 

 

12,838 

 

 

0,207 

 

0,297 

 

0,484 

 

0,711 

 

9,488 

 

11,143 

 

13,277 

 

14,860 

 

 

0,412 

 

0,554 

 

0,831 

 

1,145 

 

11,071 

 

12,833 

 

15,086 

 

16,750 

 

 

0,676 

 

0,872 

 

1,237 

 

1,635 

 

12,592 

 

14,449 

 

16,812 

 

18,548 

 

 

0,989 

 

1,239 

 

1,690 

 

2,167 

 

14,067 

 

16,013 

 

18,475 

 

20,278 

 

 

1,344 

 

1,646 

 

2,180 

 

2,733 

 

15.507 

 

17,535 

 

20,090 

 

21,955 

 

 

1,735 

 

2,088 

 

2,700 

 

3,325 

 

16,919 

 

19,023 

 

21,666 

 

23,589 

 

10 

 

2,156 

 

2,558 

 

3,247 

 

3,940 

 

18,307 

 

20,483 

 

23,209 

 

25,188 

 

11 

 

2,603 

 

3,053 

 

3,816 

 

4,575 

 

19,675 

 

21,920 

 

24,725 

 

26,757 

 

12 

 

3,074 

 

3,571 

 

4.404 

 

5,226 

 

21,026 

 

23,337 

 

26,217 

 

28,299 

 

13 

 

3,565 

 

4,107 

 

5,009 

 

5,892 

 

22,362 

 

24,736 

 

27,688 

 

29,819 

 

14 

 

4,075 

 

4,660 

 

5,629 

 

6,571 

 

23,685 

 

26,119 

 

29,141 

 

31,319 

 

15 

 

4,601 

 

5,229 

 

6,262 

 

7,261 

 

24,996 

 

27,488 

 

30,578 

 

32,801 

 

16 

 

5,142 

 

5,812 

 

6,908 

 

7,962 

 

26,296 

 

28,845 

 

32,000 

 

34,267 

 

17 

 

5,697 

 

6,408 

 

7,564 

 

8,672 

 

27,587 

 

30,191 

 

33,409 

 

35,718 

 

18 

 

6,265 

 

7,015 

 

8,231 

 

9,390 

 

28,869 

 

31,526 

 

34,805 

 

37,156 

 

19 

 

6,844 

 

7,633 

 

8,907 

 

10,117 

 

30,144 

 

32,852 

 

36,191 

 

38,582 

 

20 

 

7,434 

 

8,260 

 

9,591 

 

10,851 

 

31,410 

 

34,170 

 

37,566 

 

39,997 

 

21 

 

8,034 

 

8,897 

 

10,283 

 

11,591 

 

32,671 

 

35,479 

 

38,932 

 

41,401 

 

22 

 

8,643 

 

9,542 

 

10,982 

 

12,336 

 

33,924 

 

36,781 

 

40,289 

 

42,796 

 

23 

 

9,260 

 

10,196 

 

11,689 

 

13,091 

 

35,172 

 

38,076 

 

41,638 

 

44,181 

 

24 

 

9,886 

 

10,856 

 

12,401 

 

13,848 

 

36,415 

 

39,364 

 

42,980 

 

45,559 

 

25 

 

10,520 

 

11,524 

 

13,120 

 

14,611 

 

37,652 

 

40,646 

 

44,314 

 

46,928 

 

26 

 

11,160 

 

12,198 

 

13,844 

 

15,379 

 

38,885 

 

41,923 

 

45,642 

 

48,290 

 

27 

 

11,808 

 

12,879 

 

14,573 

 

16,151 

 

40,113 

 

43,194 

 

46,963 

 

49,645 

 

28 

 

12,461 

 

13,565 

 

15,308 

 

16,928 

 

41,337 

 

44,461 

 

48,278 

 

50,993 

 

29 

 

13,121 

 

14,257 

 

16,047 

 

17,708 

 

42,557 

 

45,722 

 

49,588 

 

52,336 

 

30 

 

13,787 

 

14,954 

 

16,791 

 

18,493 

 

43,773 

 

46,979 

 

50,898 

 

53,672 

 

 

Kwantyle

χ

2

(p,v) rzędu p rozkładu 

χ

2

v stopniach swobody

background image

Proces produkcyjny monitorowano przy użyciu karty kontrolnej 

x

W rezultacie badań siedmiu kolejnych próbek uzyskano następujące 
rezultaty: 

       t  
  i 

10,4  11,0  10,3  10,2  10,5 

9,4  10,9 

11,4  11,3  10,2  10,6 

9,3  11,3  10,1 

9,3  11,6  10,6  10,8 

9,5  10,3  12,5 

12,0  11,4  10,7  10,7 

9,4  10,6  10,3 

Wartość  docelowa  wynosiła  10,5  wariancja  była  stała  i  wynosiła 

0,36,  zaś  przedział  tolerancji  ograniczony  był  dwustronnie. 
Zbudować odpowiednią kartę kontrolną Shewharta i wykryć sygnały 
świadczące  o  rozregulowaniu  procesu.  Prawdopodobieństwo 
zbędnej regulacji procesu ustalono na poziomie 0,05.  

  

ĆWICZENIA – KARTY KONTROLNE SHEWHARTA

background image

Ćwiczenia  

(Karty kontrolne Shewharta) 

 
 

Zadanie 18 
Wstępne badania pewnej operacji technologicznej wykazały, że czas jej trwania jest 

zmienną losową o rozkładzie zbliżonym do normalnego, o wartości oczekiwanej 
µ

t

 = 2,8 i odchyleniu standardowym σ

t

 = 0,6 min. W celu bieżącej kontroli 

procesu pobierano losowo próbki o liczności n = 9 i mierzono czas trwania 
operacji z których wyznaczano wartości średnie t

r

. W rezultacie badania 

kolejnych 10 próbek uzyskano następujące rezultaty: 

próbka 
(r) 

10 

… 

średni 
czas 
trwania 
operacji 

2,52  3,18  2,54  2,56  4,12  4,34  2,52  2,61  2,65  2,38  … 

 

Skonstruować odpowiednią kartę Shewharta do analizy danych wykryć punkty rozregulowania 
procesu, a także objawy mogące przemawiać za skutecznością przeprowadzonych szkoleń 
mających na celu skrócenie czasu trwania badanej operacji technologicznej. 
Prawdopodobieństwo fałszywego sygnału o rozregulowaniu procesu a także 
prawdopodobieństwo fałszywego sygnału o skróceniu tej operacji ustalono na poziomie α = ε = 
0,05  

background image

Badano  stężenie  pewnej  substancji  zabezpieczającej  przed  zamarzaniem, 

która znajduje się w płynie do odmrażania. Badanie polegało na pobieraniu ze 

strumienia  produktu,  co  dwie  godziny  czterech  pojemników  i  oznaczaniu  ich 

zawartości.  W  czasie  jednej  zmiany  uzyskano  następujące  wyniki 

zaprezentowane  w  tabeli.  Zaprojektować  odpowiednią  kartę  kontrolną 

umożliwiającą  śledzenie  zarówno  sygnałów  świadczących  o  rozregulowaniu 

procesu  produkcyjnego  jak  również  mogących  świadczyć  o  korzystnych 

zmianach  w  jego  przebiegu.  Wiadomo,  że  precyzja  procesu  wynosi  1,1 

natomiast 

µ

o

 = 70. Należy przyjąć: 

α = 0,01 ε = 0,1 

t

x

  70,22  70,92  70,39  70,32  68,63  68,4 

  

background image

Proces  wytwarzania  wyłączników  elektrycznych  monitorowano  pobierając  ze 

strumienia  produktu  próbki  o  stałej  liczności  100  sztuk,  a  następnie 

klasyfikowano  wyrób  jako  wykonany  poprawnie  lub  wykonany  wadliwie. 

Otrzymano następujące liczby wadliwych wyłączników w kolejnych dziesięciu 

próbach: 

10 

z

t

 

10 

Skonstruuj 

odpowiednią 

kartę 

kontrolną 

zakładając 

maksymalną 

dopuszczalną  wadliwość  p

o

 = 0.03,  prawdopodobieństwo  zbędnej  regulacji 

procesu 

α = 0.01,  prawdopodobieństwo  błędnego  wykrycia  sygnału  o 

korzystnych  zmianach  w  procesie  produkcyjnym 

ε = 0.1.  Opisz  wszystkie 

występujące sygnały. 

  

background image

Produkcję  żarówek  monitorowano  za  pomocą  karty  kontrolnej  z. 

Liczność próby wynosiła 200 [szt], prawdopodobieństwo fałszywego 

sygnału  o  rozregulowaniu 

α = 0.05.  Badano  również  korzystne 

zmiany 

przebiegu 

procesu 

produkcyjnego 

przyjmując 

prawdopodobieństwo  błędnego  stwierdzenia  korzystnych  zmian  w 

procesie 

produkcyjnym 

ε = 0,1.  Maksymalną  dopuszczalną 

wadliwość  ustalono  na  poziomie  p

o

 = 2%.  Dla  dziesięciu  kolejnych 

próbek otrzymano następujące ilości sztuk niezgodnych w próbie: 

10 

z

t

  2 

Znajdź sygnały świadczące o rozregulowaniu procesu i korzystnych 

zmianach w jego przebiegu. 

  

background image

Monitorowano  proces  księgowania.  W  tym  celu  zliczano  błędy 

księgowe  popełniane  w  ciągu  dnia  roboczego.  W  rezultacie 

obserwacji  poczynionych  w  kolejnych  ośmiu  dniach  badania 

uzyskano następujące dane: 

... 

c

t

 

... 

Kierownictwo  banku  ustaliło,  że  proces  księgowania  przebiega 

poprawnie,  jeżeli  przeciętna  liczba  popełnianych  błędów  nie 

przekracza 

λ

o

 = 2,5.  Skonstruować  odpowiednią  kartę  kontrolną  do 

analizy  powyższych  danych,  wskazać  punkty  świadczące  o 

rozregulowaniu  procesu  księgowania  a  także  objawy  mogące 

przemawiać 

za 

skutecznością 

przeprowadzonych 

szkoleń. 

Prawdopodobieństwo  zbędnej  regulacji  procesu  ustalono  na 

poziomie 

α = 0.05,  a  prawdopodobieństwo  zbędnego  sygnału  o 

poprawie istniejącej sytuacji 

ε = 0.1. 

  

background image

Monitorowanie 

jakości 

usług 

magazynowych 

polegało 

na 

codziennym sprawdzaniu prawidłowości realizacji zamówień. Jeżeli 

przeciętna  liczba  nieprawidłowo  wykonanych  zamówień  nie 

przekraczała  3,5  to  proces  obsługi  uznawano  za  przebiegający 

poprawnie.  

W  trakcie  badania  jedenastu  kolejnych  dni  uzyskano  następujące 

rezultaty: 

9  10  11 

c

t

  1,0  2,0  1,0  4,0  3,0  6,0  8,0  7,0  3,0  2,0  1,0 

Przyjmując 

α = 0,02;  ε = 0,1  zbuduj  odpowiednią  kartę  kontrolną 

umożliwiającą śledzenie procesu usług magazynowych.  

  

background image

W procesie rozlewania wody mineralnej do butelek plastikowych 
prowadzona jest kontrola szczelności zamknięcia opakowania. 
Kontrola prowadzona jest okresowo (co godzinę) w sposób 
wyrywkowy, na losowo pobranych próbkach o zmieniającej się 
liczebności.  
W wyniku pomiarów otrzymanych w 6 kolejnych okresach 
otrzymano następujące wyniki: 

liczebność 
próby n

50 

60 

70 

60 

50 

50 

liczba 
wadliwie 
zamkniętych 
butelek (z

t

14 

 
Czy analizowany proces można uznać za uregulowany? Czy 
można w badanym przypadku dostrzec zjawisko nazywane 
postępem technologicznym? Podczas analizy założyć ryzyko 
zbędnej regulacji procesu oraz ryzyko fałszywego sygnału o 
postępie technologicznym na poziomie 

α=ε=0,01. Maksymalna 

dopuszczalna poprodukcyjna wadliwość wynosi p

0

=0,1. 

 

background image

Jakość pracy składaczy tekstów w drukarni oceniano na podstawie 
przeciętnej liczby błędów. Największą przeciętną liczbę błędów w 
elementarnej jednostce produktu będącej 1 stroną maszynopisu ustalono na 
poziomie 

λ

(1).0

 = 1,00. Charakter badanego procesu nie pozwalał na to aby 

podczas monitorowania procesu poddawać kontroli jednakową liczbę losowo 
wybranych stron. W dziesięciu początkowych okresach badania t pobierano 
próby o różnej liczbie losowo wybranych stron i zliczano liczbę popełnionych 
błędów. Rezultaty badania prezentuje poniższa tablica: 

10 

liczba 
stron 
n

t

 

10 

10 

10 

10 

10 

12 

10 

10 

10 

liczba 
błędów 
c

t

 

15 

13 

12 

20 

31 

18 

Skonstruować odpowiednią kartę do analizy tych danych, oraz wskazać 
momenty czasu t w których zostaną wygenerowane sygnały świadczące o 
rozregulowaniu oraz sygnały świadczące o wzroście jakości pracy badanego 
personelu. Podczas analizy założyć, że prawdopodobieństwo zbędnej 
regulacji procesu oraz prawdopodobieństwo fałszywego sygnału o wzroście 
jakości pracy badanego personelu wynosi 0,05.  

background image

W  cementowni  prowadzi  się  w  sposób  wyrywkowy  kontrolę  ciężaru 
napełnianych worków. 
Nominalny ciężar każdego opakowania po napełnieniu powinien wynosić 
x

=  25  kg.  ±  1  kg.  Załóżmy,  że  ciężar  badanego  produktu  jest  zmienną 

losową o nieznanych parametrach µ i σ.  Posiadane urządzenia dozująco-
paczkujące  pozwalają  na  ustalenie  hipotetycznej  wartości  oczekiwanej  µ 
na poziomie wartości nominalnej (docelowej) x

0

 

1.  Ustalić  na  jakim  najwyższym  dopuszczalnym  poziomie  σ

0

  może 

kształtować  się  odchylenie  standardowe,  jeżeli  chcemy,  aby 
poprodukcyjna wadliwość produktu p nie przekroczyła p

0

 = 3%. 

2.   Przyjmując  wyznaczoną  w  punkcie  1  wartość  σ

0

,  skonstruować 

odpowiednią  kartę  kontrolną  pozwalającą  na  ocenę  opisanego 
powyżej  procesu  paczkowania.  Podczas  konstrukcji  karty  założyć, 
że α=ε=0,05. 

3.   W  oparciu  o  skonstruowaną  w  punkcie  2  kartę  kontrolną  ocenić 

rezultaty  otrzymane  w  kolejnych  8  krokach  badania  tego  procesu. 
Na 

podstawie 

tych 

danych 

obliczono 

wartości 

średnich 

arytmetycznych, 

odchyleń 

standardowych, 

oraz 

rozstępów. 

Wartości tych charakterystyk zestawione są w 3 ostatnich wierszach 
poniższej tabeli: 

     t 

  i 

25,4 

25,1 

25 

25,4 

24,2 

24 

25 

26 

24,5 

26,1 

25,6 

24,9 

24,8 

25,9 

25,4 

26 

25,2 

24,4 

26,2 

24,8 

25,7 

24,1 

25,8 

25 

24,3 

25,2 

27,8 

25,1 

24,6 

25,6 

24,5 

25 

25,1 

25,5 

24,1 

26 

26 

25 

26 

23 

t

x

 

24,9 

25,26 

25,74 

25,24 

25,06 

24,92 

25,34 

25 

S

t

 

0,4743416  0,61887  1,388524  0,482701  0,760263  0,858487  0,60663  1,224745 

R

1,1 

1,7 

3,7 

1,2 

1,8 

1,9 

1,5 

      

background image

Monitorowano czas realizacji wystawionych faktur. W tym celu na koniec 
każdego miesiąca wybierano losowo 4 faktury i badano czas, jaki upłynął od 
momentu wystawienia faktury do momentu wpływu należności. Warunkiem 
utrzymania płynności finansowej jest to, aby średni czas realizacji wystawionej 
faktury nie przekroczył 7 dni. Co można powiedzieć o przebiegu procesu 
płatności, jeżeli w 6 początkowych miesiącach obserwowano następujące 
wartości: 
            t 

10 

12 

11 

11 

 Podczas analizy powyższego procesu założyć że: 
 α=ε=0,01, 
czas realizacji faktury ma rozkład normalny ze stałą wariancją wynoszącą 4. 

   

background image

Monitorowano jakość pracy przydrożnych elektronicznych pogodowych tablic 
informacyjnych. Przedmiotem badania była liczba koniecznych interwencji 
naprawczych w okresie jednego tygodnia pracy. Oceń proces funkcjonowania 
tych urządzeń, jeśli w kolejnych dziesięciu tygodniach otrzymano następujące 
wyniki: 
tydzień 

liczba 
koniecznych 
napraw 

10 

11 

12 

 
Podczas analizy powyższego procesu założyć że: 
- przeciętna liczba koniecznych tygodniowych napraw nie powinna 
przekroczyć 5, 
- α=ε=0,01, 
 

   

background image

Jakość wytwarzanych produktów oceniana była alternatywnie. Zmienną 
diagnostyczną była liczba wadliwie wytworzonych produktów w losowej 
próbie o stałej liczności n = 49. Próbę pobierano w odstępach 
jednogodzinnych. Oceń przebieg procesu produkcyjnego, jeżeli w 10 
początkowych okresach czasu otrzymano następujące wyniki: 
godzina 

10 

liczba 
produktów 
wadliwych 

12 

 Podczas analizy założyć, że: 
α=ε = 0,01, maksymalna poprodukcyjna wadliwość wynosi 4%.

 

background image

Parametry rozkładu rozstępu

0,8525

0,8884

0,8798

0,8641

0,8480

0,8332

0,8198

0,8078

0,7971

0,7873

0,7785

1,12838

1,69257

2,05875

2,32593

2,53441

2,70436

2,84720

2,97003

3,07751

3,17287

3,25846

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

f

n

d

n

n