metrologia narz pom

background image

1

POLITECHNIKA RZESZOWSKA

im. Ignacego Łukasiewicza

KATEDRA TECHNIK

WYTWARZANIA

I AUTOMATYZACJI

...........................................................................

( imię i nazwisko )


gr. ............ kierunek ................. rok akad. ...........

Data odrobienia

ćwiczenia

.........................

Data oddania

sprawozdania

.......................

Ocena


..........

Podpis


.......................

Uwagi

...........................................................
...........................................................

METROLOGIA I KONTROLA JAKOŚCI LABORATORIUM


Temat: SPRAWDZANIE WYBRANYCH NARZĘDZI DO POMIARU DŁUGOŚCI



1. Cel ćwiczenia.

Zapoznanie studentów z podstawowymi narzędziami pomiarowymi, techniką pomiarów z użyciem tych narzędzi,
a także ich budową.

2. Pytanie kontrolne.

Naszkicować i opisać budowę suwmiarki.



























background image

2

3. Sprawdzenie suwmiarki.

3.1. Wielkości charakterystyczne.

Wartość działki elementarnej

Noniusz

Moduł noniusza

Zakres pomiarowy

Wysięg szczęk do pomiarów zewnętrznych

Wysięg szczęk do pomiarów wewnętrznych

Długość suwaka

3.2. Cechy sprawdzane.

Stan ogólny suwmiarki i poprawność oznaczeń



Wg PN

[

µm

]

Błąd

[

µm]

Chropowatość powierzchni pomiarowych R

a

- powierzchnia pomiarowa płaska szczęk zewnętrznych prowadnicy i suwaka

0,16

- powierzchnia pomiarowa płaska szczęk krawędziowych wewnętrznych 0,16

- powierzchnia pomiarowa płaska wysuwki i części czołowej prowadnicy

0,16

Tolerancja płaskości i prostoliniowości powierzchni pomiarowych

- powierzchnia pomiarowa płaska szczęk zewnętrznych prowadnicy i suwaka

10

- powierzchnia pomiarowa części czołowej prowadnicy

10

Tolerancja równoległości elementów szczęk suwmiarek

- powierzchnie pomiarowe płaskie szczęk zewnętrznych prowadnicy i suwaka

10

- powierzchnie pomiarowe szczęk krawędziowych wewnętrznych 10

Błędy wskazań suwmiarki:

21,3

[mm]

71,6

[mm]

- szczęki zewnętrzne dla stosów płytek wzorcowych:
(zakres pomiarowy suwmiarki od 0 do 135 [mm])

126,9 [mm]

21,3

[mm]

71,6

[mm]

- szczęki wewnętrzne dla stosów płytek wzorcowych:
(zakres pomiarowy suwmiarki od 0 do 135 [mm])

126,9 [mm]














Rys. 3.2.1. Schemat sprawdzania płaskości powierzchni pomiarowych przyrządów
suwmiarkowych z wykorzystaniem liniału krawędziowego




background image

3

4. Sprawdzenie mikrometru.










Rys. 4.1. Schemat mikrometru


4.1. Cechy sprawdzane.


Stan ogólny mikrometru i poprawność oznaczeń

Wg PN

[

µm]

Błąd

[

µm]

Chropowatość powierzchni pomiarowych płaskich R

amax

0,08

Tolerancja płaskości powierzchni pomiarowych (wrzeciona i kowadełka) 0,9
Tolerancja równoległości powierzchni pomiarowych płaskich 2

Nacisk pomiarowy (z płaskimi powierzchniami pomiarowymi) 5-10

[N]

Błąd wskazania dla dolnej granicy zakresu pomiarowego

2

Błąd wskazania dla całego zakresu pomiarowego

4

Dopuszczalna różnica wskazań spowodowana odkształceniem kabłąka 2

Zmiana położenia powierzchni pomiarowej wrzeciona pod wpływem zacisku

2






Rys. 4.1.1. Sprawdzanie niepłaskości powierzchni

pomiarowych mikrometru

















background image

4



Obraz powierzchni wrzeciona: Obraz powierzchni kowadełka:








P

w

=.................

[

µm]

P

k

=.................

[

µm]









Rys. 4.1.2. Schemat stanowiska do sprawdzania

nacisku pomiarowego
1 – kabłąk
2 – kowadełko
3 – uchwyt
4 – wrzeciono
5 – bęben
6 – sprzęgło
7 – odważniki

























background image

5







Rys. 4.1.3. Schemat stanowiska do oceny zmiany wskazań
spowodowanej ugięciem kabłąka
1 – kabłąk
2 – wrzeciono
3 – kowadełko
4 – bęben
5 – sprzęgło
6 – płytka wzorcowa
7 – odważniki






































Rys. 4.1.4. Sprawdzanie nierównoległości powierzchni pomiarowych kowadełka i wrzeciona

background image

6



Pomiar błędu równoległości z wykorzystaniem płytek interferencyjnych:


a) Przy zwolnionym zacisku:

15.00 15.12 15.25 15.37





r

1

=.................

[

µm]

r

2

=.................

[

µm]

r

3

=.................

[

µm]

r

4

=.................

[

µm]






b) Przy dokręconym zacisku:





r

1

=.................

[

µm]

r

2

=.................

[

µm]

r

3

=.................

[

µm]

r

4

=.................

[

µm]






Błąd równoległości powierzchni mierniczych

[

µm]

Pomiar

Wymiar płytki

interferencyjnej

[mm]

Przy zwolnionym

zacisku

Przy dokręconym

zacisku

Zmiana

równoległości

powierzchni

mierniczych na

skutek dokręcenia

zacisku

1 15.00

2 15.12

3 15.25

4 15.37







background image

7







A+5,12 [mm]

A+10,25 [mm]
A+15,37 [mm]
A+21,50 [mm]
A+25,00 [mm]

A – dolna granica

zakresu
pomiarowego



Rys. 4.1.5. Krzywa błędów wskazań mikrometru





5. Sprawdzenie czujnika.






Rys. 5.1. Schemat czujnika zębatego

1 – tuleja chwytowa
2 – trzpień pomiarowy
3 – końcówka pomiarowa
4 – tarcza obrotowa z podziałką główną
5 – wskazówka duża
6 – wskazówka mała
7 – wskaźnik tolerancji














background image

8


5.1. Cechy sprawdzane.



Granice błędów
dopuszczalnych

klasa

µm

Znalezione błędy [

µm]

Powierzchnia miernicza końcówki R

a

=0,16

I 3

Niepowtarzalność wskazań

II 5

I 3

Zmiany wskazań wywołane naciskiem bocznym

II 5

Niedokładność wskazań
I

20

- w całym zakresie pomiarowym

II 30

I

15

- w zakresie 2 [mm]

II 20

I

10

- w zakresie 0,5 {mm}

II 15

I

5

- w zakresie 0,1 [mm]

II 8




Punkty sprawdzania [mm]


Błędy wskazań [

µm]






Punkty sprawdzania [mm]


Błędy wskazań [

µm]


Sprawdzanie co 0,1 [mm] przedziału milimetrowego z błędem największym.

Przedział od ..... do ..... [mm]

















background image

9





















Rys. 5.1.1. Krzywa błędów wskazań czujnika



Krzywą błędów wskazań czujnika należy również wykonać w arkuszu kalkulacyjnym Excel.


6. Wnioski.


















7. Literatura.

- Sprawdzanie przyrządów do pomiaru długości i kąta. Oficyna Wydawnicza PW, Warszawa 2003.

- Krawczyk M.: Metrologia i kontrola jakości. Oficyna Wydawnicza PRz, Rzeszów 1998.

- PN-80/M-53130, PN-82/M-53200.


Document Outline


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Spraw uniw narz pom
Podstawy metrologii dr Czesław Jermak [ metody, def., tematy], metody-pom, Pierwszy pode metod, prze
Cw1 pom mocy, Elektrotechnika, SEM4, Metrologia Krawczyk
Cw2.rozszerzanie zakresow pom, Elektrotechnika, SEM5, Metrologia Krawczyk
spr dok narzędzi pom, Studia, metrologia
pom.gwintów, politechnika, sem 4, metrologia
pom.gwintów, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
pom wymiary wewnetrznych, mechanika, BIEM- POMOCE, metrologia
5 Podstawy Metrologii systemy pomiarowe
DIMP karta pom
MB2 mat pom 1 id 289843 Nieznany
metrologia
kuran,Metrologia wielkosci geom Nieznany
oscyloskop metrologia cw6

więcej podobnych podstron