Podstawy metrologii Wykład 4bBRAKNOTATEK

background image

1

Dr hab. inż. Michał LISOWSKI, prof. P.Wr.

michal.lisowski@pwr.wroc.pl

Uwaga: poniższe materiały maja charakter autorski na prawach rękopisu. Ich udostępnianie
bez zgody autora, a także rozpowszechnianie jest prawnie zabronione.

Wykład 4b

ZASADA DZIAŁANIA MIERNIKA MAGNETOELEKTRYCZNEGO

Budowę miernika magnetoelektrycznego z magnesem zewnętrznym pokazano na rys. 4.9, a
na rys. 4.10 przedstawiono budowę przyrządów magnetoelektrycznych, obecnie najczęściej
stosowanych, z magnesem wewnętrznym.

Rys. 4.9. Budowa miernika magnetoelektrycznego z magnesem zewnętrznym: 1 – magnes,

2 – nabiegunnik, 3 – rdzeń, 4 – szczelina powietrzna, 5 – cewka. 6 – wskazówka,

7 – przeciwwagi 8 – sprężynka zwrotna

Rys. 4.10. Budowa miernika magnetoelektrycznego z magnesem wewnętrznym: 1 – rdzeń,

2 – cewka ruchoma, 3 – nabiegunniki, 4 – sprężynka zwrotna, 5 – wskazówka, 6 – magnes

trwały

background image

2

Prąd I przepływający przez cewkę o liczbie zwojów z i szerokości d, nawiniętą na

ruchomej ramce (rys. 4.11) znajdującej się w polu magnetycznym o indukcji B i szerokości
nabiegunnika l wywołuje moment obrotowy

M = IBzdl .

Sprężynka zwrotna, wskutek jej skręcenia, wytwarza moment zwrotny

M

z

= k

α

.

W stanie ustalenia się wskazań

M = M

z

, czyli IBzdl = k

α

.

Stąd

I = c

α

,

gdzie

c = k/(IBzdl).

Rys. 4. 11. Cewka nawinięta na ruchomej ramce

Czopy, z hartowanej stali węglowej, przyklejone do cewki ułożyskowane są łożyskach

z kamieni szlachetnych (syntetyczny szafir lub rubin), podobnie jak czopy w zegarkach
(rys.4.12).

Rys. 4.12. Czop i łożysko

Sprężynki zwrotne (rys. 4.12) równocześnie służą jako doprowadzenia prądu do

uzwojenia cewki

background image

3

Rys. 4.12. Sprężynka zwrotna




NIEDOKŁADNOŚĆ PRZYRZĄDÓW ANALOGOWYCH

Klasa przyrządu

.

X

X

X

kl

n

g

100

δ

ch

=

Klasy są znormalizowane szeregiem: 0,1; 0,2;0,5; 1; 1,5; 2,5

Najczęściej wartością umowna jest zakres pomiarowy.


Przykład
Przyrząd klasy 0,5 o

α

n

=100 dz.

Błąd graniczny wskazań przyrządu



Błąd przy dowolnym wskazaniu X

X

X

kl

X

X

X

n

g

=

=

100

δ

.

lub

α

α

α

α

δα

n

g

kl

=

=

100

.

Np. kl=0,5,

α

n

=150 dz. to dla

α

=10 dz. δ

α

=7,5 %,

α

=50 dz. δ

α

=1,5 %,

α

=100 dz. δ

α

=0,75 %,

α

=150 dz. δ

α

=0,5 %.


Dla wzorów nastawnych klasa odniesiona jest najczęściej do wartości nastawy i jest
wielokrotnością dziesiętną liczb

(1;2;5)10

k

,

gdzie k jest całkowitą liczbą niedodatnią.

.

dz

,

,

kl

n

g

5

0

100

100

5

0

100

±

=

=

=

α

α

background image

4

PRZYRZĄDY CYFROWE

Przyrządy cyfrowe mają cyfrowe pole odczytowe, które dla przyrządów cyfrowych,

umożliwiają odczyt z dużą rozdzielczością (rys. 4.13). Ogólny schemat strukturalny przyrządu
cyfrowego pokazano na rys. 4.14. Przyrządy te obecnie przeważnie w swojej strukturze zawierają
mikroprocesory. Podstawowym elementem przyrządu cyfrowego jest przetwornik analogowo-cyfrowy
(rys. 4.16).

Rys. 4.13. Laboratoryjne multimetry cyfrowe

Rys. 4.14. Schemat strukturalny przyrządu cyfrowego

Rys. 4.15. Schemat strukturalny mikroprocesorowego przyrządu cyfrowego

background image

5

Rys. 4.16. Przetwornik analogowo-cyfrowy

Parametry określające właściwości przetworników a/c:

• zakres napięcia wejściowego,

najczęściej ±5 V lub ± 10 V,

• rezystancja wejściowa,

przeważnie rzędu 10

9

,

• przeciążalność (napięcie wejściowe, które nie powoduje jeszcze uszkodzenia przetwornika),

• niedokładność,

przeważnie ±(0,1 ÷ 0,002) %,

• rozdzielczość (liczba bitów),

4, 8, 16 bitów,

• czas przetwarzania,

od 0,1 s (wolne) do 10 ns (bardzo szybkie),

• rodzaj kodu,

najczęściej binarny,

• obciążalność wyjścia (przeważnie określana jest liczbą bramek, które można przyłączyć do

jednego wyjścia przetwornika),

• warunki użytkowania (zakres temperatury i wilgotności),

• zasada przetwarzania,

• technologia wykonania,

• topografia (rodzaj i rozmieszczenie wyprowadzeń),

• rozmiary,

• masa

NIEDOKŁADNOŚĆ PRZYRZĄDÓW CYFROWYCH

Błąd podstawowy ma dwie składowe: multiplikatywną i addytywną.

Np. dla zakresu 100 mV:

±0,015 % w.m. ±0,002 % w.k.p. ±3µV.

Dla danego wskazania błąd graniczny bezwzględny

+

+

±

=

X

bX

aX

X

of

n

g

100

100

,

a względny błąd graniczny





+

+

±

=

100

X

X

X

X

b

a

X

of

n

δ

.

Może być podany także w postaci

background image

6

±0,01 % w.m. ±1(2) cyfry.

Wówczas

+

±

=

X

n

n

aX

X

g

100

,

+

=

100

n

n

a

X

δ

.

Przykład
V.C. ma niedokładność ±0,1 % ±1 cyfra.
Jeżeli wskazał U=85,1 mV, to

%

,

,

U

22

0

100

851

1

1

0

±

=

+

±

=

δ

,

dla U=2,1 mV

%

,

,

U

9

4

100

21

1

1

0

±

=

+

±

=

δ

.


PRZYRZADY REJESTRUJĄCE

REJESTRACJA ANALOGOWA (CIĄGŁA)

Rys. 4.17. Rejestratory atramentowe


Rys. 4.18. Oscylograf pętlicowy

background image

7


Rys. 4.19. Rejestrator X-Y

REJESTRATRACJA DYSKRETNA

Rys. 4.20. Rejestrator punktowy

Rys. 4.21. Rejestracja punktowa

background image

8


Rys. 4.22. Rejestracja komputerowa

OSCYLOSKOPY

Dostępne są oscyloskopy analogowe i cyfrowe (dyskretne) oraz analogowo-cyfrowe,

tzn. takie które mogą pracować analogowo lub dyskretnie. Czasami mogą zawierać
wewnętrzną drukarkę (rys. 4.23).

Rys. 4.23. Oscyloskop cyfrowy z wewnętrzną drukarką


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Zadanie z pasowania otwarte, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Struktura źródeł błędów w procesie pomiarowym, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wyk
Błędy przypadkowe Metoda pośrednia, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Podstawy metrologii Wykład 4a
Przedrostki stosowane do oznaczenia wielokrotności jednostek, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy
Podstawy metrologii Wykład 5
Podstawy metrologii Wykład 2
MWG Program wykładu, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, WYKŁADY
Podstawy metrologii wykład 1
Pracownia Metrologii i Badań Jakości, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
KLASYFIKACJA BŁĘDÓW a1x, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Dyrektywa dot pomiarow, PWR Politechnika Wrocławska, podstawy metrologii, Wykłady 2011
Podstawy metrologii Wykład 1
KLASYFIKACJA PRZYRZADÓW POMIAROWYCH I WZORCÓW MIAR DO POMIARU DŁUGOŚCI, PWR Politechnika Wrocławska,
Podstawy metrologii Wykład 3

więcej podobnych podstron