pomiar chropowatości powierzchni sprawozdanie


& & & & & & & & & & & & & & & ..
(imię i nazwisko)
KATEDRA TECHNIK WYTWARZANIA
gr. & & & kierunek & & & & rok akad. & & & ..
I AUTOMATYZACJI
Data odrobienia Data oddania Ocena Podpis Uwagi
ćwiczenia sprawozdania
& & & & & & & & & & & & & .
.& & & & .& & & & .& & .& & & & & & & & & & & & & & & & .
METROLOGIA I KONTROLA JAKOŚCI - LABORATORIUM
Temat: POMIARY CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI
Cel ćwiczenia
Zapoznanie studentów z metodami pomiarów struktury geometrycznej powierzchni,
metodologią przeprowadzania pomiarów chropowatości powierzchni oraz analizą wyników
pomiarów.
Literatura:
Pawlus P: Topografia powierzchni. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2005.
PN-ISO 3274:1997. Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda
profilowa. Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym).
PN-ISO 4288:1997 Wymagania geometryczne wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni.
Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metodą profilową.
1. Ocena chropowatości powierzchni poprzez porównanie w wzorcami
chropowatości
- materiał: . . . . . . . . . . .
- sposób obróbki:. . . . . . . . . . .
- kształt powierzchni: . . . . . . . . . . .
- skazy powierzchni: . . . . . . . . . . .
Parametry odczytane z wzorca:
Ra = . . . . . . . . . . .
Rz = . . . . . . . . . . .
Rt = . . . . . . . . . . .
Rp = . . . . . . . . . . .
2. Pomiar chropowatości powierzchni
- nazwa profilometru: . . . . . . . . . . .
- odcinek pomiarowy: . . . . . . . . . . .
Zmierzone parametry:
Ra = . . . . . . . . . . .
Rz = . . . . . . . . . . .
Rt = . . . . . . . . . . .
Rp = . . . . . . . . . . .
Rv = . . . . . . . . . . .
RSm = . . . . . . . . . . .
Rmr = . . . . . . . . . . .
3. Pomiar topografii powierzchni
- nazwa profilometru: . . . . . . . . . . .
- obszar pomiaru: . . . . . . . . . . .
Zmierzone parametry:
Sa = . . . . . . . . . . .
Sz = . . . . . . . . . . .
St = . . . . . . . . . . .
Sp = . . . . . . . . . . .
Sv = . . . . . . . . . . .
4. Wyznaczenie położenia linii średniej m i obliczenie parametru Ra
dla przedstawionego profilogramu
Vx = . . . . . . .
Vz = . . . . . . .
zi am
hi = , m =
Vz Vz
n
"zi
i=1
Położenie linii średniej na wykresie [mm]: am = = . . . . . . . . . . [mm]
n
n
1000
Wartość parametru Ra [m]: Ra = m - hi = . . . . . . . . . . [m]
"
n
i=1


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Pomiar chropowatości powierzchni
7 pomiar chropowatosci i?listosci powierzchni
Chropowatość Powierzchni
02 Pomiar napiecia powierzchniowego
Pomiar chropowatości (ANG)
wyklad6 chropowatosc powierzchni [tryb zgodnosci]
Pomiar napięcia powierzchniowego
Pomiar napięcia powierzchniowego
Chropowatość powierzchni przy toczeniu
chropowatość powierzchni
cw 2 pomiary rezystywnosci skrośnej i powierzchniowej materiałów elektroizolacyjnyc stałych
Pomiary wymiarow zew wew sprawozdanie3
pomiar powierzchni i czolowek Topcon
SPOSOBY POMIARU POWIERZCHNI I ODLEGŁOŚCI NA MAPACH
11 Powierzchnie odniesienia pomiarów sytuacyjnych
100 Wyznaczanie gęstości ciał stałych i Podstawowe pomiary elektryczne sprawozdanie
sprawozdanie charakterystyki częstotliwościowe pomiary i wykresy

więcej podobnych podstron