Diagnozowanie i testowanie

Diagnozowanie systemu cyfrowego

Jest

to

proces

ustalania

stanu

zdatno

ś

ci

systemu

z

ewentualnym

wskazaniem miejsca (lokalizacja) i przyczyn wyst

ę

powania niezdatno

ś

ci

w przypadku jej wykrycia

1

Testowanie systemu cyfrowego

Polega na wymuszeniu na jego wej

ś

ciu sekwencji stanów, zwanych testami,

a nast

ę

pnie sprawdzeniu, czy reakcja układu na t

ę

sekwencj

ę

jest zgodna

z oczekiwan

ą

. Do wykrywanie niezdatno

ś

ci w układach cyfrowych na ogół

stosuje si

ę

testowanie.

Testowanie układów cyfrowych powinno

umożliwiać uzyskanie odpowiedzi na pytania:

•

Czy każdy układ cyfrowy (scalony) realizuje swoje
funkcje zgodnie z warunkami technicznymi?

•

Czy układy cyfrowe (scalone) są połączone ze sobą
w sposób zgodny z warunkami technicznymi?

2

w sposób zgodny z warunkami technicznymi?

•

Czy układy cyfrowe w urządzeniu współdziałają
zgodnie z warunkami technicznymi oraz czy całe
urządzenie (system) realizuje swoje funkcje zgodnie
z warunkami technicznymi?

Pożądane właściwości technik

testowania

• duża dokładność czyli współczynnik

pokrycia uszkodzeń przez sekwencję
testującą;

3

testującą;

• duża rozdzielczość czyli zdolność

lokalizacji uszkodzeń;

• duża szybkość działania;

• niski koszt.

Kryteria

Cechy metody testowania

Terminologia

Kiedy jest wykonywane
diagnozowanie?

równolegle z normalnym
działaniem systemu

jako oddzielna działalność

testowanie współbieżne

testowanie (off - line)

Gdzie znajduje się źródło
wymuszeń?

wewnątrz systemu testowanego

na urządzeniu zewnętrznym
(tester)

samotestowanie

zewnętrzne testowanie

Cel testowania

błędy projektowe

błędy wytwarzania

defekty fabryczne

testowanie weryfikacyjne

testowanie akceptacyjne

test zapewnienia jakości

Klasyfikacja rodzajów testowania

4

defekty fabryczne

uszkodzenia fizyczne

test zapewnienia jakości

testowanie eksploatacyjne

Rodzaj testowanego obiektu

układ scalony

płyta (pakiet)

system

testowanie na poziomie
komponentu

testowanie pakietu

testowanie na poziomie systemu

Sposób wyznaczania
wymuszeń i/lub
oczekiwanych odpowiedzi

uzyskiwane z pamięci

generowane w czasie testowania

testowanie z zapamiętanymi
wzorcami

testowanie algorytmiczne

testowanie porównawcze

Porządek zastosowania
wymuszeń

ustalony

zależny od rezultatów

testowanie adaptacyjne

Schemat testowania

Metody generowania testów

– testowanie wyczerpujące (gruntowne);

– testowanie deterministyczne;

– testowanie deterministyczne;

– testowanie pseudolosowe;

– testowanie losowe.

Metody tworzenia sekwencji testów

Testowanie gruntowne (ang. Exhaustive testing) wymaga sekwencji

uwzgl

ę

dniaj

ą

cej

wszystkie

mo

ż

liwe

przypadki

sterowania

wej

ś

ciem układu.

7

wej

ś

ciem układu.

Dla n-wej

ś

ciowego układu kombinacyjnego wymuszenie

wygenerowane t

ą

metod

ą

składa si

ę

z 2

n

stanów.

Dla układu sekwencyjnego o n-wej

ś

ciach oraz m-przerzutnikach

wymuszenie składa si

ę

z 2

n+m

stanów.

Metody tworzenia sekwencji testów

Testowanie losowe (ang. Random testing)

•

Długo

ść

prawie kompletnej sekwencji losowej zale

ż

y od rodzaju

układu i mo

ż

e by

ć

znaczna.

•

Zakłada si

ę

,

ż

e bł

ą

d nie zmienia charakteru układu.

•

Metoda generacji testów zale

ż

y od modelu uszkodze

ń

.

•

Do

oceny

jako

ś

ci

sekwencji

losowych

definiuje

si

ę

miary

probabilistyczne.

8

Testowanie deterministyczne (systematyczne)

(ang. Test pattern

generation)

•

Wykorzystuje si

ę

informacj

ę

o funkcji lub strukturze testowanego

układu (model testowanego układu).

•

Deterministyczny generator testów (GT) mo

ż

e by

ć

zorientowany na

bł

ę

dy lub niezale

ż

ny od bł

ę

dów.

•

Koszt GT zale

ż

y od zło

ż

ono

ś

ci układu, dla którego generuje si

ę

testy.

Długo

ść

sekwencji testów

pseudolosowych

9