Kontrola
sterowanie
odbiorcza
procesem
PSYCHOLOGIA
STATYSTYKA
Metody statystyczne
EKONOMIA
SOCJOLOGIA
Cel:
Cel:
8VXQL FLH
ZDGOLZ\FK
Wyszukiwanie
Z\UREyZ ]DQLP GRWU GR
QLHZáDFLZLHG]LDáDMF\FK
odbiorcy, czyli usuwanie
ogniw procesu produkcji i
VNXWNyZ QLHZáDFLZHJR
SRSUDZDLFKG]LDáDQLD
T Q M
G]LDáDQLD RJQLZ SURFHVX
produkcji.
Statystyczne sterowanie procesem Podstawowy cel SPC:
SPC
Z\NU\FLHUR]UHJXORZDW]QZ\áRZLHQLHW\FKSUyEHNZ\UREXNWyUH
(ang. Statistical Process Control)
V SRGMDNLP Z]JO GHPLVWRWQLHUy*QHRGLQQ\FKSUyEHN
=QDOD]áV]\WDN SUyEN PR*QD]DMüVL XVWDOHQLHPSU]\F]\Q\RZHJR
RGELHJDQLDRGQRUP\:63&SU]H]QRUP UR]XPLHVL W\SRZ\
Trzy filary SPC:
XUHJXORZDQ\ SU]HELHJ SURFHVX SURGXNFML D QLH MDNNROZLHN
1. VSRU]G]HQLHGRNáDGQHJRGLDJUDPXSURFHVXSURGXNFML
XVWDORQ ZF]HQLHMZDUWRüQRPLQDOQ
2. SRELHUDQLH ORVRZ\FK SUyEHN Z UHJXODUQ\FK RGVW SDFK F]DVX L QD
wielu etapach procesu produkcji) i dokonywanie pomiarów na tych Uwaga!
próbkach;
0R*H VL ]GDU]\ü *H SR ]DREVHUZRZDQLX RGVW SVWZD RG QRUP\ QLH
3. Z\NRU]\VWDQLH
]DREVHUZRZDQ\FK V\JQDáyZ UR]UHJXORZDQLD
E G]LHP\]DLQWHUHVRZDQLMHJRXVXQL FLHPQSZSU]\SDGNXZ\NU\FLD
SURFHVXGRZ\NU\ZDQLDSU]\F]\QLFKSRZVWDQLDZFHOXXVXQL FLD
QLHVSRG]LHZDQHJRSRSUDZLHQLDREVHUZRZDQHJRZVND(QLNDMDNRFL
tych przyczyn).
Podstawowe zasady SPC:
1. ]QDMG( V\JQDáUR]UHJXORZDQLDSURFHVXW]QQLHW\SRZ SUyEN
6WDW\VW\F]QH VWHURZDQLH SURFHVHP MHVW VWUDWHJL V\VWHPDW\F]QHM
2. wykryj przyczyny zaobserwowanego rozregulowania; etapowej optymalizacji procesu produkcji.
3. X*\MX]\VNDQ LQIRUPDFM GRSRSUDZ\MDNRFLSURFHVX
Przyczyny losowe F]\QQLNL Z\VW SXMFH ]Z\NOH Z GX*HM OLF]ELH
3U]\F]\Q\]PLHQQRFL
SU]\F]\PND*G\]QLFKPDZ]JO GQLHPDáH]QDF]HQLHSURZDG]FHGR
]PLHQQRFLNWyUHQLHPXV]DE\üNRQLHF]QLH]LGHQW\ILNRZDQH
8:$*$ 3U]\F]\Q\ ORVRZH V F]DVHP SU]HGVWDZLDQH MDNR RJyOQH
SU]\F]\Q\]PLHQQRFL
Przyczyny losowe
Przyczyny wyznaczalne
(specjalne)
Przyczyna wyznaczalna - czynnik (zwykle systematyczny), który ang. chance causes,
ang. assignable causes,
PR*H E\ü Z\NU\W\ L ]LGHQW\ILNRZDQ\ MDNR SRZRGXMF\ ]PLDQ\
common causes
special causes
ZáDFLZRFLMDNRFLRZHMOXE]PLDQ\SR]LRPXSURFHVX
Stan statystycznie uregulowany VWDQZNWyU\P]PLHQQRüPL G]\
REVHUZRZDQ\PL Z\QLNDPL EDGDQLD SUyENL PR*H E\ü SU]\SLVDQD
]HVSRáRZLSU]\F]\QORVRZ\FKLNWyU\QLHXOHJD]PLDQRPZF]DVLH
(ang. state of statistical control)
Proces uregulowany SURFHV VWDELOQ\ SURFHV Z NWyU\P ND*GD ]
PLDU MDNRFL QS ZDUWRü UHGQLD L UR]U]XW OXE IUDNFMD MHGQRVWHN
QLH]JRGQ\FKOXEUHGQLDOLF]EDQLH]JRGQRFLSURGXNWXOXEXVáXJLMHVW
w stanie statystycznie uregulowanym.
(ang. process in control; stable process)
UCL
(Dr Walter A. Shewhart - 1924)
Model ogólny karty Shewharta:
UCL = µ + kσ
W
W
CL = µ W
LCL = µ − kσ
W
W
LCL
Proces uregulowany
UCL (ang. upper conltrol limit) - górna granica (linia) kontrolna CL
(ang. center line)
- linia centralna
UCL
LCL (ang. lower control limit) - dolna granica (linia) kontrolna Linia centralna OLQLD QD NDUFLH NRQWUROQHM UHSUH]HQWXMFD ZDUWRü UHGQL UHMHVWURZDQHM PLDU\ VWDW\VW\F]QHM REOLF]RQ QD SRGVWDZLH
VHULLREVHUZDFMLZGáXJLPF]DVLHOXEUHSUH]HQWXMFD]DáR*RQ ]JyU\
ZDUWRüWHMPLDU\
LCL
X
Granice kontrolne JUDQLFH SRPL G]\ NWyU\PL ] EDUG]R GX*\P
6\JQDáDODUPRZ\
SUDZGRSRGRELHVWZHP ]QDMGXMH VL ZDUWRü UR]SDWU\ZDQHJR
SDUDPHWUX VWDW\VW\F]QHJR MH*HOL SURFHV MHVW Z VWDQLH VWDW\VW\F]QLH
uregulowanym.
1DMF] FLHMVWRVRZDQHZSUDNW\FHNDUW\Shewharta
3URFHGXU\63&VáX* ZSUDNW\FHGRNRQWUROLWU]HFKZLHONRFL
(wg ISO 7870):
•
SDUDPHWUXSRáR*HQLDSU]HGHZV]\VWNLPUHGQLHM
•
SDUDPHWUXUR]SURV]HQLDUR]VW SXOXERGFK\OHQLDVWDQGDUGRZHJR
•
karty X − R ZDUWRFLUHGQLHMLUR]VW SX
•
ZDGOLZRFL
•
karty X − s ZDUWRFLUHGQLHMLRGFK\OHQLDVWDQGDUGRZHJR
•
karty p (procentu lub frakcji jednostek niezgodnych)
•
karty np. (liczby jednostek niezgodnych)
•
karty c OLF]E\QLH]JRGQRFL
Karty kontrolne
•
karty u OLF]E\QLH]JRGQRFLZMHGQRVWFH
•
karty Q ZD*RQ\FKOLF]EQLH]JRGQRFL
•
karty D
("GHPHULWyZ URG]DM NDUW ZD*RQ\FK OLF]E
QLH]JRGQRFL
do oceny alternatywnej
do oceny liczbowej
•
karty typu "multi-response charts" (stosowane w przypadku (control charts by attributes)
(control charts by variableses)
NRQWUROLFKDUDNWHU\VW\NE GF\FKIXQNFMDPLZLHOX]PLHQQ\FK
•
karty trendu
•
karty MA SU]HVXZDMFHMVL UHGQLHM
•
karty MR SU]HVXZDMFHJRVL UR]VW SX
•
karty EWMA Z\NáDGQLF]R Z\JáDG]DQHM SU]HVXZDMFHM VL
UHGQLHM
•
karty CUSUM (sum skumulowanych).
-DNF] VWRQDOH*\SRELHUDüSUyENL"
UWAGA
.ODV\F]QHNDUW\GRRFHQ\OLF]ERZHMVNRQVWUXRZDQHV SU]\]DáR*HQLX
:VND]yZNL ]DZDUWH Z QRUPDFK L UHQRPRZDQ\FK SRGU F]QLNDFK V
*HEDGDQDFHFKPDUR]NáDGQRUPDOQ\.
GRüRJyOQH
•
UD] QD G]LH Z SU]\SDGNX SURGXNFML QLH PDMFHM FKDUDNWHUX
: SU]\SDGNX NDUW GR NRQWUROL ZDUWRFL UHGQLHM GRSXV]F]DOQH V
masowego;
QLHGX*HRGVW SVWZDRGWHJR]DáR*HQLDSU]\F]\P ZUD*OLZRüW\FK
•
FRJRG]LQ ZSU]\SDGNXSURGXNFMLPDVRZHM
NDUWZ]UDVWDZUD]]HZ]URVWHPVNRQRFLUR]NáDGXEDGDQHMFHFK\
3U]\ GX*\FK RGVW SVWZDFK RG QRUPDOQRFL UR]NáDGX FHFK\
Problem:
NRQLHF]QH MHVW SRELHUDQLH OLF]Q\FK SUyEHN EG( ]DVWRVRZDQLH NDUW\
szybkie wykrywanie
NRQWUROQHM
XZ]JO GQLDMFHM
U]HF]\ZLVW
SRVWDü
UR]NáDGX
SURFHVQDOH*\
UR]UHJXORZDQLDJáyZQ\
SUDZGRSRGRELHVWZDEDGDQHMFHFK\
F] VWRNRQWURORZDü
cel kart kontrolnych)
.DUW\RGFK\OHQLDVWDQGDUGRZHJRV EDUG]RZUD*OLZHQDRGVW SVWZDRG
F] VWHSUyENRZDQLH
]ZL NV]HQLH
]DáR*H RQRUPDOQRFLUR]NáDGXEDGDQHMFHFK\
kosztów kontroli
:\EyU F] VWRFL SUyENRZDQLD SRZLQLHQ E\ü Z\QLNLHP NRPSURPLVX
UWAGA *\FLRZD
PL G]\V]\ENRFL Z\NU\ZDQLDUR]UHJXORZD DNRV]WDPLNRQWUROL
/HSLHMVWRVRZDüNDUW\NRQWUROQHQDZHWZWHG\JG\SHZQH]DáR*HQLDR
SURFHVQDOH*\F] VWRNRQWURORZDü
UR]NáDG]LH SURFHVX QLH V VSHáQLRQH DQL*HOL SR]RVWDZLü SURFHV EH]
jakiejkolwiek kontroli.
3U]\ Z\]QDF]DQLX F] VWRFL SUyENRZDQLD QDMZD*QLHMV]H MHVW
GRZLDGF]HQLHVáX*ENRQWUROLMDNRFL