04 - Przetworniki c-a, miernictwo-Šw.2, Laboratorium Miernictwa Elektronicznego


Laboratorium Miernictwa Elektronicznego

Patryk Wojciechowski 23 października 1998

Przetworniki cyfrowo-analogowe - pomiary, właściwości, aplikacje pomiarowe.

  1. Cel ćwiczenia.

Celem ćwiczenia jest przedstawienie istoty pracy przetwornika c/a, źródeł błędów przetwarzania, sposobów definiowania i pomiaru parametrów przetwornika.

  1. Przyrządy pomiarowe.

Makieta przetwornika c/a 10 bitowego Analog Devices AD565.

(ziarno przetwornika 0.01V)

Komputer klasy IBM PC.

Oscyloskop LG OS-50206.

Multimetr cyfrowy V563.

(błąd przetwarzania: ±0.02% Ux ±0.0005% Uzak dla wartości max. = 5.1185 wynosi 0.006024V w związku z czym jest on do pominięcia w dalszych obliczeniach)

  1. Program ćwiczenia.

1. Pomiar dokładności przetwarzania przetwornika.

2. Wyznaczenie zależności analitycznej, pozwalającej na obliczenie dokładności

przetwarzania dla dowolnej nastawy przetwornika.

3. Doświadczalne wyznaczenie dokładności przetwarzania dla kilku nastaw

przetwornika.

4. Pomiar wpływu zmian napięcia zasilania na dokładność przetwarzania.

5. Badanie kompensacyjnego przetwornika a/c.

6. Generacja sygnału o określonym kształcie.

7. Pomiar parametrów dynamicznych przetwornika.

  1. Wyniki pomiarów.

Ad. 1.

Nastawa

Un

Ux

ΔU

Dziesiętnie

[V]

[V]

[V]

12

5.00

4.9955

-0.0045

112

4.00

3.9989

-0.0011

212

3.00

2.9986

-0.0014

312

2.00

1.9988

-0.0012

412

1.00

0.9991

-0.0009

512

0.00

-0.0001

-0.0001

612

-1.00

-1.0049

-0.0049

712

-2.00

-2.0092

-0.0092

812

-3.00

-3.0143

-0.0143

912

-4.00

-4.0185

-0.0185

1012

-5.00

-5.0233

-0.0233

0

5.12

5.1185

-0.0015

1023

-5.11

-5.1339

-0.0239

513

-0.01

-0.0102

-0.0002

514

-0.02

-0.0203

-0.0003

516

-0.04

-0.0403

-0.0003

520

-0.08

-0.0805

-0.0005

528

-0.16

-0.1610

-0.0010

544

-0.32

-0.3220

-0.0020

576

-0.64

-0.6433

-0.0033

640

-1.28

-1.2864

-0.0064

Dokładność przetwarzania wyliczamy z zależności:

0x01 graphic

Maksymalna jej wartość przypada dla nastawy 1023 i wynosi:

0x01 graphic

Ad.2.

0x01 graphic

Ad.3.

Aktywny bit

Nastawa

UX [V]

UN [V]

ΔU [V]

δU [%]

D0

1

5.1140

5.11

0.004

0.039

D1

2

5.0960

5.1

-0.004

-0.039

D2

4

5.0770

5.08

-0.003

-0.029

D3

8

5.0365

5.04

-0.003

-0.034

D4

16

4.9566

4.96

-0.003

-0.033

D5

32

4.7967

4.8

-0.003

-0.032

D6

64

4.4780

4.48

-0.002

-0.02

D7

128

3.8390

3.84

-0.001

-0.01

D8

256

2.5596

2.56

-0.0004

-0.004

D9

512

-0.0001

0

-0.0001

-0.001

W celu sprawdzenia faktu zgodności błędu globalnego z sumą błędów uaktywnionych wejść dokonujemy obliczeń dla nastaw:

Nastawa dziesiętnie 1023, aktywne bity- wszystkie, dokładność globalna - 0.234%,

dokładność sumowana -0.218% .

Nastawa dziesiętnie 576, aktywne bity- 9 i 6, dokładność globalna - 0.032%,

dokładność sumowana -0.021% .

Ad.4.

Zmiana napięć zasilających: -12V +10%, +12V -10%

Aktywny bit

Nastawa

UX [V]

UN [V]

ΔU [V]

δU [%]

D0

1

5.1206

5.11

0.011

0.104

D1

2

5.1105

5.1

0.011

0.103

D2

4

5.0848

5.08

0.005

0.047

D3

8

5.0501

5.04

0.01

0.099

D4

16

4.9682

4.96

0.008

0.08

D5

32

4.8079

4.8

0.008

0.077

D6

64

4.4880

4.48

0.008

0.078

D7

128

3.8451

3.84

0.005

0.05

D8

256

2.5641

2.56

0.004

0.04

D9

512

-0.0002

0

-0.0002

-0.002

Zmiana napięć zasilających: -12V -10%, +12V +10%

Aktywny bit

Nastawa

UX [V]

UN [V]

ΔU [V]

δU [%]

D0

1

5.1255

5.11

0.015

0.152

D1

2

5.1130

5.1

0.013

0.127

D2

4

5.0885

5.08

0.008

0.083

D3

8

5.0528

5.04

0.013

0.125

D4

16

4.9697

4.96

0.01

0.095

D5

32

4.8072

4.8

0.007

0.07

D6

64

4.4901

4.48

0.01

0.099

D7

128

3.8506

3.84

0.011

0.104

D8

256

2.5669

2.56

0.007

0.067

D9

512

-0.0001

0

-0.0001

-0.001

Zaobserwowane wyniki i obliczone błędy wskazują na to, iż przetwornik jest wrażliwy na niewielkie zmiany napięć zasilających. Obliczone błędy wzrosły czasem nawet o jeden rząd wielkości. Zasadniczo dla drugiej zmiany napięć zasilających błędy dla każdego bitu były większe.

Ad.5.

Zaobserwowane wyniki pomiaru przetwornika a/c sterowanego komputerowo w porównaniu z napięciem na wejściu przetwornika:

Uwe [V]

Uwy [V]

-3.240

-3.24

-1.370

-1.37

0.250

0.26

2.124

2.13

5.117

5.11

Wyświetlane przez komputer wyniki z dokładnością co do wartości ziarna przetwornika są poprawne.

Na skutek uszkodzenia miernika, objawiającego się niemożnością jednoznacznego odczytania ostatniego miejsca pomiarowego, dokonaliśmy zaokrąglenia wyników do 3 miejsc po przecinku.

Ad.6.

W trakcie ćwiczenia jako przykład zastosowania przetwornika c/a w technice pomiarowej wygenerowaliśmy za jego pomocą sygnały o różnym kształcie np: trójkąt, prostokąt, sinus etc. O ile na to pozwoliły nam możliwości oscyloskopu stwierdziliśmy poprawność kształtów generowanych przebiegów. Były poprawne za wyjątkiem faktu składania ich z próbek.

Ad.7.

Do testu dynamiki wykorzystaliśmy sygnał TTL o częstotliwości ok. 1 kHz. Obserwowane przez nas parametry to szybkość narostu, czas ustalania i przepięcie.

0x08 graphic

W przypadku zbocza narastającego nie zaobserwowaliśmy przepięcia. Czas ustalania (czas pomiędzy momentem zmiany nastawy, a ustaleniem się przebiegu) wyniósł 0.15 ms, natomiast szybkość narostu (stosunek 80% wartości narastającej do czasu, w którym ta wartość narosła) wyniosła 68.5 V/ms.

0x08 graphic

W przypadku zbocza opadającego zauważyliśmy niewielkie przepięcie, czas ustalania wyniósł 0.16 ms, natomiast szybkość opadania 70.7 V/ms.

0x08 graphic
W przypadku dalszego wzrostu częstotliwości obserwowaliśmy coraz wyraźniejsze odkształcanie się przebiegu wyjściowego, Dla częstotliwości ok

50 kHz uzyskaliśmy kształt pokazany obok na rysunku. W przypadku dalszego wzrostu częstotliwości, powyżej 100 kHz uzyskaliśmy całkowity zanik sygnału na wyjściu poza sporadycznym występowaniem szpilek Dirac'a.

  1. Wnioski

W przypadku dużych ujemnych napięć powyżej -3V błąd przetwarzania ΔU jest większy od błędu ziarna przetwornika. Wskazuje to nato, iż włączenie naraz kilku najwyższych bitów powoduje znaczny wzrost błędu przetwarzania. Wskutek zmniejszonej dokładności wskazań miernika (zimny lut) błąd wniesiony przez ten miernik nie był 10-krotnie mniejszy od błędu ziarna, co mogło powodować pewną niepoprawność wyliczonych błędów przetwornika.

Obliczone wartości błędów ΔU przedstawione są w woltach. Aby uzyskać je w stosunku do LSB (tak jak podaje się to w katalogach), wystarczy wynik podzielić przez 0.01 .

Jak widać na załączonych wykresach wartości błędów bezwzględnych są największe (co do wartości bezwzględnej) dla najmniejszej nastawy i wraz ze wzrostem wielkości nastawy maleją prawie do zera.

Przeprowadzone ćwiczenie poszerzyło nasze wiadomości na temat przetworników. Obecnie przyrządy te mają olbrzymie zastosowanie w sprzęcie powszedniego użytku np. w odtwarzaczu CD(16 a czasami nawet 20 bitowe przetworniki), wszelakim sprzęcie podłączanym do komputera czy też generatorach sygnałów.

5

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
04 - Przetworniki c-a, Cw2miern2 - Piotrek, Laboratorium Miernictwa Elektronicznego
Przetworniki anologowo-cyfrowe, Laboratorium układów elektronicznych
Przetwornice napięcia stałego, Laboratorium układów elektronicznych
Laboratorium z podstaw Miernictwa Elektronicznego4
MIERNI~1, LABORATORIUM MIERNICTWA ELEKTRYCZNEGO
uklady czasowe, Laboratorium Miernictwa Elektrycznego
Ujemne sprzężenia zwrotne, Ujemne sprzężenia zwrotne, Laboratorium Miernictwa Elektrycznego
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Lab C e, Laboratorium miernictwa elektronicznego
Laboratorium Pomiarów Elektrycznych spr 4, PWR, MIERNICTWO EL. - LABOLATORIUM
Laboratorium Pomiarów Elektrycznych spr 2, PWR, MIERNICTWO EL. - LABOLATORIUM
Miernictwo Elektroniczne - Laboratorium, Miernictwo - Ćw. 5, Marcin Szopian
mier k 18, LABORATORIUM MIERNICTWA ELEKTRYCZNEGO
Miernictwo- PRZETWORNIK CYFROWO - ANALOGOWY, LABORATORIUM Z MIERNICTWA CYFROWEGO
Miernictwo - Ćw. 3, Automatyka i elektronika, Miernictwo Elektroniczne - Laboratorium, Miernictwo El
C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, Lab C g, Laboratorium Miernictwa Elektronicznego
B - oscyloskop, Oscyloskop cyfrowy, Miernictwo elektroniczne - laboratorium
Laboratorium z podstaw Miernictwa Elektronicznego4 (1)

więcej podobnych podstron