SETLA BARTOSZ |
Ćwiczenie nr E7 Badanie charakterystyk fotooporu. |
||
FIZYKA II ROK |
Ocena z kolokwium:
|
Ocena ze sprawozdania:
|
Ocena końcowa:
|
dr A. Domagała |
|
|
|
1) CZĘŚĆ TEORETYCZNA
Zjawisko fotooporu wewnętrznego polega na zmianie przewodnictwa elektrycznego ciał stałych pod wpływem oświetlenia. Zachodzi ono głównie dla półprzewodników. Przewodnictwo wzrasta, gdy kosztem dostarczanej energii elektrony przechodzą z pasma podstawowego do pasma przewodnictwa tworząc parę nośników prądu: elektron- dziura.
Zjawisko to jest możliwe wówczas, gdy wartość energii kwantu promieniowania świetlnego jest równa lub większa od szerokości pasma wzbronionego.
h· ≥ ∆E
- częstość padającego promieniowania świetlnego
h - stała Plancka
∆W - szerokość przerwy energetycznej w modelu pasmowym
Półprzewodnikami nazywamy dużą liczbę substancji, których opór właściwy mieści się w zakresie od 10-5 Ω·m do 108 Ω·m, i bardzo szybko maleje wraz ze wzrostem temperatury.
Typowe, najszerzej stosowane półprzewodniki to pierwiastki chemiczne german, krzem, tellur.
Fotoopornik
Składa się on z długiej i cienkiej taśmy półprzewodnika ułożonego w sposób pokazany na rysunku. Przed uszkodzeniami mechanicznymi taśma jest chroniona warstwą szkła organicznego. Znajduje on zastosowanie w telewizorach jako przyrząd do automatycznej regulacji jasności obrazu w zależności od oświetlenia pomieszczenia.
Natężenie oświetlenia
Oznaczamy je symbolem E i definiujemy jako pochodną strumienia świetlnego względem powierzchni ustawionej prostopadle do biegu promienia:
E = dФ/dS
.
Jednostką natężenia oświetlenia jest luks[lx],który zgodnie z powyższym wzorem posiada wymiar: lx = lm · m-2
gdzie lumen (lm) jest jednostką strumienia świetlnego Φ.
Przewodnictwo samoistne półprzewodnika związane jest z dwoma rodzajami nośników prądu- z elektronami w paśmie przewodnictwa i dziurami w paśmie walencyjnym. Każdemu elektronowi, który przeszedł do pasma przewodnictwa, odpowiada jedna dziura w paśmie walencyjnym. Koncentracje elektronów ne i dziur nd są jednakowe i szybko rosną wraz ze zwiększaniem się temperatury T zgodnie ze wzorem
gdzie ΔW jest energią aktywacji przewodnictwa samoistnego.
Przewodnictwo elektryczne półprzewodników, związane z występującymi w nich centrami domieszkowymi nazywamy przewodnictwem domieszkowym.
Domieszki stanowią atomy lub jony obcych pierwiastków oraz rozmaite defekty sieci krystalicznej (puste węzły, dyslokacje powstające przy odkształceniu kryształu). Domieszki zmieniają okresowe pole elektryczne w ciele stałym, a także wpływają na ruch elektronów i ich stany energetyczne.
w przypadku gdy do półprzewodnika wprowadzone są równocześnie domieszki donorowe i akceptorowe, charakter przewodnictwa (typu p lub typu n) będzie zależał od tego, które domieszki dają większą koncentrację nośników prądu. Koncentracja i energia elektronów (oraz dziur) w półprzewodnikach -w odróżnieniu od metali -silnie zależy od temperatury i zwiększa się przy jej wzroście.
2) CZĘŚĆ PRAKTYCZNA
Tabela pomocnicza
odległość In |
0.2[m] |
0.15[m] |
0.1[m] |
0.05[m] |
|
lp. |
U1[dz] |
E[lx] |
E[lx] |
E[lx] |
E[lx] |
1. |
17 |
2 |
4 |
17 |
22 |
2. |
20 |
10 |
17 |
33 |
64 |
3. |
30 |
40 |
65 |
120 |
280 |
4. |
40 |
96 |
150 |
230 |
610 |
5. |
50 |
160 |
260 |
470 |
980 |
6. |
60 |
270 |
400 |
720 |
— |
7. |
70 |
370 |
530 |
900 |
— |
8. |
80 |
470 |
700 |
— |
— |
9. |
90 |
550 |
820 |
— |
— |
10. |
100 |
620 |
900 |
— |
— |
Otrzymane wyniki:
Tabela I
lp. |
l[m] |
U1[dz] |
E[lx] |
U2[V] |
I[mA] |
1. |
0,15 |
20 |
17 |
1,7 |
0,010 |
2. |
0,15 |
30 |
65 |
1,4 |
0,030 |
3. |
0,15 |
40 |
150 |
0,7 |
0,063 |
4. |
0,15 |
50 |
260 |
0,5 |
0,060 |
5. |
0,15 |
60 |
400 |
0,4 |
0,080 |
Tabela II
lp. |
U1[dz] |
E[lx] |
I[mA] |
U2[V] |
l[m] |
1. |
20 |
33 |
0,045 |
2,5 |
0,1 |
2. |
30 |
126 |
0,16 |
2,5 |
0,1 |
3. |
40 |
230 |
0,33 |
2,5 |
0,1 |
4. |
50 |
470 |
0,50 |
2,5 |
0,1 |
5. |
60 |
720 |
0,68 |
2,5 |
0,1 |
Tabela III
lp. |
x[m] |
I[mA] |
E[lx] |
l [m] |
U2[V] |
1. |
0,03 |
75 |
900 |
0,1 |
2,5 |
2. |
0,06 |
77 |
900 |
0,1 |
2,5 |
3. |
0,04 |
68 |
900 |
0,1 |
2,5 |
Obliczam współczynnik absorpcji k dla trzech grubości absorbenta x jeśli wiadomo, że:
E = Eo e-kx =>
k1 = 17,321 m-1
k2 = 7,258 m-1
k3 = 21,725 m-1
Korzystając z metody różniczki zupełnej obliczam Δk
Δk1 = 6,59 m-1
Δk2 = 2,98 m-1
Δk3 = 4,45m-1
k1 = ( 17,32±6,59) m-1
k2 = ( 7,25±2,98) m-1
k3 = ( 21,72±4,45) m-1
Obliczam średnią wartość k
Δkśr = ( 15,71 ± 4,5 ) m-1
WNIOSKI:
Założony cel został osiągnięty. Na niedokładność pomiarów mogło wpłynąć wiele czynników tj. niedokładność zmysłów podczas odczytywania wartości z urządzenia inne przyczyny to wada urządzenia oraz niska klasa miernika.
Pasmo przewodnictwa elektronowego
Pasmo zapełnione
Poziomy donorowe