Temat 膰wiczenia:
POMIAR D艁UGO艢CI FALI 艢WIETLNEJ ZA POMOC膭 SPEKTROMETRU
Cz臋艣膰 teoretyczna:
Dyfrakcja (ugi臋cie fali) - zjawisko fizyczne zmiany kierunku rozchodzenia si臋 fali na kraw臋dziach przeszk贸d oraz w ich pobli偶u. Zjawisko to zachodzi dla wszystkich wielko艣ci przeszk贸d, ale wyra藕nie jest obserwowane dla tych o rozmiarach por贸wnywalnych z d艂ugo艣ci膮 fali.
Interferencja - jest to nak艂adanie si臋 w danym punkcie przestrzeni przeliczonej liczby fal, kt贸ra mo偶e prowadzi膰 do wzmocnienia lub wygaszenia, w zale偶no艣ci od r贸偶nicy faz. Maksimum nat臋偶enia wyst臋puje w punktach, w kt贸rych interferuj膮ce fale b臋d膮 zgodne w fazie, czyli r贸偶nica faz b臋dzie r贸wna:
蠁 = m * 2螤 (gdzie m = 0, 卤1, 卤2, …)
Siatka dyfrakcyjna - przyrz膮d do przeprowadzenia analizy widmowej. Tworzy j膮 uk艂ad r贸wnych, r贸wnoleg艂ych i jednakowo rozmieszczonych szczelin.
Sta艂a siatki dyfrakcyjnej to parametr charakteryzuj膮cy siatk臋 dyfrakcyjn膮. Wyra偶a on rozstaw szczelin siatki (odleg艂o艣膰 mi臋dzy 艣rodkami kolejnych szczelin).
Im wi臋ksza liczba szczelin tym ostrzejszy jest obraz dawany przez siatk臋.
dsin (伪n) = n位,
gdzie:
位 - d艂ugo艣膰 fali
d - sta艂a siatki
n - rz膮d widma
Budowa siatki dyfrakcyjnej:
Jest to przezroczysta lub p贸艂przezroczysta p艂ytka - kryszta艂owa, szklana lub z tworzywa sztucznego z wielk膮 liczb膮 malutkich szczelin (do ponad 1000 na 1mm) o takiej samej wielko艣ci i w r贸wnej odleg艂o艣ci od siebie. Szczeliny te powoduj膮 ugi臋cie przechodz膮cej wi膮zki 艣wiat艂a - zachodzi jej dyfrakcja Zebrane przez soczewk臋 poszczeg贸lne wi膮zki mog膮 ulega膰 interferencji daj膮c na ekranie obraz interferencyjno-dyfrakcyjny. Odleg艂o艣膰 mi臋dzy szczelinami (ich 艣rodkami) nazywa si臋 sta艂膮 siatki (d). Jako pierwszy w swoich do艣wiadczeniach prymitywn膮 siatk臋 dyfrakcyjn膮 zastosowa艂 angielski fizyk Thomas Young. Typowa siatka dyfrakcyjna posiada 12000 szczelin na cal (tj. na 2,54 cm) szeroko艣ci. Sta艂a takiej siatki wynosi 2116 nm (d = 2,54cm/12000).
Zosta艂a wynaleziona w 1821 roku przez Fraunhofera. By艂a pierwszym instrumentem pozwalaj膮cym wyznaczy膰 d艂ugo艣膰 fal 艣wietlnych. Pr膮偶ki jasne powstaj膮 dla k膮t贸w 伪n spe艂niaj膮cych warunek:
dsin(伪n) = n位
gdzie:
位 - d艂ugo艣膰 fali
d - sta艂a siatki
n - rz膮d ugi臋cia
Spektrometr - przyrz膮d pomiarowy pozwalaj膮cy na okre艣lenie rozk艂adu nat臋偶enia I, promieniowania elektrycznego w funkcji d艂ugo艣ci fali 位, czyli na sporz膮dzenie widma (spektrum) I = f(位). Ka偶dy spektrometr, aby w艂a艣ciwie spe艂nia艂 swoje zadania musi by膰 wyskalowany za pomoc膮 藕r贸d艂a promieniowania o znanym widmie (np. za pomoc膮 lampy neonowej, rt臋ciowej itp.). Oznacza to, 偶e w przyrz膮dach dyspersyjnych nale偶y jednoznacznie przyporz膮dkowa膰 k膮t pomiaru 飦 - d艂ugo艣ci fali 飦 (zale偶no艣膰: 飦 = f(飦).
Budowa Spektometru
Przyk艂adowy odczyt noniusza
Tabele pomiarowe:
SIATKA DYFRAKCYJNA 600mm |
||||
Rz膮d obrazu n |
Barwa linii |
Po艂o偶enie obrazu ugi臋tego |
艢redni k膮t ugi臋cia 蠁 |
|
|
|
Prawo |
Lewo |
|
1 |
fioletowy |
14掳00' |
14掳18' |
14掳09' |
1 |
niebieski |
15掳00' |
15掳25' |
15掳12' |
1 |
zielony |
17掳40' |
17掳25' |
17掳32' |
1 |
偶贸艂ty (I dublet) |
19掳40' |
19掳21' |
19掳30' |
1 |
偶贸艂ty (II dublet) |
20掳03' |
20掳50' |
20掳26' |
1 |
czerwony |
22掳00' |
22掳13' |
22掳06' |
蠁 |
d艂ugo艣膰 |
nm |
14.15000 |
0.00041 |
407.4355 |
15.20000 |
0.00044 |
436.9820 |
17.53000 |
0.00050 |
502.0085 |
19.50000 |
0.00056 |
556.3448 |
20.43000 |
0.00058 |
581.7713 |
22.10000 |
0.00063 |
627.0404 |
SIATKA DYFRAKCYJNA 50mm |
||||
Rz膮d obrazu n |
Barwa linii |
Po艂o偶enie obrazu ugi臋tego |
艢redni k膮t ugi臋cia 蠁 |
|
|
|
Prawo |
Lewo |
|
1 |
fioletowy |
1掳12' |
1掳10' |
1掳11' |
1 |
niebieski |
1掳16' |
1掳15' |
1掳16' |
1 |
zielony |
1掳30' |
1掳27' |
1掳28' |
1 |
偶贸艂ty (I dublet) |
1掳36' |
1掳35' |
1掳36' |
1 |
偶贸艂ty (II dublet) |
1掳41 |
1掳40' |
1掳40' |
1 |
czerwony |
1掳47' |
1掳45' |
1掳46' |
蠁 |
d艂ugo艣膰 |
nm |
1.18000 |
0.00041 |
411.8686 |
1.27000 |
0.00044 |
443.2773 |
1.47000 |
0.00051 |
513.0705 |
1.60000 |
0.00056 |
558.4328 |
1.67000 |
0.00058 |
582.8574 |
1.27000 |
0.00044 |
443.2773 |
Analiza pomiar贸w i dyskusja b艂臋d贸w:
Siatka dyfrakcyjna 600nm:
nm
nm
nm
nm
nm
Niepewno艣ci pomiarowe:
Pochodne cz膮stkowe:
=
=
Oszacowanie niepewno艣ci pomiaru po艣redniego
:
Pochodne cz膮stkowe:
=
nm
Siatka dyfrakcyjna 50nm:
nm
nm
nm
nm
nm
Oszacowanie niepewno艣ci pomiaru po艣redniego
:
Pochodne cz膮stkowe:
=
nm
Zakres d艂ugo艣ci fal promieniowania widzialnego dane z tablic
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|