LABORATORIUM METROLOGII
Ćw. 6: „Pomiary Elementów RLC”
Łukasz Siemiaszko EiT-07 nr albumu: 119119
Cel ćwiczenia
Celem ćwiczenia jest poznanie wybranych układów oraz zakresu ich zastosowań, do pomiaru parametrów rezystorów, kondensatorów, cewek itp.
Zad 1
Wykreślić w skali log-log zależność czułości napięciowej mostka Wheatstone'a Su od wartości rezystora R1 przy R2 = const oraz od wartości R2 przy R1 = const. Określić, jak należy dobrać rezystory R1 i R2 w mostku Wheatstone'a dla uzyskania optymalnych warunków pomiaru.
6.1 |
|
|
|
6.2 |
|
|
|
R1[ |
Rx[ |
U[mV] |
Su[mV/] |
R2[ |
Rx[ |
U[mV] |
Su[mV/] |
10 |
220 |
10 |
0,045 |
10 |
8,3 |
10,29 |
1,240 |
100 |
22,2 |
9,99 |
0,450 |
100 |
7,4 |
10,03 |
1,355 |
1000 |
6,7 |
10,013 |
1,494 |
1000 |
7,2 |
9,98 |
1,386 |
10000 |
22,2 |
10,25 |
0,462 |
10000 |
7,2 |
10,08 |
1,400 |
Dla R1:
Dla R2:
Z wykresów oraz pomiarów wynika, że mostek Wheatstone'a największą czułość osiąga dla R1=1 [kΩ]. Wpływ wartości rezystancji R2 na czułość napięciową tego mostka jest niewielki, ale największa wypada dla 1 [kΩ]. Ponieważ wartość mierzona Rx wynosiła 1[kΩ] stwierdzam, że badany mostek uzyskuje optymalne warunki pomiaru (największą czułość napięciową), gdy wartość rezystancji R1 jest równa, lub w przybliżeniu równa wartości rezystancji mierzonej Rx, czyli gdy spełniony jest warunek R1=Rx, a co do wartości rezystancji R2 to nie ma ona znaczącego wpływu na warunki pracy, jednak zależność ta w moim przypadku jest podobna do poprzedniej.
Zad 2
W zadaniu przyjmujemy, że przewodność właściwa miedzi, z której została wykonana ścieżka wynosi
, szerokość ścieżki wynosiła 2mm, zaś odstęp między zaciskami napięciowymi 0,05m.
Obliczam rezystancję ścieżki:
gdzie:
Rp - rezystancja odczytana; RN, R - wartości dobrane;
Grubości ścieżki obliczam ze wzoru:
Rx - zmierzona rezystancja ścieżki; σ - przewodność; l - długość ścieżki (0,05[m]); d - grubość ścieżki; b - szerokość ścieżki;
skąd otrzymałem:
Zad 3
Porównać wyniki pomiaru rezystancji ścieżki obwodu drukowanego uzyskane mostkiem Thomson'a,multimetrem cyfrowym (12.4.3) i metodą techniczną (12.4.4) oraz sformułować wypływające stąd wnioski.
Pomiar multimetrem cyfrowym:
Pomiar metodą techniczną:
Pomiary wykonane multimetrem cyfrowym są najdokładniejsze , małe różnice występują przy pomiarze mostkiem Thomsona i metodą techniczną . Błędy są znikome.
Zad 4
Wyznaczyć błędy pomiaru rezystancji rezystora wzorcowego RN = 0.1 Ω popełniane 2 i 4 zaciskowym multimetrem cyfrowym.
Błąd bezwzględny:
Błąd względny:
Zad 5
Uzupełnić tablicę 12.4 i wykreślić charakterystykę rezystancji żarówki R = f(I).
IDC [mA] |
2 |
4 |
8 |
12 |
16 |
20 |
UDC [V] |
0,4 |
1,25 |
3,921 |
7,569 |
12,32 |
17,021 |
R [Ώ] |
200 |
312,5 |
490,125 |
630,75 |
770 |
851,05 |
Zad 6
Uzupełnić tablice 12.5 i 12.6 pamiętając, że pomiary miernikiem HM 8018 są wykonywane na częstotliwości 1,6kHz, ω=10000 rad/s. Wykreślić na wspólnym wykresie zależność błędu pomiaru pojemności
od współczynnika stratności kondensatora Dp i Ds., przy wyznaczaniu współczynników stratności przyjąć stałą wartość pojemności C0 wyznaczoną w pkt. 12.4.6. Do obliczenia błędu przyjąć jako wartość nominalną pojemność zmierzoną w pkt. 12.4.6. Wyjaśnić przyczyny różnego przebiegu otrzymanych krzywych.
Pojemność C0 wynosi : 150 nF
Dla szeregowego:
|
Dla równoległego :
|
Błąd względny:
|
||||||||
Tablica 12.5 |
|
|
|
|
|
|||||
Rd[k |
100 |
10 |
5 |
2 |
1 |
0,5 |
||||
Cx[nF] |
154,6 |
154,3 |
154,5 |
154,6 |
154,9 |
154,5 |
||||
Dp |
15 |
104 |
205 |
505 |
1007 |
1676 |
||||
δCx[%] |
0 |
4,97 |
5,10 |
5,17 |
5,37 |
5,10 |
||||
Tablica 12.6 |
|
|
|
|
|
|||||
Rd[ |
0 |
100 |
200 |
300 |
500 |
700 |
||||
Cx[nF] |
154,5 |
150,6 |
140,7 |
126,7 |
96,4 |
70,9 |
||||
Ds |
0 |
100 |
202 |
301 |
502 |
701 |
||||
δCx[%] |
-5 |
-2,45 |
4,29 |
13,81 |
34,42 |
51,77 |
Zad 7
Sformułować wnioski wypływające z przeprowadzonych badań w pkt. 12.4.8.
Pomiar wykonaliśmy dla kondensatora o pojemności 110pF .
W pierwszej części doświadczenia kondensator połączono z miernikiem RLC przy pomocy zwykłych, nieekranowanych przewodów. W ten sposób można było obserwować wpływ zakłóceń na dokładność pomiaru. Przy różnym ułożeniu kabli i dotykaniu izolacji szukano maksymalnego i minimalnego wyniku pomiaru:
Cmax = 131,1 pF Cmin = 111.2 pF
Następnie zmieniono przewody na jeden przewód ekranowany. Eksperyment wykazał, że ułożenie przewodu nie wpływało na wynik pomiaru, natomiast duży wpływ miało dotykanie kabli i podłączenie (C2) lub rozłączenie (C1) ekranu przewodu:
C1 = 152,3 pF C2 = 111,1 pF
Wnioski: Przewód ekranowany wpływa dodatnio na stabilność i zmniejszenie błędu pomiaru lecz tylko wtedy, gdy ekran podłączony jest do masy miernika.
Zad 8
Na podstawie wyników pomiarów przeprowadzonych w pkt. 12.4.9, obliczyć moduł |Zx| i kąt fazowy ϕx mierzonej impedancji dwójnika z rys. 12.21.
LX = 45,6 mH RX = 22
Ogólny wzór opisujący impedancję szeregowego połączenia cewki Lx i rezystancji Rx ma postać: Zx=Rx+jωLx . Stąd obliczamy moduł |Zx| i kąt przesunięcia fazowego
:
Zad 9
Porównać wyniki pomiaru indukcyjności i rezystancji cewki o małej wartości indukcyjności, uzyskane przy dwu i cztero przewodowym połączeniu z miernikiem. Która z wartości jest bliższa rzeczywistej Lrzecz ?
Wyniki pomiarów dla cewki o wartości 10 μH :
Lx rzecz = 9,36 μH
Lx2 = 10,9 μH Rx2 = 1,17 Ώ Lx4 = 9,8 μH Rx4 = 0,92 Ώ
Metoda przy cztero przewodowym połączeniu jest dokładniejsza , ponieważ pomiar jest bardzo zbliżony do wartości rzeczywistej. Wszelkie zakłócenia są prawie eliminowane .
Zad 10
Uzupełnić tablicę 12.7 Wykreślić błąd pomiaru pojemności w funkcji rezystancji bocznikującej RδCx d. Na podstawie wyników uzyskanych w tablicach 12.5 i 12.7 ocenić przydatność mierników: HM 8018 i M-4650CR do pomiaru kondensatorów o dużym współczynniku stratności D lub zbocznikowanych rezystancją.
Tablica 12.7 |
|
|
|
|
|
|
Rd[k |
50 |
20 |
10 |
7 |
5 |
4 |
Cx[nF] |
157 |
157,8 |
161,12 |
165,97 |
174,9 |
185 |
δCx[%] |
0,23 |
5,31 |
7,56 |
10,86 |
16,94 |
23,81 |
Na podstawie wyników w tym zadaniu i w zadaniu pomiaru kondensatora o dużym współczynniku stratności D , możemy ocenić przydatność stosowanych mierników do tych pomiarów . Miernik Metex M -4650CR w pomiarze z rezystancją bocznikującą o dużej wartości nadaje się lepiej niż gdy rezystancja jest mała . Zaś mirnik HM 8018 nadaje się do pomiaru kondensatorów o małym współczynniku stratności , gdyż błąd pomiaru jest proporcjonalny do tego współczynnika .
1
6