Cw6 (5)


LABORATORIUM METROLOGII

Ćw. 6: Pomiary Elementów RLC

Łukasz Siemiaszko EiT-07 nr albumu: 119119

Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia jest poznanie wybranych układów oraz zakresu ich zastosowań, do pomiaru parametrów rezystorów, kondensatorów, cewek itp.

Zad 1

Wykreślić w skali log-log zależność czułości napięciowej mostka Wheatstone'a Su od wartości rezystora R1 przy R2 = const oraz od wartości R2 przy R1 = const. Określić, jak należy dobrać rezystory R1 i R2 w mostku Wheatstone'a dla uzyskania optymalnych warunków pomiaru.

6.1

6.2

R1[

Rx[

U[mV]

Su[mV/]

R2[

Rx[

U[mV]

Su[mV/]

10

220

10

0,045

10

8,3

10,29

1,240

100

22,2

9,99

0,450

100

7,4

10,03

1,355

1000

6,7

10,013

1,494

1000

7,2

9,98

1,386

10000

22,2

10,25

0,462

10000

7,2

10,08

1,400

Dla R1:

0x01 graphic

Dla R2:

0x01 graphic

Z wykresów oraz pomiarów wynika, że mostek Wheatstone'a największą czułość osiąga dla R1=1 [kΩ]. Wpływ wartości rezystancji R2 na czułość napięciową tego mostka jest niewielki, ale największa wypada dla 1 [kΩ]. Ponieważ wartość mierzona Rx wynosiła 1[kΩ] stwierdzam, że badany mostek uzyskuje optymalne warunki pomiaru (największą czułość napięciową), gdy wartość rezystancji R1 jest równa, lub w przybliżeniu równa wartości rezystancji mierzonej Rx, czyli gdy spełniony jest warunek R1=Rx, a co do wartości rezystancji R2 to nie ma ona znaczącego wpływu na warunki pracy, jednak zależność ta w moim przypadku jest podobna do poprzedniej.

Zad 2

W zadaniu przyjmujemy, że przewodność właściwa miedzi, z której została wykonana ścieżka wynosi 0x01 graphic
, szerokość ścieżki wynosiła 2mm, zaś odstęp między zaciskami napięciowymi 0,05m.

0x08 graphic
Obliczam rezystancję ścieżki:

0x08 graphic

gdzie:

Rp - rezystancja odczytana; RN, R - wartości dobrane;

Grubości ścieżki obliczam ze wzoru:

0x01 graphic

Rx - zmierzona rezystancja ścieżki; σ - przewodność; l - długość ścieżki (0,05[m]); d - grubość ścieżki; b - szerokość ścieżki;

skąd otrzymałem:

0x01 graphic

Zad 3

Porównać wyniki pomiaru rezystancji ścieżki obwodu drukowanego uzyskane mostkiem Thomson'a,multimetrem cyfrowym (12.4.3) i metodą techniczną (12.4.4) oraz sformułować wypływające stąd wnioski.

Pomiar multimetrem cyfrowym:

0x01 graphic
0x01 graphic

Pomiar metodą techniczną:

0x01 graphic

0x01 graphic

Pomiary wykonane multimetrem cyfrowym są najdokładniejsze , małe różnice występują przy pomiarze mostkiem Thomsona i metodą techniczną . Błędy są znikome.

Zad 4

Wyznaczyć błędy pomiaru rezystancji rezystora wzorcowego RN = 0.1 Ω popełniane 2 i 4 zaciskowym multimetrem cyfrowym.

Błąd bezwzględny:

0x01 graphic

Błąd względny:

0x01 graphic

Zad 5

Uzupełnić tablicę 12.4 i wykreślić charakterystykę rezystancji żarówki R = f(I).

IDC [mA]

2

4

8

12

16

20

UDC [V]

0,4

1,25

3,921

7,569

12,32

17,021

R [Ώ]

200

312,5

490,125

630,75

770

851,05

Zad 6

Uzupełnić tablice 12.5 i 12.6 pamiętając, że pomiary miernikiem HM 8018 są wykonywane na częstotliwości 1,6kHz, ω=10000 rad/s. Wykreślić na wspólnym wykresie zależność błędu pomiaru pojemności 0x01 graphic
od współczynnika stratności kondensatora Dp i Ds., przy wyznaczaniu współczynników stratności przyjąć stałą wartość pojemności C0 wyznaczoną w pkt. 12.4.6. Do obliczenia błędu przyjąć jako wartość nominalną pojemność zmierzoną w pkt. 12.4.6. Wyjaśnić przyczyny różnego przebiegu otrzymanych krzywych.

Pojemność C0 wynosi : 150 nF

Dla szeregowego:

0x01 graphic

Dla równoległego :

0x01 graphic

Błąd względny:

0x01 graphic

Tablica 12.5

Rd[k

100

10

5

2

1

0,5

Cx[nF]

154,6

154,3

154,5

154,6

154,9

154,5

Dp

15

104

205

505

1007

1676

δCx[%]

0

4,97

5,10

5,17

5,37

5,10

Tablica 12.6

Rd[

0

100

200

300

500

700

Cx[nF]

154,5

150,6

140,7

126,7

96,4

70,9

Ds

0

100

202

301

502

701

δCx[%]

-5

-2,45

4,29

13,81

34,42

51,77

0x01 graphic

Zad 7

Sformułować wnioski wypływające z przeprowadzonych badań w pkt. 12.4.8.

Pomiar wykonaliśmy dla kondensatora o pojemności 110pF .

W pierwszej części doświadczenia kondensator połączono z miernikiem RLC przy pomocy zwykłych, nieekranowanych przewodów. W ten sposób można było obserwować wpływ zakłóceń na dokładność pomiaru. Przy różnym ułożeniu kabli i dotykaniu izolacji szukano maksymalnego i minimalnego wyniku pomiaru:

Cmax = 131,1 pF Cmin = 111.2 pF

Następnie zmieniono przewody na jeden przewód ekranowany. Eksperyment wykazał, że ułożenie przewodu nie wpływało na wynik pomiaru, natomiast duży wpływ miało dotykanie kabli i podłączenie (C2) lub rozłączenie (C1) ekranu przewodu:

C1 = 152,3 pF C2 = 111,1 pF

Wnioski: Przewód ekranowany wpływa dodatnio na stabilność i zmniejszenie błędu pomiaru lecz tylko wtedy, gdy ekran podłączony jest do masy miernika.

Zad 8

Na podstawie wyników pomiarów przeprowadzonych w pkt. 12.4.9, obliczyć moduł |Zx| i kąt fazowy ϕx mierzonej impedancji dwójnika z rys. 12.21.

LX = 45,6 mH RX = 22 

Ogólny wzór opisujący impedancję szeregowego połączenia cewki Lx i rezystancji Rx ma postać: Zx=Rx+jωLx . Stąd obliczamy moduł |Zx| i kąt przesunięcia fazowego 0x01 graphic
:

0x01 graphic

Zad 9

Porównać wyniki pomiaru indukcyjności i rezystancji cewki o małej wartości indukcyjności, uzyskane przy dwu i cztero przewodowym połączeniu z miernikiem. Która z wartości jest bliższa rzeczywistej Lrzecz ?

Wyniki pomiarów dla cewki o wartości 10 μH :

Lx rzecz = 9,36 μH

Lx2 = 10,9 μH Rx2 = 1,17 Ώ Lx4 = 9,8 μH Rx4 = 0,92 Ώ

Metoda przy cztero przewodowym połączeniu jest dokładniejsza , ponieważ pomiar jest bardzo zbliżony do wartości rzeczywistej. Wszelkie zakłócenia są prawie eliminowane .

Zad 10

Uzupełnić tablicę 12.7 Wykreślić błąd pomiaru pojemności w funkcji rezystancji bocznikującej RδCx d. Na podstawie wyników uzyskanych w tablicach 12.5 i 12.7 ocenić przydatność mierników: HM 8018 i M-4650CR do pomiaru kondensatorów o dużym współczynniku stratności D lub zbocznikowanych rezystancją.

Tablica 12.7

Rd[k

50

20

10

7

5

4

Cx[nF]

157

157,8

161,12

165,97

174,9

185

δCx[%]

0,23

5,31

7,56

10,86

16,94

23,81

0x01 graphic

Na podstawie wyników w tym zadaniu i w zadaniu pomiaru kondensatora o dużym współczynniku stratności D , możemy ocenić przydatność stosowanych mierników do tych pomiarów . Miernik Metex M -4650CR w pomiarze z rezystancją bocznikującą o dużej wartości nadaje się lepiej niż gdy rezystancja jest mała . Zaś mirnik HM 8018 nadaje się do pomiaru kondensatorów o małym współczynniku stratności , gdyż błąd pomiaru jest proporcjonalny do tego współczynnika .

0x01 graphic

0x01 graphic

1

6



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
oscyloskop metrologia cw6
cw6 pomiary dł osnów poziomych
cw6 Tabela obliczeń przepływów minimalnych rocznych dla rzeki Raby dla wodowskazu Stróża w latach
cw6 zurek pytania
cw6 Magistrala 1Wire instr lab
cw6 pomiar twardosci
Biochemia(ZCz)Cw6 Oznaczanie za Nieznany (2)
cw6 ps
cw6 arkusz obliczeniowy przyklad
cw6 rozwiazania, Zaawansowana rachunkowość finansowa, Zaawansowana rachunkowość finansowa, zaawansow
inw cw6
CW6 protokol
cw6 Wzmacniacz tranzystorowy v1 Nieznany
CW6 INSTv2
cw6
cw6 1 08
cw6 (7)
cw6 2 id 123631 Nieznany
IIITE GR4 CW6?danie obwodu RLC równoległego w funkcji czestotliwosci Rezonans pradow

więcej podobnych podstron