Instytut Fizyki Fizyka Przyrządów Półprzewodnikowych |
Ćwiczenie nr 3 Wyznaczenie bariery potencjału na kontakcie metal - półprzewodnik
|
||
Wydział Elektroniki / Rok 2009/2010 |
Grupa 1 |
Środa 13:15 / A 07.04.2010 |
Ocena |
Cel ćwiczenia:
Wyznaczanie bariery potencjału na kontakcie prostującym metal - półprzewodnik w oparciu o wykonane charakterystyki prądowo-napięciową i pojemnościowo-napięciową.
Opis ćwiczenia:
W ćwiczeniu wykonuje się pomiary charakterystyki I-V oraz charakterystyki C-V dla kontaktu prostującego metal - półprzewodnik (M-S) i na podstawie tych pomiarów wyznacza się barierę potencjału
.
Schemat obwodu do zmierzenia charakterystyki I-V złącza metal-półprzewodnik
Wykorzystane wzory fizyczne:
pomiar charakterystyki prądowo-napięciowej (I-V):
(1)
(wielkość bezwymiarowa)
gdzie: a = współczynnik kierunkowy prostej,
q = ładunek elementarny,
k = stała Boltzmanna (w elektonovoltach )
T = temperatura,
n = współczynnik idealności,
(2)
gdzie: b = wartość stała w równaniu funkcji typu y = ax + b,
Is = prąd nasycenia
(3)
gdzie: Js = gęstość prądu,
S = pole powierzchni
(4)
gdzie:
oznacza barierę potencjału
pomiar charakterystyki pojemnościowo-napięciowej (C-V):
(5)
gdzie:
oznacza przenikalność elektryczną próżni,
oznacza względną przenikalność elektryczną półprzewodnika,
oznacza koncentrację donorów
(6)
=
gdzie:
oznacza masę efektywną elektronu na dnie pasma przewodnictwa,
oznacza masę elektronu swobodnego,
oznacza efektywną gęstość stanów na dnie pasma przewodnictwa w półprz.
(7)
gdzie:
oznacza różnicę potencjałów między położeniem poziomu Fermiego a krawędzią pasma przewodnictwa
(8)
gdzie
oznacza barierę potencjału,
oznacza potencjał wbudowany
Przykładowe niepewności pomiarowe mierzonych parametrów.
dla charakterystyki prądowo-napięciowej
|
Prąd |
Napięcie |
Klasa |
±0.15%±20c |
±0.06%±2c |
Przykładowe wielkości wraz z błędami |
1.99*106±2.03*10-7 A |
0.619±3.73*10-4 V |
dla charakterystyki pojemnościowo-napięciowej
|
Pojemność |
Napięcie |
Klasa |
±0.4%±0.2%fs |
±0,05%±3dgt |
Przykładowe wielkości wraz z błędami |
1.78*10-9±1.11*10-11 F |
0.863±0.009 V |
Tabele z wynikami:
mikro A |
V |
0,011 |
0,001 |
0,020 |
0,125 |
0,032 |
0,419 |
0,041 |
0,435 |
0,050 |
0,450 |
0,061 |
0,459 |
0,073 |
0,466 |
0,081 |
0,470 |
0,090 |
0,477 |
0,110 |
0,479 |
0,210 |
0,497 |
0,330 |
0,508 |
0,410 |
0,517 |
0,500 |
0,522 |
0,600 |
0,530 |
0,710 |
0,533 |
0,800 |
0,536 |
0,930 |
0,540 |
1,000 |
0,543 |
1,970 |
0,559 |
3,010 |
0,570 |
4,000 |
0,580 |
5,030 |
0,586 |
6,030 |
0,591 |
7,020 |
0,593 |
8,010 |
0,600 |
9,000 |
0,601 |
10,000 |
0,606 |
20,050 |
0,624 |
30,060 |
0,636 |
40,020 |
0,645 |
50,030 |
0,652 |
60,020 |
0,659 |
70,000 |
0,664 |
80,040 |
0,669 |
90,020 |
0,673 |
100,060 |
0,677 |
199,820 |
0,705 |
300,120 |
0,726 |
400,210 |
0,744 |
500,000 |
0,762 |
600,090 |
0,777 |
699,890 |
0,791 |
800,450 |
0,804 |
900,620 |
0,818 |
1000,410 |
0,832 |
1500,340 |
0,894 |
2000,560 |
0,953 |
2500,080 |
1,010 |
2999,890 |
1,066 |
3500,870 |
1,122 |
4000,330 |
1,177 |
4500,100 |
1,231 |
5000,120 |
1,285 |
V(zasilacza) |
V(dekodera) |
pF |
|
0,01 |
0,0090 |
1796 |
1892 |
0,11 |
0,1062 |
1748 |
1844 |
0,23 |
0,2017 |
1705 |
1801 |
0,31 |
0,3005 |
1662 |
1758 |
0,40 |
0,4025 |
1599 |
1695 |
0,52 |
0,5082 |
1559 |
1655 |
0,63 |
0,6021 |
1544 |
1640 |
0,74 |
0,7086 |
1514 |
1610 |
0,81 |
0,8060 |
1482 |
1578 |
0,90 |
0,9024 |
1441 |
1537 |
1,00 |
1,0055 |
1414 |
1510 |
1,11 |
1,1068 |
1389 |
1485 |
1,22 |
1,2117 |
1366 |
1462 |
1,30 |
1,3078 |
1344 |
1440 |
1,43 |
1,4115 |
1322 |
1418 |
1,52 |
1,5100 |
1302 |
1398 |
1,61 |
1,6085 |
1288 |
1384 |
1,70 |
1,7096 |
1266 |
1362 |
1,80 |
1,8096 |
1246 |
1342 |
1,91 |
1,9250 |
1232 |
1328 |
2,04 |
2,0000 |
1217 |
1313 |
Wykresy i obliczenia
charakterystyka prądowo - napięciowa
Po wykonaniu aproksymacji powyższego wykresu uzyskałem prostą y = ax + b, o współczynnikach:
Na mocy wzorów wyprowadzonych w punkcie 2. obliczyłem następujące wielkości:
współczynnik idealności
prąd nasycenia
gęstość prądu
barierę potencjału
charakterystyka pojemnościowo-napięciowa
Od pojemności odczytanej na przyrządzie została odjęta wartość 97pF.
Wykres sporządzony dla S=5,1076*10-6 m2 .
Po wykonaniu aproksymacji wykresu S2/C2 = f(V) otrzymałem prostą opisaną równaniem y = ax +b, o współczynniku kierunkowym:
Na podstawie przecięcia tej prostej z osią napięcia wyznaczyłem potencjał wbudowany
Następnie na mocy wzorów wyprowadzonych w punkcie 2b. obliczyłem następujące wielkości:
koncentrację donorów:
efektywną gęstość stanów na dnie pasma przewodnictwa w półprzewodniku
(7) różnicę potencjałów między położeniem poziomu Fermiego a krawędzią pasma przewodnictwa
(8) barierę potencjału
6. Tabele porównawcze:
barierę potencjału prądowo - napięciowa |
barierę potencjału pojemnościowo-napięciowa
|
|
|
7. Wnioski.
Barieria potencjału liczona na podstawie charakterystyki pojemnościowo -napięciowej jest większa od bariery potencjału liczonej na podstawie charakterystyki prądowo - napięciowej, ze względu na zmianę przepływu prądu z przewodzenia na zaporowy. Bardzo wyraźna jest również liniowość zależności S2/C2 od potencjału na złączu m-s wynikająca z istnienia w półprzewodniku obszaru zubożonego z dodatnim ładunkiem przestrzennym. Metale i pólprzewodniki inaczej reagują na temperaturę. Gdy zwiększam temperaturę dla półprzewodników opór maleje, a dla przewodników występuje odwrotne zjawisko. Na podstawie wyliczonych barier nie można jednoznacznie określić jakie są to półprzewodniki (prawdopodobnie są domieszkowane). Metal to miedź.
(
3
23
3
17
2
3
2
3
15
10
*
6481
,
4
10
*
6481
,
4
07
,
0
*
300
*
10
*
83
,
4
m
cm
N
C
eV
V
n
17,3395 [v]
q
Bn
10
*
7128
,
2
10
*
6481
,
4
ln
*
1
300
*
10
*
6
,
8
22
23
5
19,12
)
17,3395
1,78
(
*
1
1
*
(
1,78
17,3395
)
19,12
Bn
q
eV
eV
K
K
eV
K
m
K
A
m
A
T
k
T
A
J
T
k
q
T
A
J
S
Bn
S
*
*
*
*
*
*
*
ln
*
exp
*
*
2
2
2
2
2
2
3
22
6
12
19
10
*
7128
,
2
)
10
*
4
(
*
13
*
10
*
85
,
8
*
)
10
*
602
,
1
(
1,78
m
N
D
V
bi
1,78 [V]