Techniki Pomiarowe Sprawko Ćw 3

POLITECHNIKA POZNAŃSKA

Instytut Technologii Mechanicznej

LABORATORIUM

ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH

Magdalena Jurgielewicz

Klaudia Wasiela

Klaudia Kowalska

Wydział BMIZ, Kierunek ZiIP, grupa ZP2
rok II, semestr 4, rok akademicki 2011/2012

23.02.2012

Ćwiczenie wykonano dnia

8.03.2012

Sprawozdanie oddano dnia

Sprawozdanie z ćwiczenia nr 3

Temat: POMIARY ODCHYŁEK KSZTAŁTU I POŁOŻENIA.

1. Pojęcia podstawowe.

 

Odchyłki kształtu i położenia są definiowane względem geometrycznie idealnych odpowiedników powierzchni czy linii rzeczywistych. Takimi elementami są:

-          prosta przylegająca – prosta stykająca się z zarysem rzeczywistym na zewnątrz materiału w ten sposób, że odległość między nią a najbardziej oddalonym punktem zarysu ma wartość najmniejszą;

-          okrąg przylegający – okrąg o najmniejszej średnicy opisany na zarysie rzeczywistym powierzchni obrotowej zewnętrznej, lub okrąg o największej średnicy wpisany w zarys powierzchni obrotowej wewnętrznej;

-          płaszczyzna, walec, zarys przylegający – są zdefiniowane analogicznie jak powyższe;

-          element średni – powierzchnia lub linia o kształcie nominalnym położona względem powierzchni rzeczywistej w ten sposób, że suma kwadratów odległości punktów powierzchni rzeczywistej od powierzchni średniej jest najmniejsza;

-          obszar cząstkowy – obszar, do którego odnosi się tolerancja i odchyłka kształtu lub położenia.

Odchyłka okrągłości jest zdefiniowana w stosunku do okręgu przylegającego w stosunku do okręgu średniego. Szczególnymi, wyidealizowanymi przypadkami odchyłki okrągłości są owalność i trójgraniastość.

Odchyłki i tolerancje złożone.

Odchyłka bicia promieniowego jest określona w jednym przekroju w płaszczyźnie prostopadłej do osi odniesienia. Obejmuje odchyłką okrągłości iodchyłką współśrodkowości.

Odchyłka bicia promieniowego całkowitego w odróżnieniu od odchyłki bicia promieniowego dotyczy całej powierzchni. Obejmuje odchyłkę walcowości i odchyłkę współosiowości.

Odchyłkę bicia osiowego rozpatruje się na walcu o wyznaczonej średnicy d. Obejmuje odchyłkę prostopa­dłości i częściowo odchyłkę płaskości.

Odchyłka bicia osiowego całkowitego w odróżnieniu od odchyłki bicia osiowego dotyczy całej powierzchni czołowej (obejmuje całą odchyłkę płaskości).

Odchyłka bicia w wyznaczonym kierunku dotyczy stożków - jest określona w kierunku prostopadłym do powierzchni stożka.

Tolerancja bicia to największa dopuszczalna odchyłka bicia.

 

Na rysunkach do odchyłek kształtu używa się następujących symboli:

 

Δ - odchyłka kształtu, odchyłka położenia lub odchyłka złożona kształtu i położenia,
T - tolerancja kształtu, tolerancja położenia lub tolerancja złożona kształtu i położenia,
L - długość określająca obszar cząstkowy,
λ - kąt określający obszar cząstkowy.

 

Dla dokładniejszego rozróżniania odchyłek kształtu i położenia w ich oznaczeniach, to po literach T (tolerancja), E (odchyłka) następuje litera P,F lub C oznaczająca grupę tolerancji lub odchyłek:

 

TF (EF) - tolerancja (odchyłka) kształtu,
TP (EP) - tolerancja (odchyłka) położenia,

Źródła powstania błędów okrągłości:

Czynniki statyczne :

Błędy geometryczne układu OPN

Nierównoległości osi kłów

Błędy prowadnic obrabiarki itp

Czynniki dynamiczne :

CięŜar elementu i jego niewywaŜenie

Podatność wrzeciona i konika

Drgania wymuszające zmienne siły skrawania

Błędy prowadnic


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Techniki Pomiarowe Sprawko Ćw 4
Techniki Pomiarowe Sprawko Cw 5
Techniki Pomiarowe Sprawko Cw 2
Techniki Pomiarowe Sprawko Cw 3
Techniki Pomiarowe Sprawko
Sprawko - ćw 6a, Politechnika Poznańska, Lab. Pomiary Wielkości Mechanicznych
sprawko z ćw 1, Uczelnia PWR Technologia Chemiczna, Semestr 3, Chemia techniczna organiczna
Sprawko - ćw 13, Politechnika Poznańska, Lab. Pomiary Wielkości Mechanicznych
Sprawko - ćw 2, Politechnika Poznańska, Lab. Pomiary Wielkości Mechanicznych
Sprawko - ćw 6a, Politechnika Poznańska, Lab. Pomiary Wielkości Mechanicznych
Ćw nr 12 Techniczne pomiary impedancji doc
MW zaliczenie, Politechnika Poznańska ZiIP, IV semestr, IV semestr, Techniki pomiarowe, TechnikiPom,
sprawko cw 4(1)
Sprawko ćw 1 (Wypływ cieczy)
Sprawko ćw 5 odzyskane
cw 3 sprawko ćw 3
sprawko cw 1
Sprawko - ćw 4, Napędy maszyn
Techniki pomiaru procesów psychiznych, oligofrenopedagogika, zachomikowane

więcej podobnych podstron