Politechnika Lubelska 14.04.2014r.
Mechatronika Gl
gr. nr II:
Laboratorium Metrologii wielkości elektrycznych
Ćw. LV 1
Temat: Próbkujące pomiary parametrów sygnałów napięciowych.
Cel ćwiczenia
Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problematyką wyznaczania parametrów sygnałów napięciowych w próbkujących układach pomiarowych, a w szczególności zbadanie wpływu sposobu próbkowania na błędy pomiaru.
Schemat układu pomiarowego
Pomiary zostały dokonywane dzięki programowi LabView na podstawie diagramu połączeń przedstawionego poniżej.
Tabele, wzory do obliczeń , oraz wykresy.
Wpływ szybkości próbkowania na błędy przetwarzania
Parametry sygnału: Asyg = 325,27 V fsyg = 50 Hz φsyg = 0 stopni Parametry próbkowania: SR = zmienne Tp = 200ms n = zmienne |
---|
Lp |
- |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
Wpływ długości okna pomiarowego na błędy przetwarzania
Parametry sygnału: Asyg = 325,27V fsyg = 50Hz φsyg = 0 stopni Parametry próbkowania: SR = 10000 Tp = zmienne n = zmienne |
---|
Lp |
- |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
19 |
$$N_{\text{okr}} = \frac{T_{p}}{T_{\text{syg}}} = T_{p} \bullet f_{\text{syg}}$$
Wpływ częstotliwości sygnału ba błędy przetwarzania
Parametry sygnału: Asyg = 325,27V fsyg = zmienna φsyg = 0 stopni Parametry próbkowania: SR = 1000 Tp = 50ms n = 50 |
---|
Lp |
- |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
21 |
$$n_{\text{okr}} = SR \bullet T_{\text{syg}} = \frac{\text{SR}}{f_{\text{syg}}}$$
Wpływ szybkości próbkowania w stosunku do częstotliwości sygnału
Parametry sygnału: Asyg = 325,27V fsyg =51,29 Hz φsyg = 0 stopni Parametry próbkowania: SR = zmienne Tp = 50ms n = zmienne |
---|
Lp |
- |
0 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
Wpływ fazy sygnału na błędy przetwarzania
Parametry sygnału: Asyg = 325,27V fsyg = 51,29 Hz φsyg = zmienne Parametry próbkowania: SR = 1000 Tp = 50ms n = 50 nokr = 19,50 |
---|
Lp |
- |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
$$n_{\varphi} = SR \bullet T_{\text{syg}} \bullet \frac{\varphi_{\text{syg}}}{360} = \frac{SR \bullet \varphi_{\text{syg}}}{f_{\text{syg}} \bullet 360}$$
Zestawienie krytycznych parametrów próbkowania
Parametry krytyczne dla maksymalnego błędu wartości maksymalnej |
---|
Parametry sygnału: Asyg = 325,27 V fsyg = 51,29 Hz φsyg = 150 Parametry próbkowania: SR = 1000 Tp = 50 n = 50 nokr = 19,5 |
Lp |
- |
1 |
Parametry krytyczne dla maksymalnego błędu wartości skutecznej |
---|
Parametry sygnału: Asyg = 325,27 V fsyg = 51,29 Hz φsyg = 60 Parametry próbkowania: SR = 1000 Tp = 50 n = 50 nokr = 19,5 |
Lp |
- |
1 |
Parametry krytyczne dla maksymalnego błędu wartości średniej |
---|
Parametry sygnału: Asyg = 325,7 V fsyg = 50 Hz φsyg = 0 Parametry próbkowania: SR = 500 Tp = 200 n = 100 nokr = 10 |
Lp |
- |
1 |
Wnioski