1. Dyfraktometr rentgenowski to przyrząd pomiarowy służący do analizystruktury substancji krystalicznych na podstawie ich obrazów dyfrakcyjnych. Rejestruje kąty odbłysku (kierunki) oraz naężenia ugiętych promieni promieniowania. Jest to urządzenie do badania materiałów z wykorzystaniem dyfracji promieni RTG o znanej dłogości fali.

   Rozróżnia się dwa podstawowe rodzaje dyfraktometrów rentgenowskich:

   -do badania ciał polikrystalicznych

   -do badania monokryształów

Wybór typu urządzenia 9lampy dyfraktometru) do badań strukturalnych jest uzależniony od celu badań i jej metody.

1. Aparatura do rentgenowskiej analizy fazowej:

   1. ? z rejestracją fotograficzną

   2. Dyfraktometry z rejestracją za pomocą czujników jonizacyjnych

2. Rentgenowska analiza fazowa jest podstawową metodą badawczą stosowaną w metaloznawstwie. Czułość tej metody okređla si€ minimaln ilođci fayz w miesyaninie, dajcej dostatecyn liođ© lini dzfrakczjnzch do jej yidentzfikowania.

3. Prawo Bragga:

   Prawo to dotyczy tzw. dyfrakcji Bragga. Kiedy promieniowanie rentgenowskie pada na kryształ, na każdym jego atomie dochodzi do dyfrakcji. Warunek Bragga zakłada odbicie od płaszczyzn na których układają się atomy kryształu. Przy znanych odległościach międzypłaszczyznowych i długości fali prawo Bragga określa kąt, pod jakim musi padać fala, aby nastąpiła interferencja konstruktywna (wzmocnienie). Oznacza to, że promienie rentgenowskie padające na kryształ dają maksima promieniowania ugiętego tylko pod pewnymi kątami padania.

   Prawo to wyraża się wzorem:

   n*λ=2d*sin(θ),

   gdzie:

   n – rząd ugięcia, liczba całkowita, ale nie dość duża, ze względu na to, że sinθ < 1;

   λ – długość fali promieniowania rentgenowskiego, taka że: λ ≤ 2d;

   d – odległość międzypłaszczyznowa – odległość między płaszczyznami na których zachodzi rozproszenie;

   θ – kąt padania definiowany jako kąt między wiązką promieni pierwotnych, a płaszczyzną kryształu (inaczej niż w optyce).