Politechnika Rzeszowska Zakład Metrologii i Systemów Diagnostycznych |
Grupa 1 |
1 Tomasz Pachołekkierownik 2 Edyta Surdyka3 Magdalena Nizioł |
Data 13.05.2016r |
---|---|---|---|
Laboratorium Elektroniczne yrządy i techniki pomiarowe |
|||
MIERNIKI PARAMETRÓW RLC | Nr ćwicz. | Ocena | |
3 |
I. Cel ćwiczenia
Zapoznanie się z nowoczesną aparaturą do pomiaru wartości parametrów RLC, zasadami sprawdzania urządzeń pomiarowych i właściwościami w dziedzinie częstotliwości rezystorów, kondensatorów oraz cewek.
II. Zagadnienia
Sprawdzanie wskazań aparatury pomiarowej
Zasady pomiaru parametrów elementów RLC dla małych, średnich i dużych częstotliwości.
Modele (schematy zastępcze) elementów R, L, C dla różnych edziałów częstotliwości.
III. Program ćwiczenia
Dokonać eglądu metod pomiarowych parametrów RLC.
Zapoznać się z instrukcją obsługi i obsługą yrządów: Eskort, ELC-3131D, LCR Motech MT 4090 oraz miernika wykonanego w ramach pracy dyplomowej RLC-l.
Wykonać sprawdzenia dekady rezystancyjnej lub pojemnościowej i obliczyć jej dokładność
Dokonać pomiaru parametrów RLC (dekady pojemności, indukcyjności i rezystancji) wybranymi miernikami.
Wyniki pomiarów w ramach poszczególnych zakresów zestawić w tabelach, wraz z określeniem ich dokładności.
Dokonać analizy błędów i edstawić jej wyniki w formie graficznej
III.1 Pomiar miernikiem LCR Motech MT 4090
III.2.1 Pomiary miernikiem MT4090LCR (metoda 4 ewodowa, y 1kHz)
Schematy zastępcze stosuje się do odwzorowania rzeczywistych parametrów danego elementu lub części układu. Dla przykładu, teoretycznie przyjmuje się że oporniki posiadają tylko rezystancję i że jest ona stała dla dowolnej częstotliwości. W rzeczywistości występuje indukcyjność połączeń oraz pojemność pasożytnicza, które wpływają na charakterystyki takiego elementu. Dodanie odpowiednich wartości, czyli użycie schematu zastępczego pozwala na lepsze odwzorowanie zachowania takiego rezystora przy wyższych częstotliwościach.
Rysunek Schemat zastępczy rezystora dla wysokich częstotliwości
Rysunek Schemat zastępczy kondensatora dla wysokich częstotliwości
MT4090LCR |
---|
Lp |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
Wnioski: Podczas pomiarów dekady rezystorowej mostkiem MT4090 zauważalne są spore wartości indukcyjności i pojemności pasożytniczych, co jest ważne przy stosowaniu tychże elementów przy wysokich częstotliwościach.
MT4090LCR |
---|
Lp |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
Wnioski: Przy pomiarze dekady pojemnościowej, parametr rezystancji szeregowej kondensatorów ESR zauważalna jest duża wartość przy niskich pojemnościach, a mała wartość przy wysokich pojemnościach.
III.2.2 Pomiary miernikiem wykonanym przez studenta
MIERNIK STUDENTA |
---|
Lp |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
MIERNIK STUDENTA |
---|
Lp |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
IV. Wnioski
Podczas pomiarów dekady rezystorowej i pojemnościowej mostkiem MT4090 zauważalne są spore wartości indukcyjności i pojemności pasożytniczych, co jest ważne przy stosowaniu tychże elementów przy wysokich częstotliwościach. Przy porównaniu pomiarów widać że dokładniejszym miernikiem jest mostek MT4090 niż miernik studenta.
VI. Literatura
Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna. WNT. Warszawa 1994.
Kulka Z., LiburaA., Nadachowski A.; Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. WKiŁ. Warszawa 1987.
Marcyniuk A.: Podstawy miernictwa elektrycznego dla kierunku elektronika. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej. Gliwice 2002.
Rylski A, Metrologia II prąd zmienny, skrypt Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2006 r.