POMIARY OPTOELEKTRONICZNE

Politechnika Częstochowska

Wydział

Elektryczny

Grupa dziekańska

I

Skład sekcji

Cebula Piotr

Jędrzejczyk Wojciech

Data wykonania ćwiczenia

30.10.2010

I. Cel ćwiczenia

Celem ćwiczeń jest przeprowadzenie pomiarów optoelektronicznych oraz narysowanie charakterystyk U = f (E) dla pomiarów. Dla każdej charakterystyki obliczyć względny błąd pomiaru

II. Obliczenia i wykresy

  1. Pomiaru napięcia fotorezystora i natężenia oświetlenia dla oprawy ze źródłem żarówkowym.

Tab. 1. Tabela pomiarowa

Lp. klux U
1 0,9 0,55
2 1,15 0,48
3 1,62 0,36
4 3,25 0,2
5 3,7 0,19
6 4 0,18
7 4,5 0,17
8 5,1 0,16

Względny błąd pomiaru.

Rys. 1. Charakterystyka U = f (E)

  1. Pomiaru napięcia fototranzystora i natężenia oświetlenia dla oprawy ze źródłem żarówkowym.

Tab. 2. Tabela pomiarowa

Lp. klux U
1 0,84 4,85
2 1,07 4,82
3 1,47 4,42
4 1,76 4,27
5 2,4 4,06
6 3,05 3,9
7 3,4 3,81
8 4,55 3,56

Względny błąd pomiaru.

Rys. 2. Charakterystyka U = f (E)

  1. Pomiaru napięcia fotorezystora i natężenia oświetlenia dla oprawy ze źródłem halogenowym.

Tab. 3. Tabela pomiarowa

Lp. klux U
1 0,3 0,75
2 0,39 0,68
3 0,48 0,62
4 0,57 0,58
5 0,68 0,53
6 0,77 0,46
7 0,88 0,38
8 1,07 0,29

Względny błąd pomiaru.

Rys. 3. Charakterystyka U = f (E)

  1. Pomiaru napięcia fototranzystora i natężenia oświetlenia dla oprawy ze źródłem halogenowym.

Tab. 4. Tabela pomiarowa

Lp. klux U
1 0,31 4,98
2 0,42 4,98
3 0,58 4,98
4 0,76 4,98
5 0,89 4,98
6 0,97 4,98
7 1,18 4,97
8 1,4 4,96
9 1,84 4,84
10 2,3 4,51
11 3,15 2,9

Względny błąd pomiaru.

Rys. 4. Charakterystyka U = f (E)

  1. Pomiaru napięcia fotorezystora i natężenia oświetlenia dla oprawy ze źródłem LED.

Tab. 5. Tabela pomiarowa

Lp. klux U
1 0,28 0,7
2 0,38 0,54
3 0,49 0,45
4 0,7 0,38
5 0,98 0,27
6 1,11 0,19
7 2,14 0,14
8 2,48 0,12
9 3,29 0,09

Względny błąd pomiaru.

Rys. 5. Charakterystyka U = f (E)

  1. Pomiaru napięcia fototranzystora i natężenia oświetlenia dla oprawy ze źródłem LED.

Tab. 6. Tabela pomiarowa

Lp. klux U
1 0,28 4,98
2 0,43 4,98
3 1,09 4,95
4 1,35 4,91
5 1,71 4,69
6 2,19 4,5
7 2,56 4,39
8 3,84 3,98
9 5,09 3,76
10 6,45 2,39
11 8,64 1,72

Względny błąd pomiaru.

Rys. 6. Charakterystyka U = f (E)

III. Spis przyrządów pomiarowych (rodzaj, typ, używany zakres, rozdzielczość, klasa dokładności lub dokładność.

-Multimetr-UT55-rozdzielczość 10 mV

-Luksomierz-TES 1335 Light Meter-rozdzielczość 10 Lux

IV. Wnioski

Na podstawie przeprowadzonych pomiarów i wyliczeń można zaobserwować niewielki względny błąd pomiaru w granicach 1,1%-3,6% co świadczy o dużej dokładności pomiarów.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 1 , Pomiar pierwszy
Badanie elementow optoelektronicznych, Wnioski z pomiar˙w do ˙wiczenia nr 6
Pomiar charakterystyk widmowych oraz statystycznych różnych źródeł światła, Akademia Morska, VI seme
Optoelektronika pomiary fotometryczne
pomiar charakterystyk widmowych, Akademia Morska, VI semestr, Optoelektronika - lab, sprawka
download Zarządzanie Produkcja Archiwum w 09 pomiar pracy [ www potrzebujegotowki pl ]
2 1 Podstawowe czynności pomiarowe w geodezji
BYT 2005 Pomiar funkcjonalnosci oprogramowania
6 PKB 2 Pomiar aktywności gospodarczej rozwin wersja
Praktyczna interpretacja pomiarów cisnienia
wyklad 13nowy Wyznaczanie wielkości fizykochemicznych z pomiarów SEM
optoelektronika02
13a Pomiary jakosci
NIEPEWNOŚĆ POMIARU
Strategia pomiarów środowiska pracy
PEM (10) Nieoewność pomiaru
2 8 Błedy pomiarów

więcej podobnych podstron