Politechnika Łódzka 10.05.1999
Filia w Bielsku - Białej
Wydział Fizyki Technicznej
Informatyki i Matematyki Stosowanej
Kierunek Informatyka
Rok I / Semestr II
LABORATORIUM
Z FIZYKI
ĆWICZENIE NUMER 66
Wyznaczanie stałej Plancka metodą fotoelektryczną .
Skład grupy :
Olgierd Fałat
Waldemar Friedrich
Adrian Głąbek
1. Cel ćwiczenia
Celem obecnego ćwiczenia jest wyznaczenie stałej Plancka oraz pracy wyjścia , dla materiału z którego wykonana jest katoda , wykorzystując zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne .
2. Wstęp teoretyczny
Promieniowanie elektromagnetyczne ( np. światło ) padając na powierzchnię ciał może wybić z nich wolne elektrony , jeśli promieniowanie to posiada odpowiednią energię . Mamy wtedy do czynienia z tzw. zjawiskiem fotoelektrycznym zewnętrznym . Zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne jest dowodem na korpuskularny charakter światła gdyż doświadczenia wykazały , że :
elektrony zostają wybijane , jeżeli częstotliwość padającego światła ν jest większa od pewnej wartości granicznej ν0
liczba wybitych elektronów nie zależy od natężenia padającego światła
co jest sprzeczne z falową teorią światła .
Energia przekazywana jest porcjami zwanymi kwantami energii - niemożliwe jest dostarczenie tylko części kwantu energii . Część energii padającego światła zwana pracą wyjścia W potrzebna jest do tego aby elektron mógł być wybity z powierzchni metalu .
Zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne opisuje równanie Einsteina-Millikana :
gdzie : h to stała Plancka
ν to częstość padającego promieniowania
W to tzw. praca wyjścia
Ekin to energia kinetyczna jaką uzyska wybity elektron
Stała Plancka jest uniwersalną stałą fizyczną wynoszącą w przybliżeniu 6,6256 * 10-34 [ Js ] .
Stałą tą możemy wyznaczyć posługując się poniższym układem .
Fotony światła monochromatycznego f o częstotliwości ν padając na katodę K wybijają z nie elektrony e , które to po wybiciu posiadają pewną energię kinetyczną Ekin . Źródło zasilania w połączeniu z potencjometrem P zapewnia regulację napięcia od 0 do U . Podłączenie potencjału dodatniego do katody K i ujemnego do anody A powoduje , że wybity elektron jest hamowany i przy odpowiednio dużym napięciu nie dotrze on do anody ( wtedy to prąd anodowy będzie wynosił 0 ) . Wtedy to energia kinetyczna elektronu Ekin równa się co do wartości iloczynowi napięcia hamującego U0 i ładunku elektronu . Powyższy wzór przyjmie wtedy postać :
=>
=>
Jak widać wartość napięcia hamującego U0 jest funkcją zmiennej ν o charakterze liniowym ( y = ax +b ) . Obliczając wartości parametrów a i b będzie można później obliczyć stałą Plancka i pracę wyjścia .
3. Przebieg ćwiczenia
Do przeprowadzenia danego doświadczenia posłużyliśmy się następującymi przyrządami :
źródłem światła monochromatycznego o regulowanej długości fali
odpowiednim przyrządem do badania zjawiska fotoelektrycznego
woltomierzami
W pierwszym etapie przeprowadzania doświadczenia zdjęliśmy charakterystykę prądową w funkcji częstotliwości (długości fali ) Ia = f (ν ) dla długości fal z zakresu 400 do 600 nm . Długość fali zmienialiśmy co 20 nm . Układ pomiarowy nie zawierał jednak przyrządu do pomiaru natężenia prądu lecz tylko woltomierz więc musieliśmy dokonać odpowiednich przeliczeń :
=>
Rezystancja R w naszym przypadku wynosiła 2,49 MΩ . Przykładowe obliczenie :
I = 0,0556 / 2490000 = 2,233 * 10-8 A = 22,33 nA
Poniższa tabela zawiera charakterystykę prądową .
TABELA nr 1
λ |
nm |
400 |
420 |
440 |
460 |
480 |
500 |
520 |
540 |
560 |
580 |
600 |
620 |
640 |
660 |
ν |
Hz |
7,50* 1014 |
7,14*1014 |
6,81*1014 |
6,52*1014 |
6,25*1014 |
6,00*1014 |
5,77*1014 |
5,55*1014 |
5,35*1014 |
5,17*1014 |
5,00*1014 |
4,84*1014 |
4,68*1014 |
4,54*1014 |
I |
nA |
22,33 |
27,71 |
32,29 |
35,58 |
36,99 |
37,35 |
35,74 |
31,69 |
27,15 |
21,61 |
10,56 |
3,21 |
1,08 |
0,40 |
Następnie dla określonych długości fal ( 400 nm , 450 nm , 500 nm , 550 nm , 600 nm ) zdjęliśmy krzywe hamowania tj. po ustawieniu danej długości fali nastawialiśmy początkowo napięcie hamowania na 0 ( Uh = 0 V , maksymalny prąd anodowy ) i mierzyliśmy wartość prądu anodowego . Napięcie zwiększaliśmy co 0,1 V i powtarzaliśmy pomiary ( zmiany co 30 s ) . W końcowym etapie serii pomiarów odczytywaliśmy wartość napięcia hamującego przy którym prąd anodowy wynosił 0 nA . Poniższa tabela zawiera zależność prądu anodowego od danego napięcia hamującego Ia = f ( Uh ) ( dla różnych długości fal ) .
TABELA nr 2
λ = 400 nm |
λ = 450 nm |
λ = 500 nm |
λ = 550 nm |
λ = 600 nm |
|||||
Uh |
Ia |
Uh |
Ia |
Uh |
Ia |
Uh |
Ia |
Uh |
Ia |
V |
nA |
V |
nA |
V |
nA |
V |
nA |
V |
nA |
0,0 |
21,37 |
0,0 |
33,01 |
0,0 |
36,06 |
0,0 |
28,27 |
0,0 |
9,88 |
0,1 |
15,86 |
0,1 |
23,21 |
0,1 |
23,98 |
0,1 |
16,95 |
0,1 |
4,78 |
0,2 |
11,04 |
0,2 |
14,94 |
0,2 |
13,86 |
0,2 |
8,19 |
0,2 |
1,65 |
0,3 |
7,63 |
0,3 |
9,16 |
0,3 |
6,67 |
0,3 |
2,81 |
0,3 |
0,36 |
0,4 |
5,42 |
0,4 |
5,26 |
0,4 |
2,69 |
0,4 |
0,64 |
0,4 |
0,02 |
0,5 |
3,82 |
0,5 |
2,77 |
0,5 |
0,80 |
0,5 |
0,04 |
0,433 |
0,00 |
0,6 |
2,53 |
0,6 |
1,24 |
0,6 |
0,16 |
0,533 |
0,00 |
|
|
0,7 |
1,61 |
0,7 |
0,44 |
0,667 |
0,00 |
|
|
|
|
0,8 |
0,88 |
0,847 |
0,00 |
|
|
|
|
|
|
0,9 |
0,40 |
|
|
|
|
|
|
|
|
1,113 |
0,00 |
|
|
|
|
|
|
|
|
Na podstawie uzyskanych danych wykreśliliśmy zależność Ia = f ( ν )
Następnie wykreśliliśmy zależność Ia = f ( Uh ) dla poszczególnych długości fal .
Wykorzystując wyniki z tabeli nr 2 sporządziliśmy tabelę nr 3 , która zawiera wartości napięcia hamującego Uh0 przy którym Is = 0 .
TABELA nr 3
λ |
nm |
400 |
450 |
500 |
550 |
600 |
Uh0 |
V |
1,113 |
0,847 |
0,667 |
0,535 |
0,433 |
Korzystając z powyższych danych przy pomocy programu komputerowego obliczamy współczynniki funkcji liniowej Uh0 = aν + b .
a = 2,72 * 10-15 [ Js/C ] = [ Vs ]
b = -0,94 [ V ]
Wiedząc , że :
a = h / e
W = -b / e
możemy obliczyć stałą Plancka oraz pracę wyjścia .
h = a * e = 2,72 * 10-15 * 1,60 * 10-19 = 4,35 * 10-34 [ Js ]
W = -b / e = - ( -0,94 ) / 1,60 * 10-19 = 5,89 * 1018 [ J ] = 0,94 [ eV ]
e = 1,6 * 10-19 [ C ]
4. Podsumowanie
Otrzymany przez nas wynik odbiega od faktycznej wartości stałej Plancka wynoszącej 6,6256 * 10-34 [ Js ] . Związane jest to zapewne z niedokładnościami pomiarowymi i dokładnością aparatury pomiarowej .