Progi generalizacji1, AGH, kartografia II


Prof. dr hab. inż. Chrobak Tadeusz

Akademii Górniczo - Hutniczej

im. St. Staszica w Krakowie

Automatyzacja prezentacji krzywych upraszczanych metodą obiektywną na mapie w dowolnej skali

1. Wstęp

Proces upraszczania krzywych otwartych, zamkniętych (określających obiekty powierzchniowe), w miarę zmniejszania się skali mapy opracowywanej, cechuje ubytek punktów aż do stanu granicznego tj. usunięcia krzywej. Eliminacja ta następuje wtedy, gdy po uproszczeniu pozostają dwa punkty krzywej otwartej i nieregularnej zamkniętej lub trzy punkty krzywej zamkniętej o foremnym kształcie (np. budynki mieszkalne). W procesie upraszczania krzywych spowodowanej zmianą skali, wyróżnione etapy pośrednie prezentacji na mapie wyników po generalizacji L. Ratajski (1989) nazwał progami generalizacji.

Tematem artykułu jest określenie parametrów upraszczanych krzywych, które dla dowolnej skali mapy redagowanej określą progi generalizacji, jakimi są: upraszczanie krzywej łamanej, upraszczanie krzywej z wygładzaniem, symbolizacja, eliminacja. W uzyskaniu odpowiedzi wykorzystano: obiektywną metodę do upraszczania krzywych oraz własności statystyki matematycznej.

2. Zastosowanie statystyki matematycznej w procesie upraszczania krzywych

W procesie upraszczania krzywych obiektywną metodą (Chrobak, 2003) usuwanie punktów zależy od ich hierarchii (wynikającej z ekstremów lokalnych) oraz rozpoznawalności rysunku, a zatem czynników obiektywnych. Miarę rozpoznawalności definiujemy jako najkrótszą odległość w trójkącie elementarnym utworzonym z trzech punktów krzywej upraszczanej. W tym badaniu uczestniczą wszystkie punkty krzywej upraszczanej.

Przyjmując, że krzywa pierwotna jest odbiciem rzeczywistości, to punkty do niej należące opisują najbardziej prawdopodobną krzywą. Natomiast miarą dokładności krzywej po upraszczaniu są najkrótsze odległości Δli, i = 1,2,3... pomiędzy punktami pozostającymi a odrzucanymi. Długości te są błędami pozornymi dla oceny kształtu uproszczonej krzywej. Zgodnie z prawem przenoszenia błędów, dokładność krzywej po procesie określa średni błąd - m.upr, który ma postać:

0x01 graphic
(1)

gdzie:

0x01 graphic

Δxij = x pi - x uj,

Δyij = y pi - y uj,

n - ilość usuwanych punktów,

n -1 - ilość odcinków,

pi - punkt pozostający,

uj - punkt usuwany.

W metodzie stosowanej do upraszczania krzywych liczba punktów odrzucanych oraz błąd średni - mupr nie zależą od redaktora mapy, stąd wynik procesu zachowuje własności rozkładu statystycznego. Gęstość rozkładu, określa wartość oczekiwana- E(X) oraz rozrzut statystyczny wyników, jakim jest odchylenie standardowe, rys. 1. W upraszczaniu krzywych (otwartych, zamkniętych) wartość oczekiwana określają liczby punktów uporządkowanych opisujących jej kształt po generalizacji. Miarę rozrzutu statystycznego definiuje odchylenie standardowe- σ (błąd średni procesu upraszczania krzywej) rys. 1.

0x08 graphic
0x08 graphic
f(x) f(u)

0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
x

u (u)

μ - 3σ μ - 2σ μ - σ μ + σ μ + 2σ μ + 3σ

Rys. 1 Funkcja gęstości rozkładu normalnego f(x) lub unormowanego f(u)

Zgodnie z interpretacją rozkładu statystycznego normalnego, prawdopodobieństwo uzyskania wartości zmiennej losowej X z niepewnością odpowiadającą 1σ (średniego błędu - mupr) wynosi 68%. Prawdopodobieństwo uzyskania wartości zmiennej losowej X z podwójnym odchyleniem 2σ wynosi 90% a potrójnym 3σ odpowiednio 95%.

Tak, więc wartość oczekiwana zmiennej losowej - E(X) (określonej przez liczby punktów: n0 - krzywej pierwotnej, ni - krzywej po generalizacji, c - punktów niezmienników procesu) oraz σ - odchylenie standardowe to parametry wyboru metody prezentacji kartograficznej krzywych otwartych i zamkniętych upraszczanych metodą Chrobaka, gdy zmienia się skala mapy.

3. Parametry określające progi upraszczania krzywych prezentowanych na mapie

Progi generalizacji dla upraszczanych krzywych otwartych i zamkniętych, określa zależność:

0x01 graphic

gdzie:

n0 - liczba punktów krzywej pierwotnej,

ni - liczba punktów po generalizacji,

c - liczba punktów niezmienników procesu,

k - współczynnik przyjmujący wartości 1,2,3,

1σ - odchylenie standardowe z prawdopodobieństwem równym 68 %,

2σ - odchylenie standardowe z prawdopodobieństwem równym 90 %,

3σ - odchylenie standardowe z prawdopodobieństwem równym 95 %.

Z wzoru (4) wynikają progi generalizacji krzywych:

Przyjęty dla równania (2) przedział ogranicza liczbę punktów krzywych po generalizacji, które zachowują kształt krzywej pierwotnej (przy k=1) z dokładnością określoną normą branżową GUGiK:

0x01 graphic
0x01 graphic
[mm] (3)

gdzie:

M00 - mianownik skali.

Obiektywna metoda upraszczania krzywych spełnia warunek równania (3), gdyż długość najkrótszego bok trójkąta rozpoznawalności rysunku przyjmuje wartości 0,5-0,6 M.00.

Przykłady

W upraszczaniu krzywych metodą obiektywna oprócz usuwania dodawane są nowe punkty, aby w przekształcanej krzywej zachować podobieństwo do jej kształtu pierwotnego. Dodawanie nowych punktów obejmuje skończony rostęp szeregu skal w bliskim sąsiedztwie skali źródłowej, rys. 2 .

0x08 graphic
n

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic

upraszczanie

0x08 graphic
wygładzanie krzywe otwarte

eliminacja

0x08 graphic
0x08 graphic
symbolizacja

0x08 graphic

1 M1 M2 M3 [Mianownik skali]

krzywe zamknięte

Rys.1 Usuwanie punktów gdy zmniejsza się skala mapy

Uzyskane rezultaty zmiany liczby punktów - n od mianownika skali M. na skutek upraszczania krzywych dowolnych metodą obiektywną porównano z progami generalizacji określonych równaniem (2). Otrzymane rezultaty: Tab. Tab.1, 2 wykazują zgodność skal o maksymalnie dodanej liczbie punktów z progiem generalizacji określonym równaniem (2). Dowodzi to, że odchylenie standardowe jest miarą niezbędną przy określaniu progów generalizacji (dla krzywych upraszczanych metodą obiektywną), gdy zmniejsza się skala mapy.

Tab.1

l.p

Skala

n0/c

Punkty dodane

Punkty

odjęte

ni

k=1

min

k=2

min

k=3

min

Próg

gen

1

2

3

4

5

6

7

8

9

1

1:1000

133/16

0

0

133

20

1: 2000

1

1

133

20

1: 3000

1

1

133

20

1: 4000

2

2

133

20

1: 5000

16

52

97

7

1

1: 6000

12

72

73

33

1:7000

5

83

55

19

1:8000

1

92

42

10

1:9000

0

94

39

7

1:10000

1

105

29

0

0

2

1:25000

16

c = ni

nie

1:50000

16

c = ni

nie

1:100000

16

c = ni

nie

2

1:1000

157/16

0

0

157

22

1: 2000

0

0

157

22

1: 3000

0

0

157

22

1: 4000

6

6

157

21

1: 5000

40

74

123

0

1

1: 6000

13

90

80

-25

31

1:7000

2

94

65

15

1:8000

3

112

48

10

1:9000

0

112

45

8

1:10000

1

121

37

3

2

1:25000

0

141

16

c = ni

nie

1:50000

0

141

16

c = ni

nie

1:100000

0

141

16

c = ni

nie

Tab. 2

l.p

Skala

n0/c

Punkty dodane

Punkty

odjęte

ni

k=1

min

k=2

min

k=3

min

Próg

gen.

1

2

3

4

5

6

7

8

9

5

1:1000

157/16

0

0

157

22

1: 2000

0

0

157

22

1: 3000

0

0

157

22

1: 4000

6

6

157

21

1: 5000

40

74

123

0

1

1: 6000

13

90

80

-25

31

1:7000

2

94

65

13

1:8000

3

112

48

10

1:9000

0

112

45

8

1:10000

1

121

37

3

2

1:25000

0

141

16

c = ni

nie

1:50000

0

141

16

c = ni

nie

1:100000

0

141

16

c = ni

nie

6

1:1000

155/20

0

0

155

1: 2000

0

0

155

1: 3000

0

0

155

1: 4000

0

0

155

1:5000

37

58

134

5

tak

1: 6000

21

87

89

24

nie

1: 7000

0

87

68

1: 8000

0

109

46

1: 9000

0

109

46

1: 10000

1

117

39

2

tak

1: 25000

0

135

20

c = ni

nie

1: 50000

0

135

20

c = ni

nie

1:100000

0

135

20

c = ni

nie

Wnioski:

  1. Metodą opartą na statystyce matematycznej można określić progi generalizacji dla krzywych otwartych i zamkniętych upraszczanych metodą obiektywną.

2 Zgodność skal progów generalizacji z skalą o maksymalnej liczbie punktów dodanych w przedziale σ=1, dowodzi o poprawności określania progu, gdyż dodane punkty służą do uzyskania optymalnej zgodności po generalizacji krzywej z jej kształtem pierwotnym.

Literatura:

Chrobak T The method of curve simplification in case of map scale alteration

10 International Conference, GI/GIT Theory and Practice Bring them Together, Ostrawa, 27-29.01.03

Szydłowski H Teoria pomiarów , PWN Warszawa 1991.

Ratajski L. Metodyka kartografii społeczno - gospodarczej. Warszawa - PPWK 1989



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
pytania do egzaminu cz 2, AGH, kartografia II
Karto, Studia Inżynierskie - Geodezja AGH, Kartografia, Semestr II, Egzamin
Progi generalizacji1, kartografia wykłady
Wyznaczenie długości pionowego odcinka niedostępnego - obliczenia, Studia, AGH, Rok II, geodezja II,
Decyzja w-z, Geodezja i Kartografia, II rok, PPPiPU
Lepkość-sciaga, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, laborki,
koszulka karto, AGH, Kartografia I, temat 1
Nr ćwiczenia5 moje, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, labor
[4]tabelka, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, laborki, labo
[8]konspekt new, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, laborki,
FIZYK~47, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, laborki, Fizyka
3 W LEPKO CIECZY, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, labor
[3]opracowanie v1.0, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, labo
kospekt12, Elektrotechnika AGH, Semestr II letni 2012-2013, Fizyka II - Laboratorium, 12 Wyznaczanie

więcej podobnych podstron