Politechnika Śląska
Wydział Automatyki Elektroniki i Informatyki
Kier. Informatyka
grupa IV
TEMAT : WYZNACZANIE SZEROKOŚCI PRZERWY ENERGETYCZNEJ PÓŁPRZEWODNIKA METODĄ TERMICZNĄ (TERMISTOR)
Aleksander Biela
Marcin Bury
Wstęp teoretyczny:
Przewodnictwo elektryczne półprzewodników związane jest z ruchem elektronów w paśmie przewodnictwa oraz dziur w paśmie walencyjnym. W bardzo niskich temperaturach pasmo przewodnictwa nie zawiera elektronów, zaś pasmo walencyjne jest nimi całkowicie zapełniane. W półprzewodnikach już w temperaturze pokojowej przechodzi do pasmo przewodnictwa pewna część elektronów. Proces pojawiania się elektronów w paśmie walencyjnym pod wpływem wzrostu temperatury nosi nazwę generacji termicznej par dziura-elektron.
Przerwa energetyczna jest to odstęp pomiędzy pasmem przewodnictwa, a pasmem walencyjnym. Szerokość tej przerwy oznacza minimalną ilość energii, która musi być dostarczona elektronom, aby przeszły one do pasma przewodnictwa.
W półprzewodnikach przerwa energetyczna jest względnie mała(mniejsza niż 2[eV]), w związku z czym istnieje szansa przeskoku elektronów do pasma przewodnictwa na skutek wzbudzeń cieplnych.
Stanowisko pomiarowe:
W układzie pomiarowym materiał półprzewodnika obecny jest w termistorze. Stanowisko składa się z dwóch termistorów umieszczonych w aluminiowym bloczku, wyznacza się szerokość przerwy dla każdego z termistorów osobno. Bloczek aluminiowy jest podgrzewany przy pomocy tranzystora bipolarnego. Natężenie prądu płynącego przez tranzystor regulowane jest przy pomocy potencjometru. Do pomiaru temperatury wykorzystano czujnik temperatury połączony z miernikiem cyfrowym. Oporność termistorów są mierzone za pomocą mierników cyfrowych.
Przebieg ćwiczenia:
Ustalenie z Prowadzącym temperatury granicznej ogrzewania termistorów oraz krok temperaturowy z jakim będą wykonywane pomiary.
Zmierzenie oporności termistorów w zastanej temperaturze.
OGRZEWANIE TERMISTORÓW
Ustawianie przy pomocy potencjometru żądanej temperatury.
Odczekanie aż temperatura bloczka osiągnie żądaną temperaturę.
Odczytanie oporności obu termistorów.
Przeprowadzenie podobnych pomiarów dla wyższych temperatury
CHOODZENIE BLOCZKA
Ustawienie przy pomocy potencjometru temperaturę równą zastanej temperaturze.
temperaturze miarę samorzutnego ochładzania się aluminiowego bloczka zanotowano oporność termistorów z zadanym krokiem temperatury.
OGRZEWANIE TERMISTORÓW |
||
T(°C) |
R1(kΩ) |
R2(kΩ) |
24,3 |
21,77 |
28,7 |
30 |
16,85 |
25,3 |
32 |
15,37 |
23 |
34 |
13,72 |
20,5 |
36 |
12,58 |
18,8 |
38 |
11,59 |
17,4 |
40 |
10,63 |
15,9 |
42 |
9,72 |
14,5 |
44 |
9 |
13,5 |
46 |
8,33 |
12,4 |
48 |
7,7 |
11,3 |
50 |
6,97 |
10,9 |
52 |
6,48 |
9,6 |
54 |
5,92 |
8,9 |
56 |
5,55 |
8,2 |
58 |
5,13 |
7,5 |
60 |
4,68 |
7 |
62 |
4,37 |
6,4 |
64 |
3,98 |
5,9 |
66 |
3,71 |
5,5 |
68 |
3,542 |
5,1 |
70 |
3,229 |
4,7 |
CHŁODZENIE TERMISTORÓW |
||
T(°C) |
R1(kΩ) |
R2(kΩ) |
70 |
3,229 |
4,7 |
68 |
3,5 |
5,2 |
66 |
3,84 |
5,6 |
64 |
4,13 |
6 |
62 |
4,45 |
6,6 |
60 |
4,81 |
7,1 |
58 |
5,17 |
7,6 |
56 |
5,62 |
8,3 |
Opracowanie wyników:
Na podstawie otrzymanych wyników pomiarowych sporządzono wykres zależności oporu R od temperatury T dla obu termistorów.
Słupki błędu zaznaczono za pomocą:
u(T)= 0,1 °C (dane przyrządu)
gdzie:
W - zmierzona wartość
C - rozdzielczość (1Ω dla R < 4 kΩ, 10 kΩ dla 4 Ω<R<40 kΩ)
OGRZEWANIE TERMISTORÓW |
CHŁODZENIE TERMISTORÓW |
||||||
R1(kΩ) |
ΔsR1 |
R2(kΩ) |
ΔsR2 |
R1(kΩ) |
ΔsR1 |
R2(kΩ) |
ΔsR2 |
21,77 |
0,25416 |
29 |
0,312 |
3,229 |
0,105832 |
4,7 |
0,1176 |
16,85 |
0,2148 |
25,3 |
0,2824 |
3,5 |
0,1216 |
5,2 |
0,1216 |
15,37 |
0,20296 |
23 |
0,264 |
3,84 |
0,1248 |
5,6 |
0,1248 |
13,72 |
0,18976 |
20,5 |
0,244 |
4,13 |
0,128 |
6 |
0,128 |
12,58 |
0,18064 |
18,8 |
0,2304 |
4,45 |
0,1328 |
6,6 |
0,1328 |
11,59 |
0,17272 |
17,4 |
0,2192 |
4,81 |
0,1368 |
7,1 |
0,1368 |
10,63 |
0,16504 |
15,9 |
0,2072 |
5,17 |
0,1408 |
7,6 |
0,1408 |
9,72 |
0,15776 |
14,5 |
0,196 |
5,62 |
0,1464 |
8,3 |
0,1464 |
9 |
0,152 |
13,5 |
0,188 |
||||
8,33 |
0,14664 |
12,4 |
0,1792 |
||||
7,7 |
0,1416 |
11,3 |
0,1704 |
||||
6,97 |
0,13576 |
10,9 |
0,1672 |
||||
6,48 |
0,13184 |
9,6 |
0,1568 |
||||
5,92 |
0,12736 |
8,9 |
0,1512 |
||||
5,55 |
0,1244 |
8,2 |
0,1456 |
||||
5,13 |
0,12104 |
7,5 |
0,14 |
||||
4,68 |
0,11744 |
7 |
0,136 |
||||
4,37 |
0,11496 |
6,4 |
0,1312 |
||||
3,98 |
0,11184 |
5,9 |
0,1272 |
||||
3,71 |
0,10968 |
5,5 |
0,124 |
||||
3,542 |
0,108336 |
5,1 |
0,1208 |
||||
3,229 |
0,105832 |
4,7 |
0,1176 |
Wykres zależności logarytmu naturalnego oporności od odwrotności temperatury.
lnR=f(1/T)
OGRZEWANIE TERMISTORÓW |
|||||
1/T |
T(K) |
R1(kΩ) |
lnR1 |
R2(kΩ) |
ln R2 |
0,00336191 |
297,45 |
21,77 |
3,080533 |
29 |
3,367296 |
0,003298697 |
303,15 |
16,85 |
2,824351 |
25,3 |
3,230804 |
0,003277077 |
305,15 |
15,37 |
2,732418 |
23 |
3,135494 |
0,003255738 |
307,15 |
13,72 |
2,618855 |
20,5 |
3,020425 |
0,003234676 |
309,15 |
12,58 |
2,532108 |
18,8 |
2,933857 |
0,003213884 |
311,15 |
11,59 |
2,450143 |
17,4 |
2,85647 |
0,003193358 |
313,15 |
10,63 |
2,36368 |
15,9 |
2,766319 |
0,003173092 |
315,15 |
9,72 |
2,274186 |
14,5 |
2,674149 |
0,003153082 |
317,15 |
9 |
2,197225 |
13,5 |
2,60269 |
0,003133323 |
319,15 |
8,33 |
2,119863 |
12,4 |
2,517696 |
0,00311381 |
321,15 |
7,7 |
2,04122 |
11,3 |
2,424803 |
0,003094538 |
323,15 |
6,97 |
1,941615 |
10,9 |
2,388763 |
0,003075504 |
325,15 |
6,48 |
1,868721 |
9,6 |
2,261763 |
0,003056702 |
327,15 |
5,92 |
1,778336 |
8,9 |
2,186051 |
0,003038129 |
329,15 |
5,55 |
1,713798 |
8,2 |
2,104134 |
0,00301978 |
331,15 |
5,13 |
1,635106 |
7,5 |
2,014903 |
0,003001651 |
333,15 |
4,68 |
1,543298 |
7 |
1,94591 |
0,002983739 |
335,15 |
4,37 |
1,474763 |
6,4 |
1,856298 |
0,002966039 |
337,15 |
3,98 |
1,381282 |
5,9 |
1,774952 |
0,002948548 |
339,15 |
3,71 |
1,311032 |
5,5 |
1,704748 |
0,002931262 |
341,15 |
3,542 |
1,264692 |
5,1 |
1,629241 |
0,002914177 |
343,15 |
3,229 |
1,172172 |
4,7 |
1,547563 |
CHŁODZENIE TERMISTORÓW |
|||||
1/T |
T(K) |
R1(kΩ) |
lnR1 |
R2(kΩ) |
ln R2 |
0,002914177 |
343,15 |
3,229 |
1,172172 |
4,7 |
1,547563 |
0,002931262 |
341,15 |
3,5 |
1,252763 |
5,2 |
1,648659 |
0,002948548 |
339,15 |
3,84 |
1,345472 |
5,6 |
1,722767 |
0,002966039 |
337,15 |
4,13 |
1,418277 |
6 |
1,791759 |
0,002983739 |
335,15 |
4,45 |
1,492904 |
6,6 |
1,88707 |
0,003001651 |
333,15 |
4,81 |
1,570697 |
7,1 |
1,960095 |
0,00301978 |
331,15 |
5,17 |
1,642873 |
7,6 |
2,028148 |
0,003038129 |
329,15 |
5,62 |
1,726332 |
8,3 |
2,116256 |
Metodą regresji liniowej dopasowano prostą do punktów pomiarowych:
dla ogrzewania termistorów:
Pierwszy termistor:
y = 4144,3x - 10,931
Drugi termistor:
y = 3747,4x - 9,1805
dla chłodzenia termistorów:
Pierwszy termistor:
y = 4111,5x - 10,814
Drugi termistor:
y = 3755,8x - 9,2083
Na podstawie parametrów prostej wyznaczono szerokość przerwy energetycznej dla obu termistorów:
gdzie:
a - współczynnik kierunkowy wykresu zależności ln R od 1/T
k - stała Boltzmanna (1,38∙10-23)
Dla ogrzania termistorów:
Pierwszy termistor:
Drugi termistor:
Dal chłodzenia termistorów:
Pierwszy termistor:
Drugi termistor:
TERMISTOR 1 |
TERMISTOR 2 |
||
OGRZEWANIE |
CHŁODZENIE |
OGRZEWANIE |
CHŁODZENIE |
|
|
|
|
Korzystając z prawa propagacji niepewności obliczono niepewność u(E) dla obu termistorów. Wartość u(a) odczytano i podzielono przez √3 w programie Microsoft Excel.
TERMISTOR1 |
TERMISTOR 2 |
||
ogrzewanie |
ochładzanie |
ogrzewanie |
ochładzanie |
|
|
|
|
|
|
|
|
Do obliczeń średniej ważonej wykorzystano wzór:
TERMISTOR1 |
TERMISTOR 2 |
||
ogrzewanie |
ochładzanie |
ogrzewanie |
ochładzanie |
|
|
|
|
|
|
Ostatecznie szerokość przerwy energetycznej wyniosła:
TERMISTOR 1: E=0,71(22)[eV]
TERMISTOR 2: E=0,65(13)[eV]
Wnioski:
Ćwiczenie miało na celu wyznaczenie szerokość przerwy energetycznej termistorów.
Z obliczeń można zauważyć, że termistory nie są jednakowe, gdyż posiadają różne szerokość przerwy energetycznej. Porównując otrzymane wyniki z tablicowymi, możliwe, że w TERMISTORZE 1 użyto antymonku galu jako materiału półprzewodnikowego, którego E=0,726[eV]. Natomiast w TERMISTORZE 2 materiałem półprzewodnikowym jest german, którego E=0,67[eV].Błędy, które powstały w trakcie wykonywania ćwiczenia wynikają z niedokładności przyrządów pomiarowych, niedokładności odczytu oraz możliwej utracie właściwości fizycznych jak i chemicznych pod upływem czasu badanych materiałów półprzewodnikowych.