CZUJNIKI TENSOMETRYCZNE, Studia, Metrologia


CZUJNIKI TENSOMETRYCZNE - BUDOWA I ZASTOSOWANIE

Efekt tensometryczny w przewodnikach i półprzewodnikach

Oddziaływanie naprężeń mechanicznych na elementy rezystancyjne z metalu lub półprzewodnika, w postaci cienkich drutów, folii bądź cienkich nici powoduje zmianę ich wymiarów geometrycznych lub rezystywności, a odpowiednio do tego - rezystancji. Efekt ten, nazywany tensometrycznym, znalazł praktyczne zastosowanie do pomiaru odkształceń, a pośrednio do pomiarów sił, momentów zginających, skręcających, ciśnienia itd.

0x01 graphic

Rezystancja przewodnika określona zależnością

0x01 graphic

poddanego działaniu siły F zmienia się wskutek :

Czujniki wykorzystujące powyższy efekt nazywamy tensometrami. W tensometrach metalowych wykorzystuje się zakres liniowej zmiany naprężenia

0x01 graphic

w funkcji wydłużenia względnego

0x01 graphic

który jest charakteryzowany modułem sprężystości wzdłużnej (modułem Younga):

0x01 graphic

Wydłużenie względne jest wielkością bezwymiarową wyrażaną

w promilach (‰) lub w jednostce umownej

- mikrodeformacji (μD), odpowiadającej ε = 10-6 . Zakres wydłużeń względnych dla sprężystych deformacji sięga (3.5 - 4)103μD.

Rezystywność przewodnika ulega zmianie w wyniku deformacji sieci krystalicznej pod wpływem naprężeń wewnętrznych. Zmieniają się odległości pomiędzy atomami i cząsteczkami w sieci krystalicznej, zmienia się średnia droga swobodnych elektronów oraz średnia prędkość elektronów. Pod wpływem siły zewnętrznej rezystancja przewodu o Δρ > 0 jest równa:

0x01 graphic

Po zlogarytmowaniu i zróżniczkowaniu powyższej zależności otrzymano

0x01 graphic

Zgodnie z prawem Hooka, w zakresie odkształceń sprężystych

0x01 graphic

gdzie:

a - współczynnik elastorezystywności (dla metali bliski zeru),

ν - stała Poissona (ν=0.3 - 0.45).

Stąd

0x01 graphic

gdzie:

kt - współczynnik względnej czułości odkształceniowej przewodnika równy

0x01 graphic

Współczynnik kt określony powyższą zależnością nie jest równoznaczny ze współczynnikiem względnej czułości odkształceniowej tensometrów (stałej tensometru) przeznaczonych do pomiaru np. sił, momentów lub ciśnień. Powodem rozbieżności obu współczynników są cechy konstrukcyjne tensometrów. W zakresie sprężystych deformacji wartość współczynnika kt jest różna dla różnych przewodników. Przykładowo, dla manganinu zawiera się w granicach 0.47  0.5; dla konstantanu 1 - 2.1; dla niklu -12.1 - 2.5; dla platyny 2.4 - 6.1. W przewodnikach zmiana rezystancji jest spowodowana głównie zmianą wymiarów geometrycznych. Wpływ zmian rezystywności jest znacznie mniejszy, co wynika z faktu, że pasma przewodnictwa i podstawowe w modelu pasmowym przewodnika częściowo pokrywają się. Natomiast dla półprzewodników samoistnych pomiędzy tymi pasmami istnieje przerwa energetyczna co ogranicza przejście elektronów z pasma podstawowego do pasma przewodnictwa. Domieszkowanie półprzewodników powoduje zwiększenie koncentracji elektronów i dziur. W wyniku działania sił następuje deformacja sieci krystalicznej, co w końcowym efekcie powoduje zmianę koncentracji nośników w paśmie przewodnictwa. Całkowita zmiana rezystancji półprzewodnika pod wpływem działania naprężeń, uwzględniająca zmianę wymiarów geometrycznych jest równa

0x01 graphic

gdzie:

p - stała piezorezystywności półprzewodnika zależna od typu półprzewodnika, jego rezystywności i kierunku działania naprężenia względem osi krystalicznych; dla germanu z domieszką typu n o rezystywności 1.5 Ωcm stała piezorezystywności wynosi 95.10-7 cm2/N, natomiast dla krzemu z domieszką typu p o rezystywności 7.8 Ωcm wynosi 93.10-7 cm2/N. Uwzględniając, że dla półprzewodników pE>>2ν, otrzymano prostą zależność 0x01 graphic

Wartość współczynnika kt dla półprzewodników wynosi od 40 do 300 lub więcej, przy czym zależy ona do rodzaju półprzewodnika, koncentracji domieszek, temperatury pracy, orientacji osi krystalicznych itd.. Wadą półprzewodników ograniczającą możliwość ich zastosowania jest silna zależność od temperatury. Zależność tą można minimalizować stosując konstrukcję tzw. przetworników zintegrowanych, gdzie na jednej wspólnej płytce krzemowej umieszczane są czujniki tensometryczne i układy korekcji wpływu temperatury. Tak wykonane rezystory noszą nazwę piezorezystorów i są powszechnie stosowane w konstrukcji przetworników ciśnienia.

Konstrukcja czujników tensometrycznych

Czujniki tensometryczne (tensometry) metalowe wykonywane są najczęściej z konstantanu (kt=2.1), nichromu (kt=2.1) i elinwaru (kt=3.6). Natomiast tensometry półprzewodnikowe wykonywane są z germanu z domieszkami typu n i p oraz krzemu z domieszkami typu n (kt = -100 - 300). Wartości rezystancji tensometrów są znormalizowane i zawierają się w granicach 120 - 1000 Ω dla tensometrów metalowych i 10 - 100000 Ω dla tensometrów półprzewodnikowych. Maksymalny zakres bezpośrednio mierzonych odkształceń dla tensometrów metalowych i półprzewodnikowych wynosi  5‰. Liniowość charakterystyki przetwarzania tensometrów metalowych wynosi 0.1 % (ε< 4 ‰) i 1 % (ε < 10 ‰). Natomiast dla tensometrów półprzewodnikowych jest ona równa 1 % (ε < 1 ‰). Istotnym parametrem charakteryzującym tensometry jest współczynnik temperaturowy rezystancji (αR) i współczynnik temperaturowy

czułości odkształcenia (αk). Przykładowo dla tensometrów drutowych

αR = -3.9.10-6...6.10-3 i αk = 5.10-6 , a dla tensometrów półprzewodnikowych αR = 6.10-4...3.10-3 i αk = 6.10-5...3.3. 10-3 .

Kształty i wymiary tensometrów zależą od typu (drutowe, foliowe) i od ich przeznaczenia. Na rysunku poniżej przedstawiono wybrane kształty tensometrów przeznaczonych do pomiaru sił.

0x01 graphic

Długość bazy pomiarowej tensometrów wynosi do 150 mm dla tensometrów metalowych i do 20 mm dla tensometrów półprzewodnikowych. Siła nie działa bezpośrednio na tensometr, a na element metalowy, który decyduje o zakresie przetwarzania.

0x01 graphic

Na rys.8.3 przedstawiono dwa najprostsze sposoby zamocowania tensometrów przy pomiarach sił.

Tensometry są przyklejane odpowiednimi klejami do ścianek takiego elementu, który pod wpływem sił ulega deformacji. Deformacje te, rozciąganie lub ściskanie, zostają przenoszone na tensometr.

Ilość naklejanych tensometrów związana jest z pomiarem naprężeń wzdłużnych i poprzecznych oraz kompensacją błędów temperaturowych. W obu przypadkach występują tensometry, na które działają naprężenia rozciągające (Tk - rys.8.3.a, Tr - rys.8.3.b) i ściskające (Tp - rys.8.3.a, Ts - rys.8.3.b).

Układy pomiarowe z tensometrami

Względne zmiany rezystancji tensometrów spowodowane zmianą naprężeń dla tensometrów metalowych są rzędu 10-3 ... 10-4. Tak małe zmiany rezystancji można mierzyć z wystarczającą dokładnością w układzie mostkowym (mostek Wheatstone'a). Stąd wynika powszechność stosowania tych układów w konstrukcji tensometrycznych przetworników siły, momentów, ciśnienia itd.

0x01 graphic

Klasyczne układy mostkowe są układami zrównoważonymi. Oznacza to, że wyznaczenie wartości jednego rezystora wymaga odpowiedniego doboru nastaw wartości rezystancji pozostałych rezystorów występujących w mostku tak, aby prąd w przekątnej mostka (Ig) wyrażony zależnością

0x01 graphic

był równy zero. Wówczas mierzona np. rezystancja RX jest równa

0x01 graphic

W przypadku zastosowania układu mostkowego w pomiarach tensometrycznych mamy do czynienia z układami niezrównoważonymi. Włączenie jednego, dwóch lub czterech jednakowych tensometrów w miejsce rezystancji mostka powoduje, że prąd Ig=0 (UCD=0). Jeżeli na tensometry będą działać odpowiednie naprężenia, to wówczas prąd lub napięcie przekątnej mostka będzie różne od zera. Na podstawie zależności

Na prąd przekątnej mostka można zauważyć, że zwiększenie czułości mostka, czyli zwiększenie wartości prądu lub napięcia nastąpi wówczas, gdy będą zachowane odpowiednie kierunki zmian wartości rezystancji rezystorów mostka. Na rysunkach poniżej przedstawiono trzy przypadki włączenia tensometrów w układ mostka (na rysunku szare rezystory).

0x01 graphic

Przypadek przedstawiony na rysunku a). jest praktycznie nie stosowany, gdyż charakteryzuje się najniższą czułością względną (S=0.25), dużą


nieliniowością charakterystyki przetwarzania i brakiem kompensacji wpływu temperatury na rezystancję tensometru. Układ ten jest znany w literaturze jako układ ćwierćmostka.

0x01 graphic

Rysunek b). Przedstawia jeden z przypadków układu półmostka. Występujące w nim tensometry charakteryzują się tym, że na każdy z nich działają naprężenia o przeciwnych kierunkach (np. ściskanie i rozciąganie). Układ taki charakteryzuje się dwukrotnie większą czułością względną (S=0.5), mniejszą nieliniowością oraz kompensacją wpływu temperatury na rezystancję tensometru.

0x01 graphic

Układ trzeci (rysunek c).) jest układem o największej wartości czułości względnej (S=1). W układzie tym występują dwa tensometry o dodatnim kierunku zmian rezystancji i dwa o ujemnym kierunku zmian rezystancji. Układ pełnego mostka zapewnia również kompensacją wpływu temperatury na rezystancję tensometru. Każdy z tych mostków może być zasilany napięciem stałym, napięciem przemiennym (sinusoidalnym) lub przebiegiem impulsowym.

LABORATORYJNE POMIARY TENSOMETRYCZNE

  1. Belka prostokątna jako przetwornik siły

Na rysunku poniżej przedstawiono belkę o kształcie prostokątnym z naklejonymi czterema tensometrami i przytwierdzoną do pionowej podstawy (np. ściany).

0x08 graphic

Rysunek górny - rzut z góry, rysunek dolny - rzut boczny.

Jeżeli na końcu belki przyłożymy siłę F to belka ta staje się przetwornikiem siły. Odkształcenia tensometrów wzdłużnych T1 i T2 są proporcjonalne do siły F. Jeżeli siła F będzie pochodziła od powieszonego na końcu belki ciężarka o masie M to taką belkę możemy traktować jak wagę.

Związek pomiędzy siłą rozciągającą belkę Fn a względnym wydłużeniem ε1n belki, które przyjmujemy za tożsame z wydłużeniem (skróceniem) tensometrów wzdłużnych, jest następujący:

0x01 graphic

gdzie : L - jest odległością umiejscowienia tensometru od punktu przyłożenia siły; tutaj L = l1

b0 - jest szerokością belki w miejscu przyklejenia tensometru; tutaj b0 = b

Wartość modułu Younga E przyjmujemy jako: 0x01 graphic
.

Jeżeli siła Fn pochodzi od zawieszonej na końcu belki masy mn to wartość siły uginającej belkę wynosi 0x01 graphic
[N], gdy masa wyrażona jest w kilogramach masy.

b. Wyznaczenie stałej k tensometrów poprzez wyznaczenie odkształcenia 0x01 graphic
belki i pomiar 0x01 graphic
metodą zerową.

Stałą (czułość odkształceniową) k tensometru wyznacza się ze wzoru definicyjnego

0x01 graphic

Wartość 0x01 graphic
wyznacza się w układzie jak na rysunku poniżej wykorzystując belkę z dwoma tensometrami wzdłużnymi.

0x08 graphic

Po zmontowaniu układu nastawiamy wstępnie: 0x01 graphic
, 0x01 graphic
. Belka nie jest obciążona. Po załączeniu zasilania równoważymy układ zgodnie z zasadami obowiązującymi dla mostków prądu stałego. Dla mostka w stanie równowagi przy belce nieobciążonej otrzymujemy wartości rezystancji oporników dekadowych 0x01 graphic
i 0x01 graphic
. Po obciążeniu belki (poprzez ugięcie jej np. za pomocą zawieszenia na końcu belki znanej masy) równoważymy mostek ponownie i otrzymujemy nowe wartości 0x01 graphic
i 0x01 graphic
.

Wartość 0x01 graphic
gałęzi regulacyjnej mostka oblicza się z zależności

0x01 graphic

gdzie:

0x01 graphic

0x01 graphic

Jednocześnie 0x01 graphic
na powierzchni belki wyraża się zależnością

0x01 graphic

wartość modułu Younga E stalowej belki przyjmujemy jako0x01 graphic
.

wartość siły uginającej belkę wynosi 0x01 graphic
[N], gdy masa wyrażona jest w kilogramach masy.

h - grubość belki

b - szerokość belki

l1 - długość ramienia działającej siły Fg

mwz - masa wzorcowa

Ponieważ 0x01 graphic
występujące w ramieniu regulacyjnym mostka równoważy względne zmiany rezystancji obydwu tensometrów, przy czym zakładamy, że są one identyczne, zależność definicyjna przyjmie postać

0x01 graphic

c. Pomiar nieznanej masy poprzez pomiar siły zginającej belkę i pomiar εR

Nieznaną masę mn zawieszamy na końcu belki z tensometrami (przetwornika siły). Wartość siły Fn pochodzącej od zawieszonej na końcu belki masy mn i uginającej belkę wynosi: 0x01 graphic
[N], (gdy masa wyrażona jest w kilogramach masy).

W metodzie zerowej pomiaru masy mn równoważymy mostek dwukrotnie: przy belce nieobciążonej i obciążonej nieznanym ciężarem. Po ponownym zrównoważeniu, z nastaw Rr i Rs obliczamy wartość 0x01 graphic
dla n-tego ciężaru

0x01 graphic

Stąd na podstawie wzorów na belkę jako przetwornik siły otrzymujemy wartość mierzonej masy

0x01 graphic

d. Pomiar nieznanej masy metodą wychyłową poprzez skalowanie znaną masą

Przy pomiarze nieznanej masy metodą wychyłową w oparciu o skalowanie znaną masą postępowanie jest następujące:

  1. równoważymy mostek dla belki nieobciążonej

  2. przeprowadzamy skalowanie układu, obciążając belkę znaną masą mwz mierzymy napięcie na przekątnej mostka za pomocą miernika HP34401A (precyzyjny woltomierz cyfrowy), wyznaczamy czułość układu

0x01 graphic

  1. w miejsce masy skalującej mwz, po ponownym zrównoważeniu mostka, obciążamy belkę ciężarkiem o nieznanej masie mn, przy czym uzyskujemy wskazanie woltomierza Un,

  2. wyliczamy wartości poszukiwanych mas

0x01 graphic

e. błędy statycznych pomiarów tensometrycznych

Błędy statycznych mostkowych pomiarów tensometrycznych wyznacza się podobnie jak w innych pomiarach złożonych: metodą różniczki zupełnej jako względny błąd graniczny pomiaru. Błąd pomiaru εR wyznacza się klas dokładności rezystancji wzorcowych i nastawnych rezystancji dekadowych występujących w mostku tensometrycznym. Błąd pomiaru εl wyznacza się z granicznych błędów wielkości występujących we wzorze na przetwornik siły (naprężeń). Przykładowo:

błąd graniczny wyznaczenia εl wynosi:

0x01 graphic
,

a błąd graniczny pomiaru masy metodą zerową wynosi:

0x01 graphic

f. tensometryczne pomiary dynamiczne

Przemysłowe pomiary tensometryczne dynamicznych zmian naprężeń, sił lub ciśnień realizowane są przy pomocy specjalistycznej aparatury - mostków tensometrycznych. Są to układy rezystancyjnych mostków zmiennoprądowych pracujących z układami modulacji amplitudy.

2



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Program-3, Studia, Metrologia
MIERNIK ELEKTRODYNAMICZNY, Studia, Metrologia
Program-4, Studia, Metrologia
WATOMIERZ, Studia, Metrologia
Jednomodowe czujniki interferencyjne, Studia, sprawozdania, sprawozdania od cewki 2, Dok 2, Dok 2, P
KARTA POMIARÓW, studia, Metrologia, 2
Program-2, Studia, Metrologia
chropowatość, Studia, metrologia
Pomiary wewnętrzne, Studia, metrologia
Metrologia Wzór Tabeli, studia, Metrologia, 2
Kontrola wymiarów wewnętrznych, Studia, metrologia
ProgramWykładuMetrologia, Studia, Metrologia
PodręcznikiWykład, Studia, Metrologia
metrologia gotowiec z kolokwium, Studia, Metrologia
ProgramLaboratorium2006, Studia, Metrologia
RegulaminLaboratorium2007, Studia, Metrologia
BŁĘDY, Studia, Metrologia
Program-8, Studia, Metrologia
METROLOGIA-Wstęp, Studia, Metrologia

więcej podobnych podstron